動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-09-24 18:02

  汽車玻璃可見光透射率VLT標準70%：關(guān)乎道路安全的關(guān)鍵指標

  

  在國際窗膜協(xié)會澳大利亞分會（IWFAA）的持續(xù)游說下，澳大利亞多地已允許將汽車前側(cè)窗的可見光透射率（VLT）標準從70%降至35%，以期實現(xiàn)全國規(guī)范統(tǒng)一。然而，這一提議引發(fā)了重要的道路安全隱患：前側(cè)窗作為駕駛員觀察側(cè)向交通、識別行人及騎行者的關(guān)鍵視覺通道，其透光率的大幅降低將直接削弱在夜間、低光照或復雜路況下的視覺識別能力。Flexfilm汽車玻璃透過率檢測

  vlt 檢測儀 汽車

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• 發(fā)布了文章 2025-09-22 18:05

  從數(shù)據(jù)到模型：臺階儀如何實現(xiàn)高精度微結(jié)構(gòu)測量

  

  為解決臺階儀在微結(jié)構(gòu)測量中的點云配準精度不足、系統(tǒng)誤差難補償及傳統(tǒng)校準離散、導軌誤差大等問題，費曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準測量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺階儀可以實現(xiàn)表面微觀特征的精準表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測量，精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚，為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效率提升提供數(shù)據(jù)支撐。本研究提出融合增強型ICP與SIL的表面匹配方法，輔以多

  儀器 測量 精密測量

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• 發(fā)布了文章 2025-09-19 18:03

  基于光譜橢偏術(shù)的多層結(jié)構(gòu)介質(zhì)衍射光柵表征研究

  

  在集成光學與光子器件研究中，介電衍射光柵是耦合布洛赫表面波等導模的關(guān)鍵元件，但其亞微米尺度的幾何參數(shù)難以通過顯微技術(shù)精確表征。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學等領(lǐng)域。本研究采用光譜橢偏術(shù)（SE）對制備于布洛赫表面波（BSW）支撐多層結(jié)構(gòu)上的亞微米周期介質(zhì)光柵進行光學表征與建模，在建模

  光子器件 光譜 耦合器

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• 發(fā)布了文章 2025-09-17 18:03

  衍射光學元件DOE：臺階高度與位置誤差的測量

  

  衍射光學元件（DOE）因其在波前調(diào)制和色差校正方面的優(yōu)勢，廣泛應用于紅外光學系統(tǒng)等領(lǐng)域。然而，其非連續(xù)面形結(jié)構(gòu)（如相位突變點和臺階高度）使得傳統(tǒng)檢測方法難以滿足精度要求。費曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準測量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺階儀可以實現(xiàn)表面微觀特征的精準表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測量，精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚，為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效

  DOE 光學元件 測量

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• 發(fā)布了文章 2025-09-15 18:02

  橢偏儀選型指南 | 橢圓偏振法與反射法的優(yōu)劣對比

  

  橢圓偏振法和反射法是用于表面分析和薄膜表征的光學測量技術(shù)。這兩種方法都依賴于光反射：橢圓偏振法分析反射光偏振狀態(tài)的變化，反射法則測量其強度。橢圓偏振法和反射法之間的選擇取決于測量原理、靈敏度和數(shù)據(jù)解釋要求。每種技術(shù)在材料科學和表面分析中都有特定的作用。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學

  光學測量 半導體 薄膜材料

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• 發(fā)布了文章 2025-09-12 18:10

  汽車玻璃透光率≥70%的吸水防霧微米膜層的制備

  

  汽車玻璃的防霧功能是保障駕駛安全的關(guān)鍵，當前前檔玻璃可通過空調(diào)、后檔玻璃可通過電加熱實現(xiàn)防霧，但邊窗玻璃因結(jié)構(gòu)限制（多為單層鋼化玻璃），現(xiàn)有防霧手段均不適用。同時，已有的防霧材料普遍存在耐候性差、耐磨性不足、易黃變等問題，難以滿足汽車玻璃長期使用需求。本研究設(shè)計雙層結(jié)構(gòu)吸水防霧膜，通過分層功能分工實現(xiàn)高效防霧與穩(wěn)定性能。通過Flexfilm汽車玻璃透過率檢測

  材料 檢測儀 汽車

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• 發(fā)布了文章 2025-09-10 18:04

  臺階儀在大面積硬質(zhì)涂層的應用：精準表征形貌與蝕刻 / 沉積結(jié)構(gòu)參數(shù)

  

  PVD硬質(zhì)涂層的表面形貌直接影響其摩擦學、潤濕性等功能性能，而精準表征形貌特征是優(yōu)化涂層工藝的關(guān)鍵。臺階儀因可實現(xiàn)大掃描面積的三維形貌成像與粗糙度量化，成為研究PVD涂層形貌的核心工具。費曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準測量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺階儀可以實現(xiàn)表面微觀特征的精準表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測量，精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚，為材料

  儀器 測量 薄膜厚度

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• 發(fā)布了文章 2025-09-08 18:02

  橢偏儀在半導體薄膜厚度測量中的應用：基于光譜干涉橢偏法研究

  

  薄膜厚度的測量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。橢偏法具備高測量精度的優(yōu)點，利用寬譜測量方式可得到全光譜的橢偏參數(shù)，實現(xiàn)納米級薄膜的厚度測量。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學等領(lǐng)域。為解決半導體領(lǐng)域常見的透明硅基底上薄膜厚度測量的問題并消除硅層的疊加信號，本文提出基于光譜干

  半導體 厚度測量 薄膜

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• 發(fā)布了文章 2025-09-05 18:03

  臺階儀精準測量薄膜工藝中的膜厚：制備薄膜理想臺階提高膜厚測量的準確性

  

  固態(tài)薄膜因獨特的物理化學性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視，其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù)，準確測量對真空鍍膜工藝控制意義重大，臺階儀法因其能同時測量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應用于航空航天、半導體等領(lǐng)域。費曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準測量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺階儀可以精確多種薄膜樣品的薄膜厚度。臺階儀法需在薄膜表面制備臺階，通過測量臺階高度反推膜厚。然

  儀器 測量

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• 發(fā)布了文章 2025-09-03 18:04

  橢偏儀在集成電路檢測中的應用：以標準樣品校準法校準橢偏參數(shù)

  

  橢偏術(shù)因其高靈敏度、非接觸與在線測量能力，已成為薄膜與IC工藝檢測的重要手段。但儀器的準確性依賴系統(tǒng)中偏振元件與幾何參數(shù)的精確校準，且在工業(yè)環(huán)境中這些參數(shù)會隨時間與環(huán)境漂移變化——因此需要快速、簡單且準確的校準方法以維持儀器性能。傳統(tǒng)校準方法（如雙區(qū)域法）在實施上復雜且不易在生產(chǎn)線上周期性重復。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精

  檢測 薄膜材料 集成電路

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