熱失重分析儀：基本原理、工作流程及其在實(shí)際研究中的應(yīng)用

熱失重分析儀是一種重要的材料科學(xué)研究工具，它能夠測(cè)量物質(zhì)在高溫下的質(zhì)量變化，從而提供關(guān)于材料穩(wěn)定性和熱性質(zhì)的信息。本文將介紹熱失重分析儀的基本原理、工作...

2023-08-30 標(biāo)簽：分析儀材料測(cè)量 2.3k 0

資產(chǎn)和人員追蹤產(chǎn)品解決方案

無(wú)線片上系統(tǒng)(SoC)：SmartBond DA1469x系列藍(lán)牙低能耗解決方案集成了Dialog最先進(jìn)、功能最豐富的無(wú)線連接多核微控制器單元。該解決方...

2022-02-26 標(biāo)簽：藍(lán)牙無(wú)線測(cè)量 2.3k 0

波形刷新率的概念及測(cè)量方法說(shuō)明

波形刷新率又叫波形捕獲率，指的是每秒鐘波形刷新的次數(shù)，表示為波形數(shù)每秒（wfms/s），波形刷新率越高，捕獲異常信號(hào)的概率越大。有人會(huì)覺(jué)得好奇，屏幕刷新...

2022-05-17 標(biāo)簽：示波器測(cè)量 2.3k 0

渦街流量計(jì)選擇的原則

1、抗振能力選擇 渦街流量計(jì)用不好的關(guān)鍵原因是抗振能力弱，從而導(dǎo)致測(cè)量下限不足，在現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)諸如“零點(diǎn)不干凈、小流量不指示”等問(wèn)題，因此選擇渦街流量計(jì)時(shí)，...

2023-03-29 標(biāo)簽：流量計(jì)測(cè)量 2.3k 0

8月，烏魯木齊等你！| 第十一屆全國(guó)稀土發(fā)光材料學(xué)術(shù)研討會(huì)

第十一屆全國(guó)稀土發(fā)光材料學(xué)術(shù)研討會(huì)的舉辦為稀土發(fā)光材料領(lǐng)域的學(xué)者和研究者提供一個(gè)交流學(xué)術(shù)成果、分享最新研究進(jìn)展和探討未來(lái)發(fā)展方向的平臺(tái)。這有助于促進(jìn)學(xué)術(shù)...

2023-08-16 標(biāo)簽：發(fā)光材料測(cè)量光譜 2.3k 0

白光干涉儀自動(dòng)拼接測(cè)量功能的應(yīng)用場(chǎng)景

場(chǎng)景一上圖是涂覆在電極棒的催化劑表面全景圖，整體尺寸在7mm左右，中心的催化劑區(qū)域呈低反射率特點(diǎn)，而圓環(huán)外呈高反射率特點(diǎn)，整體的輪廓尺寸和微觀的輪廓起伏...

2022-04-02 標(biāo)簽：測(cè)量干涉儀 2.3k 0

激光干涉儀：機(jī)床導(dǎo)軌平行度垂直度精密測(cè)量工具

激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量的精密儀器。廣泛應(yīng)用于光學(xué)、機(jī)械、電子等各種領(lǐng)域的測(cè)量。其中，平行度和垂直度的測(cè)量是激光干涉儀的重要應(yīng)用之一。

2023-11-08 標(biāo)簽：測(cè)量機(jī)床激光干涉儀 2.3k 0

OFDR傳感解調(diào)過(guò)程和OSI后處理功能的介紹

01概述OFDR技術(shù)通過(guò)獲得整根光纖瑞利散射信號(hào)進(jìn)行分布式應(yīng)變溫度測(cè)量，具有高精度、高分辨、分布式等特點(diǎn)。本文以O(shè)SI設(shè)備為例說(shuō)明OFDR技術(shù)傳感解調(diào)過(guò)...

2023-04-09 標(biāo)簽：光纖測(cè)量 2.3k 0

白光干涉儀有什么應(yīng)用？

白光干涉儀對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形...

2023-12-05 標(biāo)簽：檢測(cè)測(cè)量三維形貌 2.3k 0

【虹科案例】使用 TCP 分析測(cè)量握手時(shí)間

在這里，您可以清楚地看到在指定時(shí)間段內(nèi)有延長(zhǎng)的響應(yīng)時(shí)間。但為什么會(huì)延長(zhǎng)呢？是不是互聯(lián)網(wǎng)上的服務(wù)器太遠(yuǎn)？或者可能是無(wú)線局域網(wǎng)太弱？但是這些很快就不再是問(wèn)題...

2023-05-04 標(biāo)簽：TCP測(cè)量網(wǎng)絡(luò)萬(wàn)用表 2.3k 0

三維輪廓儀測(cè)粗糙度：SuperView W光學(xué)3D表面輪廓儀功能詳解

在精密制造領(lǐng)域，表面粗糙度的測(cè)量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。光學(xué)3D表面輪廓儀為這一需求提供了解決方案。在半導(dǎo)體制造、3C電子、光學(xué)加工等高精度行業(yè)，表面...

2024-07-03 標(biāo)簽：測(cè)量光學(xué)測(cè)量半導(dǎo)體制造 2.3k 0

接地線對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

接地線在電子測(cè)量中起著至關(guān)重要的作用，然而，它也可能對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生一定的影響。在本文中，我們將探討接地線對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，并提出一些應(yīng)對(duì)措施。 接地線的...

2024-06-24 標(biāo)簽：測(cè)量接地線 2.3k 0

瑞蘇盈科 FPGA：以相控陣技術(shù)革新醫(yī)療診斷與測(cè)試測(cè)量效率

相控陣技術(shù)就是通過(guò)控制陣列中各單元的信號(hào)相位，實(shí)現(xiàn)電磁波/聲波等能量的定向發(fā)射、聚焦或波束掃描，無(wú)需機(jī)械轉(zhuǎn)動(dòng)。該技術(shù)在醫(yī)療和測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用。瑞...

2026-01-16 標(biāo)簽：FPGA測(cè)量相控陣 2.3k 0