動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-11-26 17:06

  如何用FIB技術(shù)定位納米級(jí)缺陷？關(guān)鍵操作與案例解析

  

  FIB技術(shù)以其獨(dú)特的納米級(jí)加工能力，在半導(dǎo)體芯片、材料科學(xué)等領(lǐng)域展現(xiàn)出精準(zhǔn)切割、成像和分析的強(qiáng)大功能。樣品制備樣品制備是FIB測(cè)試的首要環(huán)節(jié)，其質(zhì)量直接影響最終測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)于不同類型的樣品，制備要求也各不相同。1.塊狀樣品的尺寸控制一般而言，樣品最大尺寸不應(yīng)超過(guò)2cm，高度需控制在3mm以內(nèi)。這種尺寸要求相當(dāng)于將日常物體精確縮小到適合觀察的尺度。過(guò)大

  fib 測(cè)試 納米級(jí)

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• 發(fā)布了文章 2025-11-25 17:14

  氬離子拋光制樣經(jīng)驗(yàn)分享

  

  氬離子拋光技術(shù)通過(guò)電場(chǎng)加速產(chǎn)生的高能氬離子束，在真空環(huán)境下對(duì)樣品表面進(jìn)行可控的物理濺射剝離。與傳統(tǒng)機(jī)械制樣方法相比，其核心優(yōu)勢(shì)在于：完全避免機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致的樣品損傷，能夠保持材料的原始微觀結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)真正的全局平面化處理，為后續(xù)的SEM、EDS、EBSD等分析提供理想的觀測(cè)基底。一、微納米顆粒（針對(duì)200μm以下樣品）微納米顆粒樣品，如鋰電池陽(yáng)極材料等，通常需要

  拋光 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-11-25 17:12

  汽車車燈LED車規(guī)級(jí)認(rèn)證之AEC-Q102

  

  LED光源在汽車領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛，車燈照明、智能系統(tǒng)、盲點(diǎn)偵測(cè)等場(chǎng)景均對(duì)LED品質(zhì)提出了高要求。因此，眾多LED元器件供貨商紛紛布局車用LED領(lǐng)域，而通過(guò)AEC-Q102驗(yàn)證，成為其產(chǎn)品立足車電市場(chǎng)的關(guān)鍵通行證。車規(guī)級(jí)的核心定義與標(biāo)準(zhǔn)差異車規(guī)級(jí)是適用于汽車電子元件的專屬規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)，其嚴(yán)苛程度可通過(guò)與消費(fèi)級(jí)、工業(yè)級(jí)、軍工級(jí)的對(duì)比清晰體現(xiàn)：汽車需在戶外高溫、高寒

  led 汽車 認(rèn)證

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• 發(fā)布了文章 2025-11-25 17:10

  透射電鏡（TEM）樣品制備方法

  

  在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過(guò)程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難的問(wèn)題，其根源往往不在于儀器操作或分析技術(shù)，而在于實(shí)驗(yàn)的第一步——樣品制備。一、TEM樣品的基本要求1.樣品須為固體，且厚度通常應(yīng)小于100nm；2.在電鏡的電磁環(huán)境中保持穩(wěn)定，不會(huì)被吸附至極靴；3.

  TEM 顯微鏡 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-11-24 14:42

  聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）的三大應(yīng)用技術(shù)

  

  聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的多維表征平臺(tái)。該系統(tǒng)將聚焦離子束的精準(zhǔn)加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機(jī)結(jié)合，為從微觀到納米尺度的材料結(jié)構(gòu)解析提供了完整解決方案。二維樣品制備基礎(chǔ)FIB二維樣品制備通過(guò)可控離子濺射實(shí)現(xiàn)材料的定點(diǎn)加工，首先在目標(biāo)區(qū)域沉積鉑/鎢保護(hù)層，隨后采用聚焦離子束進(jìn)行精確定點(diǎn)銑削獲得觀測(cè)截面

  fib 掃描電鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-11-24 14:38

  以供應(yīng)商和制造商的視角看AEC-Q認(rèn)證

  

  在汽車電子行業(yè)中，AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)是確保光電子半導(dǎo)體器件質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵規(guī)范。作為供應(yīng)商和制造商，遵循這一標(biāo)準(zhǔn)不僅是對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的嚴(yán)格把控，也是對(duì)客戶承諾的象征。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)是汽車電子委員會(huì)（AEC）制定的，專門針對(duì)光電子半導(dǎo)體器件的一系列測(cè)試規(guī)范。這些規(guī)范包括了高溫工作壽命（HTOL）、溫度循環(huán)（TC）、濕熱高濕高低

  AEC 汽車電子 認(rèn)證

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• 發(fā)布了文章 2025-11-21 20:07

  答疑篇：聚焦離子束（FIB）常見(jiàn)問(wèn)題

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)作為材料分析領(lǐng)域的重要工具，已在納米科技、半導(dǎo)體和材料科學(xué)研究中發(fā)揮著不可替代的作用。1.FIB制樣的注意事項(xiàng)有哪些？①首先確定樣品成分是否導(dǎo)電，導(dǎo)電性差的樣品要噴金；②其次FIB的目的，截面看SEM還是TEM；TEM是做普通高分辨還是球差，普通的高分辨減薄厚度比球差要厚一些，最薄可以減薄到十個(gè)nm左右的厚度；③進(jìn)而切割或取樣位置；④

  fib 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-11-21 20:06

  LED光耦如何通過(guò)AEC-Q102認(rèn)證中的高溫測(cè)試？

  

  引言在新能源汽車電子系統(tǒng)中，LED光耦作為實(shí)現(xiàn)高壓電路隔離（如動(dòng)力電池管理系統(tǒng)）與信號(hào)安全傳輸（如車載充電模塊）的核心器件，需長(zhǎng)期承受極端高溫環(huán)境——?jiǎng)恿﹄姵爻浞烹姇r(shí)的局部溫度可達(dá)125℃，部分靠近電機(jī)的區(qū)域溫度甚至突破150℃。這種高溫工況不僅會(huì)導(dǎo)致LED光耦的光發(fā)射效率衰減、隔離性能下降，更可能引發(fā)電路短路、系統(tǒng)失效等安全風(fēng)險(xiǎn)。AEC-Q102認(rèn)證作為車

  新能源汽車 測(cè)試 電子系統(tǒng)

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• 發(fā)布了文章 2025-11-19 16:57

  AEC-Q102認(rèn)證：車用光電器件的可靠性通行證

  

  認(rèn)證背景與核心價(jià)值A(chǔ)EC-Q102是全球汽車電子委員會(huì)（AEC）針對(duì)車用分立光電半導(dǎo)體（如LED、激光器件、光電二極管等）制定的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，其核心在于確保元器件在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。該認(rèn)證已成為車用LED供應(yīng)商進(jìn)入國(guó)際市場(chǎng)的“金標(biāo)準(zhǔn)”，直接影響產(chǎn)品在智能車燈、盲點(diǎn)偵測(cè)等關(guān)鍵系統(tǒng)的應(yīng)用資格。2020年發(fā)布的Rev.A版本新增了板彈性測(cè)試（BF）等項(xiàng)

  AEC 光電器件 汽車電子

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• 發(fā)布了文章 2025-11-19 16:56

  熒光粉性能分析

  

  熒光粉的種類有很多，常見(jiàn)的有鋁酸鹽熒光粉、硅酸鹽熒光粉和氮化物熒光粉等。單一種類的熒光粉，不同廠家的粉也不一樣。粉的性能各不相同，一般只適合配對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品，如有做高亮的，有做高顯色的，有做漂亮光斑的，有時(shí)為了實(shí)現(xiàn)效果，往往需要添加多種粉來(lái)達(dá)到您想要的效果。不同熒光粉都有它的優(yōu)弊端，所以，了解熒光粉的性能很重要。最能代表熒光粉性能的指標(biāo)一般包括激發(fā)光譜、發(fā)射光譜

  芯片 熒光粉

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