Onsemi FDBL86363-F085 N溝道MOSFET深度解析
在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響到整個系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。本文將深入剖析Onsemi的FDBL86363-F085 N溝道MOSFET,為電子工程師們提供全面的技術(shù)參考。
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產(chǎn)品概述
FDBL86363-F085是Onsemi推出的一款80V、240A的N溝道POWERTRENCH MOSFET。它具有多項出色的特性,如典型的 (R{DS(on)}=1.5 mOmega)((V{GS}=10 V),(I{D}=80 A))和典型的 (Q{g(tot)}=130 nC)((V{GS}=10 V),(I{D}=80 A)),同時具備UIS(非鉗位電感開關(guān))能力,并且通過了AEC - Q101認(rèn)證,符合PPAP(生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序)要求,采用無鉛工藝,符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。
應(yīng)用領(lǐng)域
該MOSFET適用于多個汽車相關(guān)的應(yīng)用場景,包括汽車發(fā)動機控制、動力總成管理、電磁閥和電機驅(qū)動,以及12V系統(tǒng)的集成啟動/交流發(fā)電機主開關(guān)。這些應(yīng)用場景對MOSFET的性能和可靠性要求極高,而FDBL86363-F085憑借其出色的特性能夠很好地滿足需求。
關(guān)鍵參數(shù)與特性
最大額定值
在 (T_{J}=25^{circ} C) 的條件下,其主要額定值如下:
- 連續(xù)漏極電流:受硅片限制。
- 脈沖漏極電流((T_{C}=25^{circ} C)):參考圖4。
- 功率耗散 (P_{D}):357W。
- 熱阻 (R{theta J A}):43 °C/W ,它是結(jié)到殼和殼到環(huán)境熱阻之和,其中殼熱參考定義為漏極引腳的焊接安裝表面。(R{theta J C}) 通過設(shè)計保證,而 (R_{theta J A}) 由電路板設(shè)計決定,此處給出的最大額定值是基于安裝在1平方英寸2盎司銅焊盤上的情況。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓 (B{V D S S}):在 (I{D}=250 A),(V_{GS}=0 V) 時,最小值為80V。
- 漏源泄漏電流 (I{D S S}):在 (V{D S}=80 V),(V{G S}=0 V) 條件下,(T{J}=25^{circ}C) 時最大值為1μA,(T_{J}=175^{circ}C) 時最大值為1mA。
- 柵源泄漏電流 (I{G S S}):在 (V{G S}= pm20 V) 時,最大值為 (pm100 nA)。
導(dǎo)通特性
- 柵源閾值電壓 (V{G S(th)}):在 (V{G S}=V{D S}),(I{D}=250 A) 時,典型值為2.0 - 3.0V,最大值為4.0V。
- 漏源導(dǎo)通電阻 (R{D S(on)}):在 (I{D}=80 A),(V_{G S}=10V),(T =25°C) 時,典型值為1.5mΩ,最大值為2.0mΩ;在 (T = 175°C) 時,典型值為3.1mΩ,最大值為4.1mΩ。
動態(tài)特性
- 輸入電容 (C{i s s}):在 (V{D S}=25 V),(V_{G S}=0V),(f = 1 MHz) 時,典型值為10000pF。
- 輸出電容 (C_{o s s}):典型值為1540pF。
- 反向傳輸電容 (C_{r s s}):典型值為70pF。
- 柵極電阻 (R_{g}):在 (f=1MHz) 時,典型值為2.8Ω。
- 總柵極電荷 (Q{g(ToT)}):在 (V{G S}= 0) 到10V,(V{D D}=64V),(I{D}=80A) 時,典型值為130nC,最大值為169nC。
開關(guān)特性
- 導(dǎo)通時間 (t{on}):在 (V{D D}=40 V),(I{D}=80 A),(V{G S}= 10 V),(R_{G E N}=6) 時,典型值為133ns。
- 導(dǎo)通延遲時間 (t_{d(on)}):典型值為39ns。
- 上升時間 (t_{r}):典型值為63ns。
- 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}):典型值為61ns。
- 下降時間 (t_{f}):典型值為33ns。
- 關(guān)斷時間 (t_{off}):典型值為140ns。
漏源二極管特性
反向恢復(fù)電荷 (Q_{r r}) 典型值為118nC。
典型特性曲線
文檔中給出了多個典型特性曲線,這些曲線直觀地展示了MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn):
- 歸一化功率耗散與殼溫關(guān)系:隨著殼溫升高,功率耗散能力下降。
- 最大連續(xù)漏極電流與殼溫關(guān)系:漏極電流受硅片限制,且隨溫度升高而降低。
- 歸一化最大瞬態(tài)熱阻抗與脈沖持續(xù)時間關(guān)系:不同占空比下,熱阻抗隨脈沖持續(xù)時間變化。
- 峰值電流能力與脈沖持續(xù)時間關(guān)系:溫度高于25°C時,需對峰值電流進行降額處理。
- 正向偏置安全工作區(qū):展示了在不同電壓和電流條件下的安全工作范圍。
- 轉(zhuǎn)移特性:體現(xiàn)了柵源電壓與漏極電流的關(guān)系。
- 飽和特性:不同柵源電壓下,漏極電流隨漏源電壓的變化情況。
- 未鉗位電感開關(guān)能力:給出了雪崩電流與雪崩時間的關(guān)系。
- 正向二極管特性:展示了反向漏極電流與體二極管正向電壓的關(guān)系。
- (R_{D S(on)}) 與柵極電壓關(guān)系:導(dǎo)通電阻隨柵極電壓的變化情況。
- 歸一化 (R_{D S(on)}) 與結(jié)溫關(guān)系:導(dǎo)通電阻隨結(jié)溫升高而增大。
- 歸一化柵極閾值電壓與溫度關(guān)系:柵極閾值電壓隨溫度變化。
- 歸一化漏源擊穿電壓與結(jié)溫關(guān)系:漏源擊穿電壓隨結(jié)溫變化。
- 電容與漏源電壓關(guān)系:輸入、輸出和反向傳輸電容隨漏源電壓的變化情況。
- 柵極電荷與柵源電壓關(guān)系:不同漏源電壓下,柵極電荷隨柵源電壓的變化情況。
機械封裝與尺寸
該MOSFET采用H - PSOF8L封裝,文檔詳細(xì)給出了封裝的尺寸信息,包括各個引腳和關(guān)鍵部位的尺寸范圍,同時還提供了標(biāo)記圖和焊盤推薦尺寸。在設(shè)計電路板時,工程師需要嚴(yán)格按照這些尺寸要求進行布局,以確保MOSFET的正常安裝和使用。
總結(jié)與思考
Onsemi的FDBL86363 - F085 N溝道MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷和出色的UIS能力,在汽車電子等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。然而,在實際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的電路需求和工作條件,綜合考慮各項參數(shù)和特性,合理選擇和使用該MOSFET。例如,在高溫環(huán)境下,需要關(guān)注導(dǎo)通電阻的變化對系統(tǒng)效率的影響;在開關(guān)頻率較高的應(yīng)用中,要考慮柵極電荷對開關(guān)速度和功耗的影響。同時,還需要注意電路板的布局和散熱設(shè)計,以確保MOSFET能夠穩(wěn)定可靠地工作。大家在使用這款MOSFET時,有沒有遇到過什么特殊的問題或者有什么獨特的應(yīng)用經(jīng)驗?zāi)??歡迎在評論區(qū)分享交流。
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