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使用微芯片現(xiàn)場可編程門陣列和片上系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)編碼器應(yīng)用

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:microchip ? 作者:microchip ? 2023-04-21 09:19 ? 次閱讀
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旋轉(zhuǎn)編碼器工作原理

旋轉(zhuǎn)編碼器用于精確測量電動機的角度位置,以實現(xiàn)精確控制。這些編碼器通常安裝在電動機的軸上:

poYBAGRB8AGAN_iAAAK4eHrwBTE888.png

安裝在電機軸上會帶來明顯的系統(tǒng)限制:

中間有安裝孔的甜甜圈形印刷電路板 (PCB空間限制

電機的導(dǎo)熱系數(shù)電子設(shè)備的高工作溫度

電子設(shè)備的高溫可靠性和電子設(shè)備的使用壽命縮短

這些限制歸結(jié)為對可靠組件的要求,這些組件具有很少的自發(fā)熱和較小的物理足跡。由于這些編碼器通常以非常高的產(chǎn)量制造,因此冷卻和PCB制造的系統(tǒng)成本是重要的設(shè)計因素。這些系統(tǒng)中通常涉及的另一個設(shè)計因素是功能安全,以可靠地了解測量值是否有效,或者系統(tǒng)是否需要進入安全狀態(tài),即停止。

這些甜甜圈形 PCB 的典型直徑低至 35 毫米, 這將所選組件的物理尺寸限制在大約 10 × 10mm2 或更小.編碼器板直接受到電機產(chǎn)生的熱量的影響,在工作條件下可以達到95°C的溫度,在使用壽命的一定時間內(nèi)甚至可以達到105°C。 在這些溫度下,由于漏電流引起的電子產(chǎn)品自發(fā)熱已經(jīng)很強烈——一些半導(dǎo)體甚至可能遭受熱失控。

采用FCSG2封裝的智能融合158 SoC

Microchip為這些應(yīng)用設(shè)計了一款特定的器件:采用FCSG2封裝的SmartFusion158 SoC。該器件采用 Arm M3 微控制器,附加了大約 25.000 個邏輯元件的 FPGA 結(jié)構(gòu)和 9 × 9mm2 的優(yōu)化器件封裝。該器件針對這些惡劣的工作條件和設(shè)計限制進行了高度優(yōu)化。

pYYBAGRB8AiAb6h6AAHM33cJeZM032.png

布線優(yōu)化的封裝允許在PCB上僅有兩個信號層的情況下完全分離封裝,從而保持PCB簡單和低電平。封裝球柵中的自由空間允許為內(nèi)環(huán)放置經(jīng)濟高效的0.3 mm過孔,并將去耦電容直接放置在封裝下方,靠近封裝中間的電源引腳:

poYBAGRB8A6AR46-AAKSxV-un-0560.png

這款 SmartFusion2 器件提供 82 個 I/O,其中 70 個能夠連接到 3.3V,12 個可以本地連接到 2.5V 或通過電阻分壓器連接到 3.3V。此外,對于需要高速通信的情況,可以使用一個收發(fā)器對,其運行速度高達 5 Gbps 并支持 PCIe Gen2。片上 Arm M3 微控制器也可用于典型的內(nèi)務(wù)管理和通信目的。

由于 SmartFusion2 的功耗優(yōu)化架構(gòu)及其產(chǎn)生的小自發(fā)熱,該器件可以在接近最大指定溫度范圍 (100°C/125°C) 的環(huán)境溫度下運行。為了準確估計器件的功耗和自發(fā)熱,建議將微芯片功耗估算器用于SmartFusion2 SoC和Igloo2 FPGAPolarFire FPGA和SoC。

如上所述,編碼器數(shù)據(jù)通常是安全關(guān)鍵型的,要求FPGA設(shè)計也必須獲得安全認證或具有混合的關(guān)鍵級別。Microchip通過SmartFusion2 / Igloo2安全包(鏈接在這里)支持此類安全認證。SmartFusion2 和 Igloo2 設(shè)備已通過 IEC 61508 功能安全認證,基于使用驗證。相應(yīng)的安全包包含安全認證的開發(fā)環(huán)境Libero SoC 18.3 SP4,F(xiàn)PGA設(shè)計中經(jīng)常需要的28個IP核,這些設(shè)備和實用程序的安全手冊,用于計算硬件故障概率。

由于Microchip FPGA和SoC不受配置存儲器上的單事件翻轉(zhuǎn)(SEU)的影響,因此永久性硬件故障是安全討論所需的FIT計算的唯一因素。FIT 代表 failure in time,1 FIT 等于 109 小時內(nèi)的一次故障。對于典型的基于SRAM的FPGA,SEU引起的軟FIT取決于所選器件的確切架構(gòu)和復(fù)雜性,通常在約400 FIT的范圍內(nèi)??紤]到安全相關(guān)功能通常只占用FPGA結(jié)構(gòu)的一小部分。在此軟 FIT 之上,還添加了永久性故障。

永久性故障的FIT率來自供應(yīng)商在增加器件應(yīng)力水平時的測量數(shù)據(jù),以加速主要導(dǎo)致器件故障的老化效應(yīng)。這些測量結(jié)果是基于阿倫尼烏斯關(guān)系計算所需操作條件下硬件故障率的基礎(chǔ)

poYBAGRB8BSALWPOAAAmZJZ0AGw844.png

其中 A.F = 加速度系數(shù)。

該計算的可視化結(jié)果為:

poYBAGRB8BqAX1mFAABFKbSmchw857.png

在計算完整的FPGA時,在>90°C的環(huán)境溫度下,旋轉(zhuǎn)編碼器通常具有的工作條件,由此產(chǎn)生的FIT率可以達到100 FIT左右的故障率。對于功能安全的設(shè)計,這顯然太多了。

換句話說,要么需要保持較低的器件溫度,要么為了安全計算,保持相關(guān)功能的尺寸較小。

Microchip安全包包含適當?shù)臄?shù)據(jù)和實用程序,以確定整體設(shè)計中安全相關(guān)部分的FIT率,從而簡化設(shè)計認證。

審核編輯:郭婷

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