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測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

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    封裝設(shè)計(jì)
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    直角走線
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安森美 DIODES Nidec Intel EPSON 樂鑫 Realtek ERNI電子
TE Connectivity Toshiba OMRON Sensirion Broadcom Semtech 旺宏 英飛凌
Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
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電機(jī)驅(qū)動(dòng)器 步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器 TWS BLDC 無刷直流驅(qū)動(dòng)器 濕度傳感器 光學(xué)傳感器 圖像傳感器
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語音識(shí)別 萬用表 CPLD 耦合 電路仿真 電容濾波 保護(hù)電路 看門狗
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