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標(biāo)簽 > 測試
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測試行為，一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
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DFT PLL向量，ATE怎么用？ 自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。它是SoC...
濕敏電阻是一種能夠感知環(huán)境濕度變化并將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)的傳感器。它的應(yīng)用范圍非常廣泛，包括但不限于以下幾個(gè)方面：
CMOS工藝平臺(tái)的Poly 方塊電阻有四種類型的電阻，它們分別是n型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、P型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、n 型非金屬硅化...
小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測試
負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載（E-Load）進(jìn)行測試，前面提到，負(fù)載的跳變斜率（Slew Rate）將對(duì)測試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響，然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制，常規(guī)電...
2023-02-03 標(biāo)簽：測試轉(zhuǎn)換器MOSFET 3.7k 0
如何在英特爾XDK中使用“測試”選項(xiàng)卡和Weinre
Paul Fischer解釋了如何在英特爾?XDK中使用“測試”選項(xiàng)卡和Weinre。
如今，全球已經(jīng)進(jìn)入信息時(shí)代，包羅萬象的信息網(wǎng)是由一個(gè)個(gè)光纖鏈路組合而成，光纖網(wǎng)絡(luò)為實(shí)現(xiàn)5G的萬物互聯(lián)奠定基礎(chǔ)。未來信息技術(shù)的前景依賴光網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定，無論在...
在理論篇，我們介紹了理論上車輛模擬仿真的情況，那么為了實(shí)現(xiàn)車載擁塞場景的仿真，我們需要一些相應(yīng)的測試儀表、仿真平臺(tái)和測試用例來實(shí)現(xiàn)擁塞場景的模擬工作，整...
Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器的參考設(shè)計(jì)介紹
了解在VC730 OTN測試開發(fā)平臺(tái)上運(yùn)行的Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器參考設(shè)計(jì)。 （簡明版）
2018-11-30 標(biāo)簽：測試賽靈思轉(zhuǎn)發(fā)器 3.7k 0
4片級(jí)聯(lián)參考設(shè)計(jì)板上進(jìn)行發(fā)射天線的連續(xù)波測試方案
Other Parts Discussed in Post: MMWCAS-DSP-EVM, MMWCAS-RF-EVM, AWR2243作者：Chri...
采用串行通信方式實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)中自動(dòng)測試設(shè)備和被測單元的通信設(shè)計(jì)
在某測試系統(tǒng)的開發(fā)中，需要用數(shù)據(jù)總線來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測試設(shè)備（Automatic Test Equipment，簡稱，ATE）和被測單元（Unit Under...
2020-04-09 標(biāo)簽：測試串行通信信號(hào)發(fā)生器 3.7k 0
可變電容器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、計(jì)算和應(yīng)用分析
我使用OPA189是因?yàn)樗哂蟹浅５偷氖д{(diào)電壓，而使用OPA633是因?yàn)樗哂懈咻敵鲭娏鳌?/p>
高速信號(hào)在傳輸過程中對(duì)傳輸線的阻抗有明確的要求。如果阻抗不連續(xù)，可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)完整性問題，例如信號(hào)反射、抖動(dòng)增大、誤碼率上升，甚至可能引發(fā)電磁干擾（EM...
黑盒測試（Black-box Testing，又稱為功能測試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測試）是把測試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測試時(shí)，需要測試軟件產(chǎn)品的...
關(guān)于功率放大器功率放大器，作為一種可放大交直流信號(hào)，在給定失真率條件下，能產(chǎn)生最大功率輸出以驅(qū)動(dòng)某一負(fù)載的實(shí)驗(yàn)室儀器，在MEMS測試、超聲波測試、電磁場...
Agilent N9310A射頻信號(hào)發(fā)生器的功能特性及應(yīng)用范圍
美國安捷倫 Agilent N9310A射頻信號(hào)發(fā)生器這款新型信號(hào)發(fā)生器的操作非常簡單。它不僅可生成9 KHz到3 GHz的常見射頻信號(hào)，而且利用其內(nèi)置...
2020-12-10 標(biāo)簽：測試射頻信號(hào)發(fā)生器 3.6k 0
ic自動(dòng)化測試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測試原理和測試方法
測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電...
如何區(qū)分opc ua和opc da協(xié)議和對(duì)應(yīng)的使用測試
本文介紹了opc ua和opc da兩種協(xié)議的區(qū)別和使用上的區(qū)別，分別介紹了兩種協(xié)議的測試軟件。
2023-11-01 標(biāo)簽：測試網(wǎng)關(guān)OPC 3.6k 0
使用泰克MP5000系列實(shí)現(xiàn)高密度并行測試
受人工智能的快速發(fā)展和電氣化轉(zhuǎn)型的推動(dòng)，半導(dǎo)體芯片市場的增長要求制造商在不犧牲測試精度的情況下，提高測試和驗(yàn)證的吞吐量。
連接器測試項(xiàng)目有哪些 測試項(xiàng)目介紹
連接器是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的元器件，主要用于連接電路和傳輸信號(hào)。連接器的性能直接影響到電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。因此，對(duì)連接器進(jìn)行嚴(yán)格的測試是非常...
康謀方案 | 基于AI自適應(yīng)迭代的邊緣場景探索方案
測試 ADAS/AD 系統(tǒng)時(shí)，傳統(tǒng) DoE 方法難以覆蓋駕駛邊緣場景，影響自動(dòng)駕駛性能提升。康謀 aiSim集成的aiFab方案，以貝葉斯優(yōu)化為核心，依...
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