動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-10-17 17:38

  常見的電子元器件失效分析匯總

  

  電子元器件失效可能導致電路功能異常，甚至整機損毀，耗費大量調試時間。部分半導體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”，進一步增加了問題定位的難度。電阻器失效1.開路失效：最常見故障。由過電流沖擊導致，具體表現為電阻膜燒毀或脫落、基體斷裂、引線帽與電阻體脫離。2.阻值漂移：隱蔽性失效。源于電阻膜缺陷或退化、基體中可動離子影響、保護涂層不良，導致阻值超出規(guī)范，電

  失效分析 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 15:00

  高低溫循環(huán)測試對電子元件壽命有什么影響

  

  在電子產品無處不在的今天，微小元件的可靠性直接關系整個系統(tǒng)的成敗。小到手機，大到汽車、醫(yī)療及工業(yè)設備，任何元件的失效都可能造成設備癱瘓。要預知元件壽命，高低溫循環(huán)測試是關鍵所在。什么是高低溫循環(huán)測試？高低溫循環(huán)測試是一種環(huán)境可靠性測試方法，通過讓電子元件在設定的高溫和低溫極端值之間循環(huán)變化，模擬產品在運輸、存儲和使用過程中可能遇到的溫度變化環(huán)境。金鑒實驗室擁

  循環(huán)測試 電子產品 電子元件

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 14:58

  聚焦離子束（FIB）技術：原理、應用與制樣全解析

  

  在微觀世界的探索中，科學家們需要極其精密的工具來觀察和分析材料的內部結構與成分。聚焦離子束（FIB）技術就是這樣一把打開微觀世界大門的鑰匙，它通過將離子束聚焦到納米尺度，實現對材料的精確加工和分析。原理與簡介聚焦離子束系統(tǒng)利用電透鏡將離子束聚焦成非常小的尺寸，目前商用系統(tǒng)通常采用液相金屬離子源（LMIS），其金屬材質為鎵（Ga）。為什么選擇鎵呢？這是因為它具

  fib 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 14:56

  LED死燈原因到底有多少種?

  

  于LED產業(yè)的科研檢測機構，能夠對LED進行嚴格的檢測，致力于為客戶提供高質量的測試服務，為LED在各個領域的可靠應用提供堅實的質量保障。以金鑒接觸的失效分析大數據顯示，LED死燈的原因可能過百種，我們僅以LED光源為例，從LED光源的五大原物料（芯片、支架、熒光粉、固晶膠、封裝膠和金線）的入手，介紹部分可能導致死燈的原因。芯片1.芯片抗靜電能力差LED燈珠

  led 死燈

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• 發(fā)布了文章 2025-10-15 16:26

  基于振動與沖擊試驗的機械結構疲勞可靠性評估

  

  振動環(huán)境堪稱機械結構面臨的終極考驗之一。從噴氣式發(fā)動機的持續(xù)高頻振動，到高速列車與軌道接觸產生的復雜激勵，再到工業(yè)生產線設備永不停歇的運轉，這些動態(tài)載荷無時無刻不在考驗著工程結構的耐久極限。在長期振動作用下，即使是最堅固的材料也會逐漸積累損傷，最終導致災難性失效。因此，通過科學的試驗手段，在產品設計驗證階段精準評估其抗振與抗沖擊能力，是確保產品可靠性、安全性

  沖擊試驗 振動 機械

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• 發(fā)布了文章 2025-10-15 16:25

  熱沖擊試驗對車燈有什么影響？

  

  什么是熱沖擊試驗？車輛外部照明和光信號裝置的熱沖擊試驗，是一項針對車燈環(huán)境可靠性的關鍵測試。它通過模擬車輛在日常使用中可能遭遇的急劇溫度變化，將車燈樣品交替暴露于極端高溫和低溫環(huán)境中，進行多次循環(huán)測試。該測試的主要目的是檢驗車燈在快速溫度變化條件下能否保持結構完整性及功能穩(wěn)定性。測試能夠識別出材料開裂、變形、密封失效、光學性能異常以及電路故障等潛在問題，從而

  沖擊試驗 車燈

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• 發(fā)布了文章 2025-10-15 16:24

  氬離子束截面分析在鋰電池電極材料研究中的應用

  

  鋰離子電池作為新一代綠色高能電池，憑借其卓越的性能，在新能源汽車等高新技術領域占據著舉足輕重的地位。隨著新能源汽車行業(yè)的蓬勃發(fā)展，鋰電池材料的需求與應用前景呈現出持續(xù)向好的態(tài)勢。鋰離子電池的優(yōu)勢1.高能量密度在相同的體積或重量下，鋰離子電池能夠儲存更多的電能，為新能源汽車提供更長的續(xù)航里程。2.長循環(huán)壽命在多次充放電循環(huán)后，電池的容量衰減速度相對較慢，這不僅

  電極材料 鋰電池

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• 發(fā)布了文章 2025-10-15 16:22

  碳化硅雙極退化：材料的本征局限還是工藝難題？

  

  在功率電子領域，碳化硅（SiC）器件以其優(yōu)異的性能正逐漸取代傳統(tǒng)硅基器件。然而，SiCMOSFET和SiC二極管在實際應用中卻面臨一種特殊的可靠性挑戰(zhàn)——雙極退化。這一現象直接影響著器件的長期穩(wěn)定性和使用壽命，成為工程師們必須重視的問題。什么是雙極退化？雙極退化是SiC器件中一種特定的性能衰退模式。當電流持續(xù)流過SiCMOSFET的體二極管時，注入的電子-空

  SiC 材料 碳化硅

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• 發(fā)布了文章 2025-10-14 12:13

  外殼防護等級（IP代碼）全解讀

  

  什么是外殼防護等級（IP代碼）IP代碼，全稱為“國際防護等級”，是由國際電工委員會制定的全球通用標準。這一標準旨在為電子設備外殼的防護能力提供一個清晰、統(tǒng)一的評判體系。簡單來說，IP代碼就是電子設備的“防護身份證”。我們常見的IP代碼由“IP”和緊隨其后的兩位數字組成，例如IP65。第一位數字代表設備對固體異物（如灰塵）的防護能力，第二位數字則表示對液體（主

  電子設備

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• 發(fā)布了文章 2025-10-14 12:11

  FIB-SEM雙束系統(tǒng)：微納尺度的一體化解決方案

  

  在微觀世界的探索中，科研人員一直致力于發(fā)展兼具精準操作與高分辨率表征功能的集成化系統(tǒng)。聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）正是滿足這一需求的先進工具，它實現了微納加工與高分辨成像功能的有機融合，已成為材料科學及相關領域不可或缺的分析平臺。雙束協同：原理與優(yōu)勢FIB-SEM系統(tǒng)由兩大核心技術組成：聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）。

  fib SEM

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