ADI研討會(huì)：探討主流的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器架構(gòu)及影響轉(zhuǎn)換器選型的因素
模擬到數(shù)字(或者從數(shù)字到模擬)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換在眾多形式的電子系統(tǒng)中都是一個(gè)重要組成部分，但是數(shù)據(jù)采樣的技術(shù)會(huì)引起很多設(shè)計(jì)問題和思考。這個(gè)在線研討會(huì)系列的第一部分將探討數(shù)據(jù)采樣的基本原理以及量化、欠采樣和過采樣、過程增益、抗混疊濾波以及其它更多問題帶來的影響。 第二部分將詳細(xì)探討主流的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器架構(gòu)并幫助聽眾了解采樣、量化、數(shù)字化發(fā)生過程，更重要的是，了解在既定應(yīng)用中這會(huì)如何影響轉(zhuǎn)換器的正確選型。本次研討會(huì)還將討論影響線性度、失真和噪聲的采樣異常的來源及如何管理這些異常。
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