FDD7N25LZ N - 通道 UniFET? MOSFET 深度解析
前言
在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響著整個電路的效率和穩(wěn)定性。今天我們要深入探討的是 Fairchild(現(xiàn)屬 ON Semiconductor)的 FDD7N25LZ N - 通道 UniFET? MOSFET,它具有諸多出色的特性,適用于多種應(yīng)用場景。
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產(chǎn)品背景與變更說明
Fairchild 已成為 ON Semiconductor 的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分 Fairchild 可訂購的零件編號需要更改,原編號中的下劃線(_)將改為破折號(-)。大家可通過 ON Semiconductor 網(wǎng)站(www.onsemi.com)核實更新后的器件編號。
產(chǎn)品特性
電氣特性優(yōu)越
- 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=3.1A) 時,典型導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)} = 430mΩ),有助于降低功率損耗,提高電路效率。
- 低柵極電荷:典型值為 12nC,可實現(xiàn)快速開關(guān),減少開關(guān)損耗。
- 低 (C_{rss}):典型值為 8pF,能有效降低米勒效應(yīng),提升開關(guān)性能。
- 雪崩測試:經(jīng)過 100% 雪崩測試,具備良好的抗雪崩能力,增強了器件的可靠性。
- ESD 改進能力:提高了靜電放電防護能力,降低了因靜電導(dǎo)致器件損壞的風(fēng)險。
- 符合 RoHS 標準:滿足環(huán)保要求,適用于對環(huán)保有嚴格要求的應(yīng)用場景。
熱特性良好
熱阻 (R{θJC}) 最大為 (2.2^{circ}C/W),(R{θJA}) 最大為 (110^{circ}C/W),能夠有效地將熱量散發(fā)出去,保證器件在正常溫度范圍內(nèi)工作。
應(yīng)用領(lǐng)域
- 顯示設(shè)備:適用于 LCD/LED/PDP TV 等,為顯示設(shè)備的電源部分提供穩(wěn)定的開關(guān)控制。
- 消費電器:在各種消費電器中,如冰箱、洗衣機等,可實現(xiàn)高效的功率轉(zhuǎn)換。
- 照明:用于照明系統(tǒng)的電源轉(zhuǎn)換,提高照明效率。
- 不間斷電源(UPS):為 UPS 提供可靠的開關(guān)性能,確保在停電時能及時切換電源。
- AC - DC 電源:在 AC - DC 電源轉(zhuǎn)換中發(fā)揮重要作用,提高電源的穩(wěn)定性和效率。
產(chǎn)品參數(shù)
最大額定值
| 符號 | 參數(shù) | FDD7N25LZTM | 單位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 250 | V |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ±20 | V |
| (I_{D}) | 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=25^{circ}C)) | 6.2 | A |
| (I_{D}) | 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=100^{circ}C)) | 3.7 | A |
| (I_{DM}) | 漏極電流(脈沖) | 25 | A |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 115 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | 5.5 | A |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 5.6 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) | 10 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 56 | W |
| (P_{D}) | 25°C 以上降額 | 0.45 | W/°C |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和儲存溫度范圍 | -55 至 +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接時最大引腳溫度(距外殼 1/8 英寸,5 秒) | 300 | °C |
電氣特性
截止特性
- (BV_{DSS})(漏源擊穿電壓):在 (I{D}=250μA),(V{GS}=0V),(T_{C}=25^{circ}C) 時,為 250V。
- (Delta BV{DSS}/Delta T{J})(擊穿電壓溫度系數(shù)):在 (I_{D}=250μA),參考 25°C 時,典型值為 (0.25V/^{circ}C)。
- (I_{DSS})(零柵壓漏極電流):在 (V{DS}=250V),(V{GS}=0V) 時,最大值為 1μA;在 (V{DS}=200V),(T{C}=125^{circ}C) 時,最大值為 10μA。
- (I_{GSSF})(正向柵體泄漏電流):在 (V{GS}=20V),(V{DS}=0V) 時,最大值為 10μA。
- (I_{GSSR})(反向柵體泄漏電流):在 (V{GS}=-20V),(V{DS}=0V) 時,最大值為 -10μA。
導(dǎo)通特性
- (V_{GS(th)})(柵極閾值電壓):在 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250μA) 時,最小值為 1.0V,最大值為 2.5V。
- (R_{DS(on)})(靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻):在 (V{GS}=10V),(I{D}=3.1A) 時,典型值為 0.43Ω,最大值為 0.55Ω;在 (V{GS}=5V),(I{D}=3.1A) 時,典型值為 0.45Ω,最大值為 0.57Ω。
- (g_{FS})(正向跨導(dǎo)):在 (V{DS}=20V),(I{D}=3.1A) 時,典型值為 7S。
動態(tài)特性
- (C_{iss})(輸入電容):在 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) 時,典型值為 480pF,最大值為 635pF。
- (C_{oss})(輸出電容):典型值為 65pF,最大值為 85pF。
- (C_{rss})(反向傳輸電容):典型值為 8pF,最大值為 12pF。
- (Q_{g(tot)})(10V 時的總柵極電荷):在 (V{DS}=250V),(I{D}=6.2A),(V_{GS}=10V) 時,典型值為 12nC,最大值為 16nC。
- (Q_{gs})(柵源柵極電荷):典型值為 1.5nC。
- (Q_{gd})(柵漏“米勒”電荷):典型值為 4nC。
開關(guān)特性
- (t_{d(on)})(導(dǎo)通延遲時間):典型值為 10ns,最大值為 30ns。
- (t_{r})(導(dǎo)通上升時間):在 (V{DD}=250V),(I{D}=6.2A),(V{GS}=10V),(R{G}=25Ω) 時,典型值為 15ns,最大值為 40ns。
- (t_{d(off)})(關(guān)斷延遲時間):典型值為 75ns,最大值為 160ns。
- (t_{f})(關(guān)斷下降時間):典型值為 30ns,最大值為 70ns。
漏源二極管特性
- (I_{S})(最大連續(xù)漏源二極管正向電流):為 6.2A。
- (I_{SM})(最大脈沖漏源二極管正向電流):為 25A。
- (V_{SD})(漏源二極管正向電壓):在 (V{GS}=0V),(I{SD}=6.2A) 時,典型值為 1.4V。
- (t_{rr})(反向恢復(fù)時間):在 (V{GS}=0V),(I{SD}=6.2A),(dI_{F}/dt = 100A/μs) 時,典型值為 130ns。
- (Q_{rr})(反向恢復(fù)電荷):典型值為 0.6μC。
典型性能特性
文檔中給出了多個典型性能特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨殼溫的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師更全面地了解器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。
測試電路與波形
文檔還提供了柵極電荷測試電路及波形、電阻性開關(guān)測試電路及波形、非鉗位電感開關(guān)測試電路及波形以及峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 測試電路及波形等,為工程師進行器件測試和驗證提供了參考。
總結(jié)
FDD7N25LZ N - 通道 UniFET? MOSFET 憑借其優(yōu)越的電氣特性、良好的熱特性和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,成為電子工程師在設(shè)計功率開關(guān)電路時的一個不錯選擇。在實際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的電路需求,結(jié)合器件的參數(shù)和性能特性,合理選擇和使用該器件,以確保電路的穩(wěn)定性和可靠性。大家在使用過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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