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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA的校準(zhǔn)很重要嗎?
編者注:在應(yīng)用示波器、網(wǎng)分這類(lèi)電子設(shè)備測(cè)試產(chǎn)品的時(shí)候,都建議熱機(jī)和校準(zhǔn)。減少設(shè)備和環(huán)境引入的誤差。
大多數(shù)dut都有許多不同的接口(interface),每個(gè)接口都有自己特有的協(xié)議。 **UVM agent的任務(wù)就是集中管理和這個(gè)接口相關(guān)的所有內(nèi)容**...
本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?探頭的連接方法會(huì)給波形測(cè)量結(jié)果帶來(lái)很大影響。?如果延長(zhǎng)線(xiàn)較長(zhǎng),在柵極引腳和源極引腳與測(cè)量夾具之間形成的環(huán)路會(huì)導(dǎo)致觀察到的波形與真正的波形...
上海伯東美國(guó)inTEST熱流儀提供socket板高低溫沖擊測(cè)試解決方案
應(yīng)用于信息安全, 汽車(chē)電子和網(wǎng)絡(luò)通信等行業(yè)的 socket 板, 一般由多個(gè)芯片組合. socket 板在研發(fā)階段, 需要進(jìn)行嚴(yán)格的環(huán)境溫度測(cè)試, 測(cè)試...
使用OI-EASU432型EMI掃描儀與頻譜儀對(duì)DUT進(jìn)行EMI測(cè)試實(shí)驗(yàn)方案
實(shí)驗(yàn)背景:在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)與制造流程中,電磁干擾(EMI)占據(jù)著舉足輕重的地位,是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運(yùn)作時(shí)可能釋放出高強(qiáng)度的電磁輻射,進(jìn)...
定義一個(gè)配置對(duì)象:首先,需要定義一個(gè)包含DUT配置的UVM配置對(duì)象。這個(gè)對(duì)象通常會(huì)包含被測(cè)設(shè)備的所有可配置參數(shù)。
從串行設(shè)備測(cè)試改變?yōu)椴⑿性O(shè)備測(cè)試可以顯著地增加測(cè)試系統(tǒng)吞吐量。測(cè)試執(zhí)行活動(dòng)的大部分可能涉及使用DC電源設(shè)置條件和進(jìn)行測(cè)量。配置測(cè)試系統(tǒng),使其能夠使用多個(gè)...
2023-11-29 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)DC電源電源系統(tǒng) 1.2k 0
final chk的思想是在執(zhí)行完成一個(gè)測(cè)試用例(或者一個(gè)簡(jiǎn)單的命令)之后,然后查看下當(dāng)前設(shè)計(jì)DUT的狀態(tài)。比如說(shuō)一個(gè)cacheline,在完成一筆re...
集成電路對(duì)其輸入電源快速瞬變的響應(yīng)通常是一項(xiàng)重要的測(cè)量。如果被測(cè)器件(DUT)是微功率器件,不需要輸入旁路電容,只需使用50Ω端接函數(shù)發(fā)生器驅(qū)動(dòng)電源輸入...
以更低的成本實(shí)現(xiàn)更高的半導(dǎo)體測(cè)試吞吐量
在這種環(huán)境下,ATE設(shè)計(jì)人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見(jiàn)。提高測(cè)試能力意味著主板(具有大量引腳驅(qū)動(dòng)器電子元件的驅(qū)動(dòng)板)將需要大量功率才能運(yùn)行。當(dāng)然,...
2023-06-28 標(biāo)簽:驅(qū)動(dòng)器ATEDUT 995 0
本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?在某些位置測(cè)量波形時(shí),觀測(cè)到的波形可能與實(shí)際波形不同。?理想的做法是測(cè)量位置要應(yīng)盡可能地靠近DUT,最好在引腳根部。
簡(jiǎn)儀科技銳視測(cè)控軟件SeesharpTools中的頻響函數(shù)測(cè)量
動(dòng)態(tài)信號(hào)分析中的一個(gè)常見(jiàn)應(yīng)用是測(cè)量被測(cè)件(DUT)的頻率響應(yīng)函數(shù) (Frequency Response Function,F(xiàn)RF)。通過(guò)多頻率激勵(lì)對(duì)D...
2025-11-07 標(biāo)簽:函數(shù)動(dòng)態(tài)信號(hào)DUT 810 0
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