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onsemi碳化硅MOSFET:NTH4L070N120M3S技術(shù)解析

lhl545545 ? 2026-05-08 14:10 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET:NTH4L070N120M3S技術(shù)解析

在電子工程領(lǐng)域,功率半導(dǎo)體器件的性能對眾多應(yīng)用的效率和可靠性起著關(guān)鍵作用。今天,我們來深入了解onsemi推出的一款碳化硅(SiC)MOSFET——NTH4L070N120M3S。

文件下載:NTH4L070N120M3S-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTH4L070N120M3S是一款采用TO - 247 - 4L封裝的N溝道MOSFET,具備65mΩ的典型導(dǎo)通電阻(@ (V{GS}=18V) ),耐壓達(dá)1200V,屬于EliteSiC系列。它具有超低的柵極電荷((Q{G(tot)} = 57nC) )和低電容((C_{oss}=57pF) ),能夠?qū)崿F(xiàn)高速開關(guān),并且經(jīng)過了100%雪崩測試。此外,該器件符合無鹵和RoHS標(biāo)準(zhǔn),二級互連采用無鉛2LI工藝。

典型應(yīng)用場景

這款MOSFET適用于多種應(yīng)用場景,包括:

  • 太陽能逆變器:在太陽能發(fā)電系統(tǒng)中,高效的逆變器能夠?qū)⑻柲茈姵匕瀹a(chǎn)生的直流電轉(zhuǎn)換為交流電,NTH4L070N120M3S的高速開關(guān)特性和低導(dǎo)通電阻有助于提高逆變器的效率。
  • 電動汽車充電站:隨著電動汽車的普及,快速、高效的充電設(shè)施需求日益增長。該MOSFET可以滿足充電站對高功率、高可靠性的要求。
  • 不間斷電源(UPS):在電力中斷時,UPS能夠?yàn)殛P(guān)鍵設(shè)備提供臨時電力支持。NTH4L070N120M3S的穩(wěn)定性和低損耗特性可以確保UPS系統(tǒng)的可靠運(yùn)行。
  • 儲能系統(tǒng):儲能系統(tǒng)用于存儲電能,在需要時釋放。該MOSFET有助于提高儲能系統(tǒng)的充放電效率。
  • 開關(guān)模式電源(SMPS:SMPS廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,NTH4L070N120M3S可以提高電源的效率和功率密度。

最大額定值

參數(shù) 條件 數(shù)值 單位
漏源電壓((V_{DSS})) - 1200 V
柵源電壓((V_{GS})) - -10/+22 V
連續(xù)漏極電流((I_{D})) (T_{C}=25^{circ}C),穩(wěn)態(tài) 34 A
連續(xù)漏極電流((I_{D})) (T_{C}=100^{circ}C),穩(wěn)態(tài) 24 A
脈沖漏極電流((I_{DM})) (T_{C}=25^{circ}C) 98 A
功率耗散((P_{D})) (T_{C}=25^{circ}C),穩(wěn)態(tài) 160 W
功率耗散((P_{D})) (T_{C}=100^{circ}C),穩(wěn)態(tài) 80 W
工作結(jié)溫和存儲溫度范圍((T{J},T{stg})) - -55 to +175 (^{circ}C)
源極電流(體二極管 (T{C}=25^{circ}C),(V{GS}=-3V) 31 A
單脈沖漏源雪崩能量((E_{AS})) - 91 mJ
焊接時最大引腳溫度(距外殼1/25英寸,10s) - 270 (^{circ}C)

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。同時,整個應(yīng)用環(huán)境會影響熱阻數(shù)值,這些數(shù)值并非恒定不變,僅在特定條件下有效。

電氣特性

關(guān)態(tài)特性

  • 漏源擊穿電壓((V_{(BR)DSS})):當(dāng)(V{GS}=0V),(I{D}=1mA)時,為1200V。其溫度系數(shù)為 - 0.3V/ (^{circ}C) ((I_{D}=1mA),參考25 (^{circ}C) )。
  • 零柵壓漏極電流((I_{DSS})):當(dāng)(V{DS}=1200V),(T{J}=25^{circ}C)時,為100μA。
  • 柵源泄漏電流((I_{GSS})):當(dāng)(V{GS}= + 22/ - 10V),(V{DS}=0V)時,為±1μA。

開態(tài)特性

  • 柵極閾值電壓:范圍為2.04 - 4.4V。
  • 漏源導(dǎo)通電阻((R_{DS(on)})):在(V{GS}=18V),(I{D}=15A),(T_{J}=25^{circ}C)時,典型值為65mΩ,最大值為87mΩ。

電荷、電容與柵極電阻

  • 輸入電容:典型值為57pF。
  • 反向傳輸電容:為5pF。
  • 總柵極電荷((Q_{G(TOT)})):當(dāng)(I_{D}=15A)時,為57nC。
  • 柵源電荷((Q_{GS})):為9.6nC。
  • 柵漏電荷((Q_{GD})):為17nC。
  • 柵極電阻((R_{G})):為4.3Ω。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時間((t_{d(ON)})):在(I{D}=15A),(R{G}=4.7Ω)條件下有相應(yīng)數(shù)值。
  • 上升時間:同樣在上述條件下確定。
  • 導(dǎo)通開關(guān)損耗((E_{ON})):為124μJ。
  • 關(guān)斷開關(guān)損耗((E_{OFF})):為36μJ。

熱特性與推薦工作條件

熱特性

結(jié)到環(huán)境的穩(wěn)態(tài)熱阻最大為40 (^{circ}C/W) 。

推薦工作條件

柵源電壓的工作值范圍為 - 5… - 3 + 18V。超出推薦工作范圍可能會影響器件的可靠性。

典型特性圖表

文檔中提供了一系列典型特性圖表,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、傳輸特性、開關(guān)損耗與漏極電流關(guān)系、開關(guān)損耗與漏源電壓關(guān)系、開關(guān)損耗與柵極電阻關(guān)系、開關(guān)損耗與溫度關(guān)系、反向漏極電流與體二極管正向電壓關(guān)系、柵源電壓與總電荷關(guān)系、電容與漏源電壓關(guān)系、無鉗位電感開關(guān)能力、最大連續(xù)漏極電流與殼溫關(guān)系、安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散、結(jié)到殼瞬態(tài)熱響應(yīng)等。這些圖表有助于工程師更直觀地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn),從而更好地進(jìn)行電路設(shè)計(jì)。

機(jī)械封裝尺寸

該器件采用TO - 247 - 4LD封裝(CASE 340CJ),文中給出了詳細(xì)的封裝尺寸,包括A、A1、A2、b、b1、b2、C、D、D1、D2、e、e1、E、E1、E/2、L、L1、P、p1、Q、S等尺寸的最小值、標(biāo)稱值和最大值。這些尺寸信息對于電路板布局和機(jī)械設(shè)計(jì)非常重要。

總結(jié)

NTH4L070N120M3S碳化硅MOSFET憑借其優(yōu)異的性能和廣泛的應(yīng)用場景,為電子工程師在設(shè)計(jì)高效、可靠的功率電路時提供了一個不錯的選擇。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的設(shè)計(jì)要求,結(jié)合器件的各項(xiàng)特性和參數(shù),合理選擇和使用該器件。同時,要注意遵循器件的最大額定值和推薦工作條件,以確保器件的正常運(yùn)行和長期可靠性。大家在使用這款MOSFET的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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