采用單一CMOS的電感測(cè)試儀的制作方案
這個(gè)測(cè)試儀的基礎(chǔ)是一個(gè)皮爾茲CMOS緩沖振蕩器(圖一)。這種振蕩器采用單一CMOS逆變偏頻在其線性區(qū)域通過電阻R1 以形成一個(gè)高增益反相放大器。由于這個(gè)高增益,這個(gè)逆變器比一...
HI-TECH C編譯器的PICC18命令行驅(qū)動(dòng)
PICl8F系列產(chǎn)品是美國(guó)微芯科技公司的高檔產(chǎn)品,用戶多采用C語(yǔ)言進(jìn)行編程設(shè)計(jì),HI-TECH SoftwarePty.Ltd.公司的PICC18編譯器得到了廣泛應(yīng)用。大部分應(yīng)用者使用MPLAB集成環(huán)境進(jìn)行編程(見...
DSA70000系列示波器的DSP帶寬優(yōu)化功能
新型 DSA70000 系列包含多個(gè)型號(hào)的示波器,提供類似的功能集并跨越三個(gè)帶寬等級(jí):帶寬達(dá)到12.5 GHz的DSA71254、帶寬達(dá)到16 GHz的DSA71604 和帶寬達(dá)到20 GHz DSA72004。最終用戶可依據(jù)自己要采...
X系列多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備
X系列設(shè)備是美國(guó)國(guó)家儀器公司設(shè)計(jì)至今最高級(jí)的多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備。其增強(qiáng)特性可滿足最苛刻的測(cè)量、測(cè)試和控制應(yīng)用。 ...
使用USB進(jìn)行測(cè)試和測(cè)量的優(yōu)勢(shì)
使用USB進(jìn)行測(cè)試和測(cè)量的優(yōu)勢(shì) USB由于具備下面幾個(gè)優(yōu)勢(shì),從而成為使用者開發(fā)測(cè)試和測(cè)量測(cè)量應(yīng)用的簡(jiǎn)單選擇。 真正的即插即用:使用標(biāo)準(zhǔn)的低成...
C語(yǔ)言編譯過程中的錯(cuò)誤分析
語(yǔ)言的最大特點(diǎn)是:功能強(qiáng)、使用方便靈活。C編譯的程序?qū)φZ(yǔ)法檢查并不象其它高級(jí)語(yǔ)言那么嚴(yán)格,這就給編程人員留下“靈活的余地”,但還是由于這個(gè)靈活給程序的調(diào)試...
安捷倫推出用于CXA信號(hào)分析儀的測(cè)量應(yīng)用軟件
安捷倫科技公司宣布推出 9 款用于 CXA 的測(cè)量應(yīng)用軟件。CXA 是安捷倫經(jīng)濟(jì)型 X 系列信號(hào)分析儀。 這些測(cè)量應(yīng)用軟件支持蜂窩通信、無(wú)線網(wǎng)絡(luò)和數(shù)字視頻標(biāo)準(zhǔn),使 CXA ...
如何提高射頻測(cè)試儀器的射頻測(cè)量技術(shù)
概覽 現(xiàn)代射頻儀器具有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其前代產(chǎn)品的令人印象深刻的測(cè)量能力和精度。然而,如果不能提供高品質(zhì)的信號(hào),這些儀器就不能充分發(fā)揮其潛能。完備的...
用于船舶監(jiān)測(cè)報(bào)警系統(tǒng)的冗余處理模塊的數(shù)據(jù)采集單元設(shè)計(jì)
本文介紹一種用于船舶監(jiān)測(cè)報(bào)警系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集單元,該單元由采集模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)多通道現(xiàn)場(chǎng)各數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)采集,然后由專用的多路冗余模塊輸出至本地人機(jī)界面顯示和上位機(jī)...
數(shù)據(jù)擷取系統(tǒng)的正確選擇
數(shù)據(jù)擷取方式的選擇 數(shù)據(jù)擷取技術(shù)在過去 30 到 40 年間有了長(zhǎng)足的進(jìn)步。舉例來說,40 年前,在一般大學(xué)的實(shí)驗(yàn)室中,用來追蹤一缸鈉-鎢-青銅的溫度上升情形...
破損玻璃檢測(cè)器 (GBD)系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)
引言 破損玻璃檢測(cè)器 (GBD) 主要用來檢測(cè)家庭住宅或商業(yè)樓宇門窗玻璃的破損情況。GBD 也可歸類為一種監(jiān)控設(shè)備,用以提高家庭或商業(yè)環(huán)境的安全性,避免非法進(jìn)入...
芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測(cè)試基本原理
1 引言 本文主要討論芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中的IC測(cè)試基本原理,內(nèi)容覆蓋了基本的測(cè)試原理,影響測(cè)試決策的基本因素以及IC測(cè)試中的常用術(shù)語(yǔ)。 2 數(shù)字集...
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