深入解析FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET
一、前言
在電子設(shè)計領(lǐng)域,功率MOSFET是不可或缺的關(guān)鍵元件。今天我們要詳細探討的是Fairchild Semiconductor(現(xiàn)屬于ON Semiconductor)的FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET,它具有獨特的性能特點和廣泛的應(yīng)用場景,對于電子工程師來說,深入了解這款器件的特性和參數(shù),對于優(yōu)化電路設(shè)計至關(guān)重要。
文件下載:FQU17P06-D.pdf
二、產(chǎn)品背景與整合信息
Fairchild Semiconductor已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,原編號中的下劃線(_)將改為破折號(-)。大家可通過ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)核實更新后的器件編號,獲取最新的訂購信息。若對系統(tǒng)集成有疑問,可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。
三、FQD17P06 / FQU17P06 MOSFET概述
3.1 基本描述
FQD17P06 / FQU17P06是P-Channel增強模式功率MOSFET,采用Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)制造。這種先進的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別調(diào)整,可降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度。該器件適用于開關(guān)模式電源、音頻放大器、直流電機控制和可變開關(guān)電源等應(yīng)用。
3.2 產(chǎn)品特性
- 高電流與耐壓能力:能夠承受 -12 A的連續(xù)電流和 -60 V的漏源電壓,最大導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}=135 mΩ)(在 (V{GS}=-10 V),(I_{D}=-6 A) 時)。
- 低門極電荷:典型門極電荷為21 nC,有助于降低開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
- 低Crss:典型值為80 pF,可減少米勒效應(yīng),改善開關(guān)性能。
- 100%雪崩測試:保證了器件在雪崩情況下的可靠性和穩(wěn)定性。
四、關(guān)鍵參數(shù)分析
4.1 絕對最大額定值
| 符號 | 參數(shù) | FQD17P06 / FQU17P06 | 單位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | -60 | V |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | -12 | A |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | -7.6 | A | |
| (I_{DM}) | 脈沖漏極電流 | -48 | A |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ± 25 | V |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 300 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | -12 | A |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 4.4 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) | -7.0 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) | 2.5 | W |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 44 | W | |
| 25°C以上降額 | 0.35 | W/°C | |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存儲溫度范圍 | -55 to +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接時最大引腳溫度(距外殼1/8”,5秒) | 300 | °C |
4.2 熱特性
| 符號 | 參數(shù) | FQD17P06 / FQU17P06 | 單位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 結(jié)到外殼的熱阻(最大) | 2.85 | °C / W |
| (R_{θJA}) | 結(jié)到環(huán)境的熱阻(2盎司銅最小焊盤) | 110 | °C / W |
| (R_{θJA}) | 結(jié)到環(huán)境的熱阻(1平方英寸2盎司銅焊盤) | 50 | °C / W |
4.3 電氣特性
- 關(guān)斷特性:包括漏源擊穿電壓 (B{VDS})、擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta B{VDS} / Delta T{J})、零柵壓漏極電流 (I{DSS})、柵體泄漏電流 (I{GSSF}) 和 (I{GSSR}) 等。
- 導(dǎo)通特性:如柵極閾值電壓 (V{GS(th)})、靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 和正向跨導(dǎo) (g_{FS})。
- 動態(tài)特性:涵蓋輸入電容 (C{iss})、輸出電容 (C{oss})、反向傳輸電容 (C_{rss}) 等。
- 開關(guān)特性:包括開啟延遲時間 (t{d(on)})、開啟上升時間 (t{r})、關(guān)斷延遲時間 (t{d(off)}) 和關(guān)斷下降時間 (t{f}) 等。
- 漏源二極管特性:有最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I{S})、最大脈沖漏源二極管正向電流 (I{SM})、漏源二極管正向電壓 (V{SD})、反向恢復(fù)時間 (t{rr}) 和反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr})。
五、典型性能特性
文檔中給出了多個典型性能特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、電容特性、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、柵極電荷特性等。這些曲線有助于工程師在不同工作條件下準確評估器件的性能。
六、封裝與訂購信息
6.1 封裝形式
- FQD17P06采用D-PAK封裝,通過帶盤包裝,盤尺寸為330 mm,帶寬度為16 mm,每盤2500個單位。
- FQU17P06采用I-PAK封裝,采用管裝,每管70個單位。
6.2 訂購信息
文檔提供了具體的零件編號、頂部標記、封裝和包裝方法等信息,方便工程師進行訂購。
七、測試電路與波形
文檔還給出了柵極電荷測試電路及波形、電阻性開關(guān)測試電路及波形、非鉗位電感開關(guān)測試電路及波形和峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 測試電路及波形等,這些測試電路和波形有助于工程師理解器件在不同測試條件下的工作情況,為實際應(yīng)用提供參考。
八、機械尺寸與注意事項
文檔提供了TO252(D-PAK)和TO251(I-PAK)封裝的機械尺寸圖,并提醒用戶圖紙可能會隨時更改,應(yīng)注意圖紙的修訂和日期,可通過Fairchild Semiconductor的在線包裝區(qū)域獲取最新的封裝圖紙。
九、商標與免責聲明
文檔列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司擁有的眾多商標,同時強調(diào)了公司對產(chǎn)品進行改進的權(quán)利,不承擔因產(chǎn)品應(yīng)用或使用而產(chǎn)生的任何責任,以及產(chǎn)品不授權(quán)用于生命支持設(shè)備等重要信息。
十、總結(jié)
FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET憑借其出色的性能特點和廣泛的應(yīng)用場景,為電子工程師提供了一個可靠的選擇。在實際設(shè)計中,工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮器件的各項參數(shù)和性能特性,合理選擇和使用該器件,以實現(xiàn)電路的優(yōu)化設(shè)計。同時,要密切關(guān)注ON Semiconductor的相關(guān)信息更新,確保使用到最新的產(chǎn)品和技術(shù)。大家在使用這款器件的過程中,有沒有遇到過什么特別的問題或者有什么獨特的應(yīng)用經(jīng)驗?zāi)??歡迎在評論區(qū)分享交流。
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