Onsemi FDBL86063 MOSFET:高性能N溝道器件的深度解析
在電子設計領域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導體場效應晶體管)是至關重要的元件,廣泛應用于各種電路中。今天,我們將深入探討Onsemi的FDBL86063 N溝道MOSFET,了解其特性、應用和技術細節(jié)。
文件下載:FDBL86063-D.PDF
一、產品概述
FDBL86063是Onsemi推出的一款100V、240A的N溝道MOSFET,采用POWERTRENCH技術。它具有低導通電阻、低柵極電荷等優(yōu)點,并且符合無鉛和RoHS標準,適用于多種工業(yè)應用。
二、關鍵特性
電氣特性
- 低導通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=80A) 的條件下,典型 (R_{DS(on)} = 2mOmega)。低導通電阻意味著在導通狀態(tài)下,MOSFET的功率損耗更小,能夠提高電路的效率。這對于需要處理大電流的應用尤為重要,比如工業(yè)電池開關。
- 低柵極電荷:典型 (Q{g(tot)} = 73nC)((V{GS}=10V),(I_{D}=80A))。低柵極電荷可以減少開關損耗,提高開關速度,使MOSFET能夠在高頻下工作,適用于對開關速度要求較高的電路。
- UIS能力:該器件具有單脈沖雪崩能量 (E_{AS}=160mJ),這意味著它在承受感性負載時,能夠更好地抵抗雪崩擊穿,提高了器件的可靠性和穩(wěn)定性。
其他特性
- 寬工作溫度范圍:工作和存儲溫度范圍為 (-55^{circ}C) 到 (+175^{circ}C),能夠適應各種惡劣的工作環(huán)境。
- 低泄漏電流:在 (V{DS}=100V),(V{GS}=0V),(T{J}=25^{circ}C) 時,漏源泄漏電流 (I{DSS}) 僅為 (1mA);在 (T_{J}=175^{circ}C) 時,最大為 (1.5mA)。低泄漏電流可以減少靜態(tài)功耗,提高電路的整體效率。
三、典型應用
工業(yè)電池開關
FDBL86063的低導通電阻和高電流承載能力使其非常適合用于工業(yè)電池開關。在電池充電和放電過程中,它能夠有效地控制電流的通斷,減少能量損耗,延長電池的使用壽命。
12V系統(tǒng)主開關
作為12V系統(tǒng)的主開關,FDBL86063可以快速、可靠地切換電路,確保系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。其低柵極電荷特性使得開關速度快,能夠滿足系統(tǒng)對快速響應的要求。
四、最大額定值
電壓和電流額定值
- 漏源電壓 (V_{DSS}):最大為100V,這決定了該MOSFET能夠承受的最大電壓,在設計電路時需要確保實際工作電壓不超過這個值。
- 柵源電壓 (V_{GS}):范圍為 (pm20V),超出這個范圍可能會損壞MOSFET的柵極。
- 漏極電流 (I_{D}):連續(xù)電流((V{GS}=10V),(T{C}=25^{circ}C))為240A,脈沖電流需要參考圖4。在實際應用中,要根據具體的工作條件來選擇合適的電流值,避免器件過流損壞。
功率和溫度額定值
- 功率耗散 (P_{D}):最大為357W,在 (25^{circ}C) 以上需要以 (2.38W/^{circ}C) 的速率降額。這意味著隨著溫度的升高,器件能夠承受的功率會逐漸降低,需要合理設計散熱系統(tǒng)。
- 工作和存儲溫度 (T{J}),(T{STG}):范圍為 (-55^{circ}C) 到 (+175^{circ}C),在不同的溫度環(huán)境下,器件的性能可能會有所變化,需要在設計時考慮溫度對器件的影響。
熱阻
- 結到殼熱阻 (R_{theta JC}):為 (0.42^{circ}C/W),這反映了熱量從芯片結到封裝外殼的傳導能力。較小的熱阻意味著熱量能夠更快地散發(fā)出去,有利于提高器件的可靠性。
- 結到環(huán)境最大熱阻 (R_{theta JA}):為 (43^{circ}C/W),它與電路板設計有關。在設計電路板時,需要合理布局,以降低結到環(huán)境的熱阻,確保器件在正常工作溫度范圍內。
五、電氣特性詳解
關斷特性
- 漏源擊穿電壓 (B_{V DSS}):在 (I{D}=250A),(V{GS}=0V) 時,最小為100V,這是MOSFET能夠承受的最大漏源電壓,超過這個電壓可能會導致器件擊穿。
- 漏源泄漏電流 (I_{DSS}):如前面所述,在不同溫度下有不同的值,反映了器件在關斷狀態(tài)下的泄漏情況。
- 柵源泄漏電流 (I_{GSS}):在 (V_{GS}=pm20V) 時,最大為 (pm100nA),這是柵極的泄漏電流,較小的泄漏電流可以減少柵極的功耗。
導通特性
導通電阻 (R_{DS(on)}) 是MOSFET的重要參數之一,典型值為 (2.6mOmega)。它決定了器件在導通狀態(tài)下的功率損耗,低導通電阻可以提高電路的效率。
動態(tài)特性
包括電容和柵極電阻等參數。例如,電容 (C_{oss}) 等參數會影響MOSFET的開關速度和損耗,在高頻應用中需要特別關注。
開關特性
如開通時間、關斷時間等,這些參數決定了MOSFET的開關速度,對于需要快速切換的電路非常重要。
漏源二極管特性
源 - 漏二極管的正向電壓、反向恢復時間等參數,影響著二極管的性能,在一些需要使用二極管的電路中需要考慮這些參數。
六、典型特性曲線分析
功率耗散與溫度關系
從圖1可以看出,隨著外殼溫度 (T_{C}) 的升高,功率耗散會逐漸降低。這是因為溫度升高會導致器件的性能下降,需要降低功率來保證器件的安全運行。在設計散熱系統(tǒng)時,需要根據這個曲線來確定合適的散熱方案。
最大連續(xù)漏極電流與溫度關系
圖2顯示了最大連續(xù)漏極電流 (I{D}) 隨外殼溫度 (T{C}) 的變化。隨著溫度的升高,最大連續(xù)漏極電流會逐漸減小。在實際應用中,需要根據工作溫度來選擇合適的電流值,避免器件過流損壞。
瞬態(tài)熱阻抗
圖3展示了歸一化的最大瞬態(tài)熱阻抗與脈沖持續(xù)時間的關系。在短時間脈沖工作時,器件能夠承受更高的功率,但隨著脈沖持續(xù)時間的增加,熱阻抗會增大,需要注意器件的溫度變化。
峰值電流能力
圖4給出了不同溫度下的峰值電流能力。在 (25^{circ}C) 以上,峰值電流需要根據公式進行降額。這對于需要承受脈沖電流的應用非常重要,例如在開關電源中。
七、封裝和訂購信息
封裝
FDBL86063采用H - PSOF8L 11.68x9.80封裝,這種封裝具有良好的散熱性能和電氣性能。
訂購信息
每盤2000個,采用帶盤包裝。如果需要了解帶盤規(guī)格,可參考相關的Tape and Reel Packaging Specifications Brochure(BRD8011/D)。
八、總結
Onsemi的FDBL86063 N溝道MOSFET以其低導通電阻、低柵極電荷、高UIS能力等優(yōu)點,成為工業(yè)電池開關和12V系統(tǒng)主開關等應用的理想選擇。在設計電路時,需要充分考慮其最大額定值、電氣特性和典型特性曲線,合理選擇參數,確保器件在安全、可靠的條件下工作。同時,要注意散熱設計,以保證器件的性能和壽命。大家在實際應用中是否遇到過類似MOSFET的散熱問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經驗。
-
MOSFET
+關注
關注
151文章
10834瀏覽量
235070 -
工業(yè)應用
+關注
關注
0文章
258瀏覽量
15892
發(fā)布評論請先 登錄
Onsemi FDBL86063 MOSFET:高性能N溝道器件的深度解析
評論