Onsemi FDMA1029PZ雙P溝道MOSFET:超便攜應用的理想之選
在電子設備小型化、高性能化的今天,電池充電開關等關鍵部件的性能和尺寸成為了設計的關鍵考量因素。Onsemi的FDMA1029PZ雙P溝道MOSFET以其出色的性能和緊湊的封裝,為手機和其他超便攜應用提供了理想的解決方案。
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產(chǎn)品概述
FDMA1029PZ專門設計用于手機和其他超便攜設備的電池充電開關,采用單封裝形式,集成了兩個獨立的P溝道MOSFET。其低導通電阻特性有效降低了傳導損耗,在常見的共源配置下,還能實現(xiàn)雙向電流流動,為電路設計提供了更大的靈活性。
產(chǎn)品特性
電氣性能
- 電壓與電流額定值:具備 -20V 的漏源電壓($V{DS}$)和 ±12V 的柵源電壓($V{GS}$),連續(xù)漏極電流可達 -3.1A,脈沖電流更是高達 -6A,能滿足不同應用場景下的電流需求。
- 導通電阻:在$V{GS}=-4.5V$時,$R{DS(ON)}$僅為 95mΩ;$V{GS}=-2.5V$時,$R{DS(ON)}$為 141mΩ。低導通電阻有助于減少功耗,提高設備的效率。
- 閾值電壓:柵極閾值電壓$V{GS(th)}$在$I{D}=-250mu A$且參考溫度為$25^{circ}C$時,范圍在 -1.0V 到 -4V 之間。
封裝與散熱
- MicroFET 2x2 封裝:該封裝尺寸小巧,高度僅 0.8mm ,卻擁有出色的散熱性能,非常適合線性模式應用。
- 熱阻特性:在不同的安裝條件下,熱阻表現(xiàn)有所不同。例如,在單操作模式下,安裝在$1in^{2}$的 2oz 銅焊盤上時,熱阻$R_{theta JA}$為$86^{circ}C/W$;而在雙操作模式下,同樣的安裝條件熱阻為$69^{circ}C/W$。良好的散熱性能有助于保證設備在高負載下的穩(wěn)定性。
其他特性
電氣特性詳解
關斷特性
- 漏源擊穿電壓:$BVDSS$在$V{GS}=0V$、$I{D}=-250mu A$時為 -20V,且其擊穿電壓溫度系數(shù)為 -12mV/°C。
- 零柵壓漏極電流:$IDSS$在$V{DS}=-16V$、$V{GS}=0V$時為 -1A。
- 柵體泄漏電流:$IGSS$在$V{GS}=±12V$、$V{DS}=0V$時為 ±10A。
導通特性
- 正向跨導:$gFS$在$V{DS}=-10V$、$I{D}=-3.1A$時為 -11S。
動態(tài)特性
- 輸入電容:$C{iss}$在$V{DS}=-10V$、$V_{GS}=0V$、$f = 1.0MHz$時為 540pF。
- 輸出電容:$C_{oss}$為 120pF。
- 反向傳輸電容:$C_{rss}$為 100pF。
開關特性
- 導通延遲時間:$td(on)$在$V{DD}=-10V$、$I{D}=-1A$、$V{GS}=-4.5V$、$R{GEN}=6Ω$時,范圍在 13ns 到 24ns 之間。
- 關斷延遲時間:為 59ns。
- 關斷下降時間:為 36ns。
- 總柵極電荷:$Qg$在$V{DS}=-10V$、$I{D}=-3.1A$、$V_{GS}=-4.5V$時為 10nC。
典型特性曲線
文檔中給出了多個典型特性曲線,包括導通區(qū)域特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、導通電阻隨溫度的變化、導通電阻隨柵源電壓的變化、傳輸特性、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、柵極電荷特性、電容特性、最大安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散以及瞬態(tài)熱響應曲線等。這些曲線為工程師在實際設計中提供了重要的參考依據(jù),幫助他們更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。
封裝與訂購信息
FDMA1029PZ采用 WDFN6 2x2, 0.65P(MicroFET 2x2)封裝,標記為 029。它以 7” 卷軸、8mm 膠帶的形式包裝,每卷 3000 個。對于有需求的工程師,可以參考文檔第 5 頁的詳細訂購和運輸信息。
Onsemi 的 FDMA1029PZ雙P溝道MOSFET憑借其優(yōu)秀的電氣性能、緊湊的封裝和良好的散熱特性,為超便攜設備的電池充電開關設計提供了可靠的解決方案。在實際應用中,工程師可以根據(jù)具體的設計需求,結(jié)合器件的各項特性進行合理的電路設計。你在使用類似 MOSFET 器件時,遇到過哪些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗。
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