動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-11-10 11:10

  你知道散熱設(shè)計(jì)對LED車燈的重要性嗎？

  

  LED技術(shù)在汽車照明領(lǐng)域的應(yīng)用隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，LED（發(fā)光二極管）技術(shù)在汽車照明領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。LED模組不僅在高端車型中得到應(yīng)用，也逐漸普及到A級車和售后市場。LED光源的使用不僅提升了車燈的光學(xué)性能，還因其高效節(jié)能的特性，成為未來發(fā)展的趨勢。LED車燈的優(yōu)勢LED燈具有更高的亮度和更好的光束分布，能夠提供更清晰的視野，提高夜間行車的安全性。如需

  led 散熱設(shè)計(jì) 車燈

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• 發(fā)布了文章 2025-11-07 15:06

  如何制備合適的TEM樣品

  

  在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索物質(zhì)微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難等問題，其根源往往在于最初的樣品制備階段。不適宜的樣品厚度、差的導(dǎo)電性或制樣過程中引入的損傷，都會直接導(dǎo)致電子束穿透異常、圖像畸變甚至樣品報廢。合乎規(guī)范的樣品與恰當(dāng)?shù)闹苽浞椒ㄊ撬蠺EM數(shù)據(jù)可靠性

  TEM 顯微鏡 電子束

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• 發(fā)布了文章 2025-11-06 12:38

  EBSD技術(shù)的工作原理、數(shù)據(jù)采集與分辨率能力

  

  EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進(jìn)工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是材料科學(xué)中一種重要的顯微分析技術(shù)。它通過分析高能電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的背散射電子的衍射花樣，獲取樣品的晶體結(jié)構(gòu)、晶粒取向、晶界類型等關(guān)鍵晶體學(xué)信息。作為一種結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）與衍射分析功能的高分辨率表征手段，EBSD在材料研究與工業(yè)檢測中發(fā)揮著越來越重要的作用。EBSD技術(shù)的基

  工業(yè)檢測 數(shù)據(jù)采集 電子束

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• 發(fā)布了文章 2025-11-06 12:37

  透光率測定：原理、方法與實(shí)用指南

  

  在日常生活中，我們隨處可見各種透明或半透明材料——從高樓大廈的玻璃幕墻到手中的手機(jī)屏幕，從汽車的擋風(fēng)玻璃到食品包裝薄膜。這些材料看似相同，實(shí)則透光性能千差萬別。透光率，這個衡量材料透光能力的關(guān)鍵指標(biāo)，直接影響著產(chǎn)品的性能與用戶體驗(yàn)。透光率究竟是什么？透光率是評價材料對光透過能力的重要參數(shù)，簡單來說，它描述了光線穿過材料后保留了多少能量。當(dāng)光線照射到材料表面時

  材料 汽車制造 測定

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• 發(fā)布了文章 2025-11-06 12:36

  一文看懂掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）

  

  從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀察微觀世界的能力不斷提升，推動了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進(jìn)展。本文將講解現(xiàn)代微觀分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）。為什么選擇電子成像？要理解電子顯微鏡的價值，我們首先需要明白成像的基本原理。日常生活中我們熟悉的光學(xué)顯微鏡，其分辨能力受到可見光波長的限制?？梢?

  SEM TEM 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-11-06 12:35

  什么是CDM靜電測試？

  

  CDM測試是一種模擬帶電集成電路自身快速靜電放電的可靠性檢測方法。一、CDM模型核心概念CDM（帶電設(shè)備模型）是ESD（靜電放電）測試中的一種關(guān)鍵模型，區(qū)別于HBM（人體模型）和MM（機(jī)器模型）。它專門模擬電子元器件（如芯片）在生產(chǎn)、運(yùn)輸或處理過程中因摩擦等因素自身累積靜電，隨后在接觸接地導(dǎo)體時發(fā)生的快速放電現(xiàn)象。其最顯著的特征是放電速度極快，電流上升時間在

  CDM ESD 集成電路 靜電測試

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• 發(fā)布了文章 2025-11-05 14:40

  電子背散射衍射（EBSD）樣品制備技術(shù)：鋯合金與高碳鋼

  

  電子背散射衍射樣品制備工藝電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是現(xiàn)代材料微觀結(jié)構(gòu)分析的核心手段之一，通過與掃描電子顯微鏡（SEM）及能譜儀（EDS）的聯(lián)用，能夠?qū)崿F(xiàn)對材料顯微組織、晶體取向、相分布及織構(gòu)等關(guān)鍵信息的定量表征。該技術(shù)分析的準(zhǔn)確性、分辨率及數(shù)據(jù)質(zhì)量，從根本上依賴于樣品表面的制備狀態(tài)。一個理想的EBSD樣品表面需滿足無應(yīng)變層、無劃痕、平整度高且清潔無污染

  顯微鏡 電子束

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• 發(fā)布了文章 2025-11-05 14:39

  一文搞懂四種電鏡測試的區(qū)別(SEM、TEM、EDS、EBSD)

  

  在材料科學(xué)與生物實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域，電子顯微鏡（EM）作為關(guān)鍵的微結(jié)構(gòu)表征手段，以電子束代替可見光作為照明源，可實(shí)現(xiàn)納米級分辨能力，顯著優(yōu)于光學(xué)顯微鏡的觀測極限。掃描電子顯微鏡（SEM）1.原理SEM的核心工作原理是利用極細(xì)的電子束（直徑約1-10納米）對樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。當(dāng)這些高能電子與樣品相互作用時，會激發(fā)出多種信號，其中最為重要的是二次電子和背散射電子。二次

  EDS SEM TEM 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-11-05 14:32

  什么是氣密性檢測

  

  在當(dāng)今對電子產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求日益嚴(yán)格的時代，確保設(shè)備的密封完整性至關(guān)重要。密封性能的失效將直接導(dǎo)致外部環(huán)境中的水分、塵埃、腐蝕性氣體或離子污染物侵入元件內(nèi)部，進(jìn)而引發(fā)電氣性能退化、金屬線路腐蝕、機(jī)械應(yīng)力損傷，最終導(dǎo)致元件功能喪失。什么是氣密性檢測氣密性檢測，亦稱密封性測試，是一種用于評估產(chǎn)品外殼或封裝結(jié)構(gòu)防止氣體（包括空氣、水汽及其他特定氣體）侵入或逸出

  檢測 電氣

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• 發(fā)布了文章 2025-11-04 14:43

  熱重分析（TGA）技術(shù)詳解：原理、應(yīng)用與操作要點(diǎn)

  

  熱重分析（TGA）作為一種經(jīng)典的材料熱性能測試方法，在科研與工業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。該方法通過監(jiān)測樣品質(zhì)量隨溫度或時間的變化，為評估材料的熱穩(wěn)定性、組成含量及熱分解行為提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。核心測試原理TGA測量的是材料在一定環(huán)境條件下，其重量隨溫度或時間的變化，目的是研究材料的熱穩(wěn)定性和組成。試樣可以是固體或液體．并以某一速率升溫或降溫，或在某一固定溫度

  儀器 性能測試

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