測量儀表
提供權(quán)威的儀器、測量儀表、傳感器測量資訊和測量技術(shù)方案，包括集成電路測試、電路板測試、工控儀表、通信測試、傳感器等專業(yè)領(lǐng)域，是最專業(yè)的儀器信息網(wǎng)。
一種多通道視頻同步采集方案
鍍鋅生產(chǎn)過程中的帶鋼振動直接影響鋅層厚度及均勻性，既降低產(chǎn)品質(zhì)量，又導(dǎo)致鋅液過度消耗，增加生產(chǎn)成本。無論是通過尋找振源從根本上消除振動，還是通過電磁鐵等進(jìn)行主動減...
基于虛擬儀器的污水水質(zhì)在線監(jiān)測系統(tǒng)
水是人類生產(chǎn)生活中不可缺少的物質(zhì)資料，是寶貴的自然資源。在日常生活、工業(yè)生產(chǎn)中扮演著重要角色。隨著人類社會的發(fā)展，對水資源的過度開采和使用，水污染問題越來越嚴(yán)重，...
2012-03-27 標(biāo)簽：虛擬儀器在線監(jiān)測水質(zhì)檢測 1843
LabVIEW是自動多線程語言
一般情況下，運(yùn)行一個 VI，LabVIEW 至少會在兩個線程內(nèi)運(yùn)行它：一個界面線程（UI Thread），用于處理界面刷新，用戶對控件的操作等等；還有一個執(zhí)行線程，負(fù)責(zé) VI 除界面操作之外...
基于PXI和PCI硬件的PCB測試系統(tǒng)方案設(shè)計
結(jié)合NI PXI與PCI硬件，使用NI TestStand和LabVIEW軟件來開發(fā)一個用于測試印刷電路板和太陽能逆變器的標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)。 ...
基于LabVIEW的電機(jī)故障聲測系統(tǒng)
采用虛擬儀器技術(shù)構(gòu)建了一套電機(jī)故障聲頻檢測系統(tǒng)。系統(tǒng)基于LabVIEW虛擬儀器軟件平臺，實現(xiàn)電機(jī)聲信號的實時采集、分析和后處理，達(dá)到檢測故障電機(jī)的目的。...
2012-03-27 標(biāo)簽：LabVIEW電機(jī)故障LabVIEW聲測系統(tǒng)電機(jī)故障 4433
G.SHDSL接口卡多PVC測試技術(shù)的研究
高速數(shù)據(jù)用戶線（SHDSL）技術(shù)是ITU-U提出的一種高速對稱的傳輸技術(shù)，符合國際電聯(lián)G.991.2推薦標(biāo)準(zhǔn)，又稱 G.SHDSL［1］。隨著互聯(lián)網(wǎng)的普及，人們對上網(wǎng)速度的要求越來越高，而基于防火墻...
噪聲中的小信號高分辨率測量
一個量程10千克的秤若能分辨出1克的重量變化，那么這個秤的主要組件常常是增量累加模數(shù)轉(zhuǎn)換器。設(shè)計師需要溫度測量的精確度達(dá)到0.01度時，增量累加ADC也常常成為首選方案。增量累...
泰克解決方案助NEC電子獲得首項USB 3.0認(rèn)證
泰克公司日前宣布，其SuperSpeed USB解決方案為NEC電子符合USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的主機(jī)提供信號質(zhì)量監(jiān)測，該主機(jī)是世界首款獲得USB設(shè)計者論壇USB 3.0認(rèn)證的產(chǎn)品。 ...
泰克演示最新的HDMI 1.4a一致性測試解決方案
泰克公司日前宣布，將作為2010年HDMI巡回技術(shù)研討會的關(guān)鍵贊助商，參加分別于7月9日、12日和14日在臺北、上海和深圳舉行的系列會議。作為HDMI一致性測試解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，以及...
安捷倫推出測試高速數(shù)字通信系統(tǒng)解決方案
安捷倫科技公司日前宣布推出一系列新型儀表級時鐘恢復(fù)解決方案，非常適合對高速數(shù)字通信元器件和系統(tǒng)進(jìn)行光和電測試。該解決方案以顯著低于同類產(chǎn)品的價格提供業(yè)界最高帶...
2012-03-27 標(biāo)簽：安捷倫安捷倫高速數(shù)字通信 949
泛華測控推出PXI一體化機(jī)箱
近日，北京中科泛華測控技術(shù)有限公司（簡稱：泛華測控）設(shè)計的PXI一體化機(jī)箱正式推出市場，其有效的將PXI機(jī)箱與顯示、鍵盤、鼠標(biāo)結(jié)合為一體，使工程師們在攜帶、使用時都非...
晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟
摘要 隨著器件尺寸的持續(xù)減小，以及在器件的制造中不斷使用新材料，對晶圓級可靠性測試的要求越來越高。在器件研發(fā)過程中這些發(fā)展也對可靠性測試和建模也提出了新的要求。為了...
使用時間可控發(fā)射方法來進(jìn)行模擬電路的失效分析
時間可控發(fā)射方法（TRE）是一種常用的非入侵式波形測量方法，它能從芯片的背面探測芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的時序波形。完美的TRE系統(tǒng)能提供很高的帶寬 （》5GHz）， 很好的探測尺寸精度 （...
多層陶瓷外殼的失效分析和可靠性設(shè)計
多次陶瓷外殼以其優(yōu)良的性能被廣泛應(yīng)應(yīng)用于航天、航空、軍事電子裝備及民用投資類電子產(chǎn)品的集成電路和電子元器件的封裝，常用的陶瓷外殼有集成電路陶瓷外殼。...
2012-03-27 標(biāo)簽：可靠性設(shè)計失效分析 7299
大功率半導(dǎo)體激光器陣列熱特性分析
大功率半導(dǎo)體激光器具有高轉(zhuǎn)換效率、高可靠性及較長的使用壽命，在泵浦固體激光器、打印、材料加工、通信等方面都有著廣泛的應(yīng)用。...
2012-03-27 標(biāo)簽：半導(dǎo)體激光器半導(dǎo)體激光器熱特性分析 1905
熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致的塑封器件失效
塑封器件是指用塑料等樹脂類聚合物材料封裝的半導(dǎo)體器件。由于樹脂類材料固有的特點(diǎn)，限制了塑封器件在衛(wèi)星、軍事等一些高可靠性場合的使用［1］。雖然自20世紀(jì)70年代以來，封裝...
霍尼韋爾新材料滿足半導(dǎo)體制造導(dǎo)熱模組測試
霍尼韋爾公司電子材料部在2007年美國西部國際半導(dǎo)體設(shè)備和材料展覽會（SEMICON West）上宣布推出一種新的可重復(fù)使用的材料，它可在半導(dǎo)體加工流程中用于導(dǎo)熱模組測試。 ...
2012-03-27 標(biāo)簽：霍尼韋爾半導(dǎo)體制造半導(dǎo)體制造導(dǎo)熱模組測試霍尼韋爾 869
評定封裝可靠性水平的MSL試驗
摘要：隨著塑料封裝集成電路在眾多領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用，封裝的質(zhì)量和可靠性水平越來越受到廣大用戶的關(guān)注。作為評定和考核封裝可靠性水平的重要特征參數(shù)，除通常采用的環(huán)境...
更快地對高速存儲故障深入調(diào)試三大步驟
間歇性內(nèi)存故障處理起來可能會非常復(fù)雜。這些故障的根源可能是一種原因或多種不同原因的組合，包括BIOS錯誤、協(xié)議錯誤、信號完整性問題、硬件問題、內(nèi)存或其它子系統(tǒng)問題。盡管...
無鉛焊點(diǎn)可靠性問題分析及測試方法
隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的日新月異，微細(xì)間距器件發(fā)展起來，組裝密度越來越高，誕生了新型SMT、MCM技術(shù)，微電子器件中的焊點(diǎn)也越來越小，而其所承載的力學(xué)、電學(xué)和熱力學(xué)負(fù)荷卻越來越...
IC靜電放電的測試方法
靜電放電（ESD，electrostatic discharge）是電子工業(yè)最花代價的損壞原因之一，它會影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及公司的可獲利潤。隨著IC產(chǎn)品的制造工藝不斷微小化...
硅片級可靠性測試詳解
硅片級可靠性（WLR）測試最早是為了實現(xiàn)內(nèi)建（BIR）可靠性而提出的一種測試手段。...
綜合布線系統(tǒng)中電線電纜測試
局域網(wǎng)的安裝是從電纜開始的，電纜是網(wǎng)絡(luò)最基礎(chǔ)的部分。據(jù)統(tǒng)計，大約50%的網(wǎng)絡(luò)故障與電纜有關(guān)。...
消耗型光纖高溫測量儀的設(shè)計
本文開發(fā)的消耗型光纖高溫測量儀，克服了上述缺點(diǎn)，是一種全新的測量熔融金屬溫度的方法。其測溫精度與消耗型熱電偶相同，但測溫費(fèi)用卻大幅度降低，有著巨大的經(jīng)濟(jì)效益，完全...
泰克推出面向中國高?；A(chǔ)實驗室的示波器
泰克3月19日在北京宣布，推出面向大學(xué)本科生基礎(chǔ)實驗室的TDS1000C-EDU系列數(shù)字示波器（見圖1）。分為40MHz、60MHz和100MHz三種型號。起價7830元人民幣。 ...
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