電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。目前電路板應(yīng)力測試一般用電測法，電測法是指使用電阻應(yīng)變片的測量方法。

電阻應(yīng)變片是一種電阻式的敏感元件，它一般由基底、敏感柵、覆蓋層和引線四部分組成。工作原理是將應(yīng)變片貼在被測定物上，使其隨著被測定物的應(yīng)變一起伸縮，這樣里面的金屬箔材就隨著應(yīng)變伸長或縮短。電路板在機(jī)械性地伸長或縮短時其電阻會隨之變化。應(yīng)變片就是應(yīng)用這個原理，通過測量電阻的變化而對應(yīng)變進(jìn)行測定。

應(yīng)力測試步驟：

最后，將應(yīng)變片導(dǎo)線連接到TSK-64-64C應(yīng)力測試儀器上，即可開始應(yīng)力測試，137+柒陸壹伍+ 7083=VX。

應(yīng)力測試儀器如何選型：

深圳市品控科技開發(fā)有限公司，是一家專業(yè)研發(fā)制造應(yīng)力測試儀器的廠家。公司主要生產(chǎn)應(yīng)力測試儀器、應(yīng)變片。為3C產(chǎn)業(yè)、汽車電子、半導(dǎo)體行業(yè)提供PCB應(yīng)變測試解決方案。主營產(chǎn)品：TSK應(yīng)力測試儀（TSK-8、TSK-32、TSK-64系列）、TSK應(yīng)變片、應(yīng)變測試服務(wù)。

TSK-64-64C是一款便攜式應(yīng)力測試儀，精度高，效率快。主要用于SMT各工序測試，如分板應(yīng)力測試、點(diǎn)膠應(yīng)力測試、焊錫應(yīng)力測試、過爐應(yīng)力測試、貼片應(yīng)力測試、插件應(yīng)力測試、ICT應(yīng)力測試、FCT應(yīng)力測試、組裝應(yīng)力測試、跌落應(yīng)力測試等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測試，玻璃應(yīng)力測，以及一些結(jié)構(gòu)件的 業(yè)務(wù)交流：137+柒陸壹伍+ 7083=VX 應(yīng)力測試等等。

特點(diǎn)：儀器體積小，便放攜帶；軟件操作簡單，上手快，能快速進(jìn)行測量并根據(jù)IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)一鍵自動生成報告。對生產(chǎn)測試流程進(jìn)行完整的應(yīng)力測試分析，該系統(tǒng)在滿足常規(guī)的應(yīng)力數(shù)值分析、應(yīng)力速率分析，等基本功能要求的同時，根據(jù)客戶后續(xù)發(fā)展需求，進(jìn)行功能和通道數(shù)的擴(kuò)展（8通道、16通道、24通道、32通道、40通道、48通道、56通道、64通道可根據(jù)情況選配）。

相關(guān)參數(shù)

1、采用模塊化方式，每個應(yīng)變模塊有8個采集通道，最大可以擴(kuò)展到32通道
TSK-32-8C最少含1個8通道應(yīng)變采集卡，為8通道，可以進(jìn)行擴(kuò)展。
2、通過USB接口連接，能夠在主機(jī)硬盤上存儲長時間的數(shù)據(jù)。
3、采集信號為120/350歐姆應(yīng)變片(采用不同模塊)。
4、最高采樣率為10KHz（32通道同時采樣）。
5、操作菜單以對話框形式，中文界面，簡單快速。
6、結(jié)合國際上應(yīng)變片測試標(biāo)準(zhǔn)Intel標(biāo)準(zhǔn)和IPC-9704標(biāo)準(zhǔn)，一鍵全自動生成報告，并判斷“Pass” or“ Failed”

◆單模塊通道數(shù)：8個模擬輸入通道
◆最大采樣率：320KS/s/機(jī)箱
◆采樣模式：多通道同步采樣
◆ADC分辨率：24位
◆支持應(yīng)變式傳感器電阻值：EX-410A系列支持120Ω，EX-410B系列支持350Ω
◆支持惠斯通電橋類型：1/4 橋
◆轉(zhuǎn)換精度：3.5062nV/V/LSB
◆精度增益誤差：0.02%（已校準(zhǔn)，常規(guī)測量條件25℃,±5℃）
◆全量程范圍：±29.4mV/V（+62500uE/-55500uE）
◆端子間過壓保護(hù)：±30V
◆穩(wěn)定性：增益漂移6ppm/℃
◆機(jī)箱接口類型：USB2.0高速輸入
◆供電電源：11到30VDC，220VAC
◆工作溫度：-40℃～70℃，工作濕度：10%～90% RH，無凝結(jié)
◆存儲溫度：-40℃～85℃，存儲濕度：5%～90% RH，無凝結(jié)
◆防護(hù)等級：IP 40

審核編輯黃昊宇