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本欄目為電子實(shí)驗(yàn)室,內(nèi)設(shè)有單片機(jī)實(shí)驗(yàn)、電子實(shí)驗(yàn)、編程驗(yàn)等,是大學(xué)生及電子行業(yè)人員學(xué)習(xí)電子知識(shí)的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。

采用單一CMOS的電感測(cè)試儀的制作方案

采用單一CMOS的電感測(cè)試儀的制作方案

這個(gè)測(cè)試儀的基礎(chǔ)是一個(gè)皮爾茲CMOS緩沖振蕩器(圖一)。這種振蕩器采用單一CMOS逆變偏頻在其線性區(qū)域通過電阻R1 以形成一個(gè)高增益反相放大器。由于這個(gè)高增益,這個(gè)逆變器比一...

2010-09-24 關(guān)鍵字: 電感測(cè)試儀

低成本1S/2S電量計(jì)MAX17040/MAX17041

低成本1S/2S電量計(jì)MAX17040/MAX17041

  概述   MAX17040/MAX17041為結(jié)構(gòu)緊湊、低成本、主機(jī)側(cè)電量計(jì),用于手持及便攜產(chǎn)品的鋰離子(Li+)電池的電量計(jì)量。MAX17040配置為單節(jié)鋰電池計(jì)量,MAX17041配置為兩節(jié)2S電池...

2010-09-24 關(guān)鍵字: 電量計(jì)MAX170

HI-TECH C編譯器的PICC18命令行驅(qū)動(dòng)

HI-TECH C編譯器的PICC18命令行驅(qū)動(dòng)

PICl8F系列產(chǎn)品是美國(guó)微芯科技公司的高檔產(chǎn)品,用戶多采用C語(yǔ)言進(jìn)行編程設(shè)計(jì),HI-TECH SoftwarePty.Ltd.公司的PICC18編譯器得到了廣泛應(yīng)用。大部分應(yīng)用者使用MPLAB集成環(huán)境進(jìn)行編程(見...

2010-09-23 關(guān)鍵字: C編

基于LMS8962與ADISl6209的傾角測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)

基于LMS8962與ADISl6209的傾角測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  ADISl6209是ADI公司新推出的一款精密的微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)傾斜計(jì),提供小于O.1°線性傾斜誤差的全補(bǔ)償直接角度輸出,它使用出廠時(shí)安裝的校正系數(shù)動(dòng)態(tài)地檢測(cè)系統(tǒng)環(huán)境并且補(bǔ)...

2010-09-23 關(guān)鍵字: ADLMS8962

DSA70000系列示波器的DSP帶寬優(yōu)化功能

新型 DSA70000 系列包含多個(gè)型號(hào)的示波器,提供類似的功能集并跨越三個(gè)帶寬等級(jí):帶寬達(dá)到12.5 GHz的DSA71254、帶寬達(dá)到16 GHz的DSA71604 和帶寬達(dá)到20 GHz DSA72004。最終用戶可依據(jù)自己要采...

2010-09-16 關(guān)鍵字: DSA70000

移動(dòng)設(shè)備的接收機(jī)的衰落性能測(cè)試

移動(dòng)設(shè)備的接收機(jī)的衰落性能測(cè)試

  一、 衰落   衰落從范圍上來講,大體分為三種情況:大區(qū)域衰落,小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示,大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平...

2010-09-15 關(guān)鍵字: 衰落基帶仿真

分析能源存儲(chǔ)設(shè)備性能特征的SolRayo ETS恒電位儀

  基于LabVIEW軟件和PXI儀器,使用恒電位儀來確定電池,電容和燃料電池等設(shè)備的能源存儲(chǔ),額定功率和內(nèi)阻。   "使用先進(jìn)的NI模塊化儀器技術(shù),SolRayo ETS可以達(dá)到或超...

2010-09-15 關(guān)鍵字: 能源存儲(chǔ)恒電位儀

基于LabVIEW平臺(tái)的多路前置放大器的自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)

基于LabVIEW平臺(tái)的多路前置放大器的自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)

  本研究開發(fā)了基于LabVIEW平臺(tái)的多路前置放大器的自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)多路放大器技術(shù)指標(biāo)的全部自動(dòng)測(cè)量或選項(xiàng)測(cè)量.   1  系統(tǒng)功能及組成   1. 1  系...

2010-09-14 關(guān)鍵字: LabVIEW放大

X系列多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備

X系列多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備

  X系列設(shè)備是美國(guó)國(guó)家儀器公司設(shè)計(jì)至今最高級(jí)的多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備。其增強(qiáng)特性可滿足最苛刻的測(cè)量、測(cè)試和控制應(yīng)用。    ...

2010-09-13 關(guān)鍵字: 數(shù)據(jù)采集X系列

密鉛酸蓄電池池殼的檢測(cè)

密鉛酸蓄電池池殼的檢測(cè)

  1﹑引言   隨著鉛酸蓄電池質(zhì)量的不斷提高,其應(yīng)用范圍越來越廣泛。要生產(chǎn)一只合格的鉛酸蓄電池,必須經(jīng)過多道生產(chǎn)工藝,而且每道生產(chǎn)工藝都有嚴(yán)格的工藝...

2010-09-13 關(guān)鍵字: 蓄電池池殼檢測(cè)

使用USB進(jìn)行測(cè)試和測(cè)量的優(yōu)勢(shì)

使用USB進(jìn)行測(cè)試和測(cè)量的優(yōu)勢(shì)

使用USB進(jìn)行測(cè)試和測(cè)量的優(yōu)勢(shì)  USB由于具備下面幾個(gè)優(yōu)勢(shì),從而成為使用者開發(fā)測(cè)試和測(cè)量測(cè)量應(yīng)用的簡(jiǎn)單選擇。  真正的即插即用:使用標(biāo)準(zhǔn)的低成...

2010-09-11 關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量usb

C語(yǔ)言編譯過程中的錯(cuò)誤分析

  語(yǔ)言的最大特點(diǎn)是:功能強(qiáng)、使用方便靈活。C編譯的程序?qū)φZ(yǔ)法檢查并不象其它高級(jí)語(yǔ)言那么嚴(yán)格,這就給編程人員留下“靈活的余地”,但還是由于這個(gè)靈活給程序的調(diào)試...

2010-09-11 關(guān)鍵字: C語(yǔ)言

安捷倫推出用于CXA信號(hào)分析儀的測(cè)量應(yīng)用軟件

  安捷倫科技公司宣布推出 9 款用于 CXA 的測(cè)量應(yīng)用軟件。CXA 是安捷倫經(jīng)濟(jì)型 X 系列信號(hào)分析儀。   這些測(cè)量應(yīng)用軟件支持蜂窩通信、無(wú)線網(wǎng)絡(luò)和數(shù)字視頻標(biāo)準(zhǔn),使 CXA ...

2010-09-10 關(guān)鍵字: CXA信號(hào)分析儀

基于PXI和PCI硬件的PCB測(cè)試系統(tǒng)解決方案

  解決方案:   結(jié)合NI PXI與PCI硬件,使用NI TestStand和LabVIEW軟件來開發(fā)一個(gè)用于測(cè)試印刷電路板和太陽(yáng)能逆變器的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)。   "通過使用全部來自Nationa...

2010-09-09 關(guān)鍵字: PXIPCPCI

如何提高射頻測(cè)試儀器的射頻測(cè)量技術(shù)

  概覽   現(xiàn)代射頻儀器具有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其前代產(chǎn)品的令人印象深刻的測(cè)量能力和精度。然而,如果不能提供高品質(zhì)的信號(hào),這些儀器就不能充分發(fā)揮其潛能。完備的...

2010-09-07 關(guān)鍵字: 射頻測(cè)量

用于船舶監(jiān)測(cè)報(bào)警系統(tǒng)的冗余處理模塊的數(shù)據(jù)采集單元設(shè)計(jì)

用于船舶監(jiān)測(cè)報(bào)警系統(tǒng)的冗余處理模塊的數(shù)據(jù)采集單元設(shè)計(jì)

  本文介紹一種用于船舶監(jiān)測(cè)報(bào)警系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集單元,該單元由采集模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)多通道現(xiàn)場(chǎng)各數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)采集,然后由專用的多路冗余模塊輸出至本地人機(jī)界面顯示和上位機(jī)...

2010-09-07 關(guān)鍵字: 數(shù)據(jù)采集冗余監(jiān)測(cè)

數(shù)據(jù)擷取系統(tǒng)的正確選擇

  數(shù)據(jù)擷取方式的選擇   數(shù)據(jù)擷取技術(shù)在過去 30 到 40 年間有了長(zhǎng)足的進(jìn)步。舉例來說,40 年前,在一般大學(xué)的實(shí)驗(yàn)室中,用來追蹤一缸鈉-鎢-青銅的溫度上升情形...

2010-09-03 關(guān)鍵字: 數(shù)據(jù)擷取系統(tǒng)

破損玻璃檢測(cè)器 (GBD)系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)

破損玻璃檢測(cè)器 (GBD)系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)

  引言   破損玻璃檢測(cè)器 (GBD) 主要用來檢測(cè)家庭住宅或商業(yè)樓宇門窗玻璃的破損情況。GBD 也可歸類為一種監(jiān)控設(shè)備,用以提高家庭或商業(yè)環(huán)境的安全性,避免非法進(jìn)入...

2010-09-03 關(guān)鍵字: GB

芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測(cè)試基本原理

  1 引言   本文主要討論芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中的IC測(cè)試基本原理,內(nèi)容覆蓋了基本的測(cè)試原理,影響測(cè)試決策的基本因素以及IC測(cè)試中的常用術(shù)語(yǔ)。   2 數(shù)字集...

2010-09-02 關(guān)鍵字: IC測(cè)試

基于LabVIEW的CSDB總線數(shù)據(jù)測(cè)試

基于LabVIEW的CSDB總線數(shù)據(jù)測(cè)試

  本文分析和研究了CSDB總線的協(xié)議,并介紹了通過計(jì)算機(jī)的RS-232串口及相應(yīng)電平轉(zhuǎn)換電路,基于LabVIEW7.1軟件開發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)的計(jì)算機(jī)與UUT的雙向通信。其中,支持通信的軟件實(shí)現(xiàn)...

2010-09-02 關(guān)鍵字: LabVIEWCS

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電池測(cè)試、電化學(xué)阻抗譜和半導(dǎo)體測(cè)試等測(cè)試和測(cè)量應(yīng)用需要準(zhǔn)確的電流和電壓輸出直流電源。在環(huán)境溫度變化為±5°C時(shí),設(shè)備的電流和電壓控制精度需要...

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