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onsemi碳化硅MOSFET NVH4L032N065M3S:高性能解決方案

lhl545545 ? 2026-05-07 15:10 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET NVH4L032N065M3S:高性能解決方案

在電子工程領(lǐng)域,功率半導(dǎo)體器件的性能對整個系統(tǒng)的效率和可靠性起著至關(guān)重要的作用。今天,我們來深入了解一下安森美(onsemi)的碳化硅(SiC)MOSFET——NVH4L032N065M3S,看看它有哪些獨特的特性和應(yīng)用場景。

文件下載:NVH4L032N065M3S-D.PDF

產(chǎn)品概述

NVH4L032N065M3S是一款650V的碳化硅MOSFET,屬于EliteSiC系列,采用TO - 247 - 4L封裝。它具有一系列出色的特性,使其在眾多應(yīng)用中表現(xiàn)卓越。

主要特性

低導(dǎo)通電阻

在 (V{GS}=18V) 時,典型的 (R{DS(on)} = 32mOmega),低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗更低,從而提高了系統(tǒng)的效率。這對于需要處理高功率的應(yīng)用來說尤為重要,比如汽車充電器和DC - DC轉(zhuǎn)換器。

超低柵極電荷

柵極總電荷 (Q_{G(tot)} = 55nC),超低的柵極電荷使得器件在開關(guān)過程中所需的驅(qū)動能量更少,能夠?qū)崿F(xiàn)更快的開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗。

高速開關(guān)與低電容

輸出電容 (C_{oss}=114pF),低電容特性使得器件在開關(guān)過程中能夠快速充放電,進(jìn)一步提高了開關(guān)速度,降低了開關(guān)損耗,適用于高頻應(yīng)用。

雪崩測試與可靠性

該器件經(jīng)過100%雪崩測試,并且符合AEC - Q101標(biāo)準(zhǔn),具備PPAP能力,這意味著它在汽車等對可靠性要求極高的應(yīng)用中能夠穩(wěn)定工作。同時,它是無鹵的,符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)(豁免7a),并且在二級互連處是無鉛的。

應(yīng)用場景

汽車車載充電器

在電動汽車的車載充電器中,NVH4L032N065M3S的低導(dǎo)通電阻和高速開關(guān)特性能夠有效提高充電效率,減少充電時間,同時降低充電器的發(fā)熱,提高系統(tǒng)的可靠性。

電動汽車/混合動力汽車的DC - DC轉(zhuǎn)換器

對于電動汽車和混合動力汽車的DC - DC轉(zhuǎn)換器,該器件能夠在高壓和高功率的環(huán)境下穩(wěn)定工作,實現(xiàn)高效的電壓轉(zhuǎn)換,為車輛的電氣系統(tǒng)提供穩(wěn)定的電源

關(guān)鍵參數(shù)

最大額定值

參數(shù) 條件 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 650 V
柵源電壓 (V_{GS}) - 8/+22 V
連續(xù)漏極電流 (I_{D}) (T_{C}=25^{circ}C) A
(T_{C}=100^{circ}C) 30 A
功率耗散 (P_{D}) (T_{C}=25^{circ}C) 187 W
(T_{C}=100^{circ}C) W
二極管電流 (I_{S}) (V_{GS}=-3V) 29
連續(xù)源漏電流(體二極管) (I_{S}) (T{C}=100^{circ}C),(V{GS}=-3V) 16 A
單脈沖雪崩能量 (E_{AS}) (I_{LPK}=16.7A),(L = 1mH) 139 mJ
工作溫度范圍 (T{J}, T{stg}) °C
焊接引腳溫度 (T_{L}) 270 °C

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。例如,30A的連續(xù)漏極電流是受封裝限制的,如果受最大結(jié)溫限制,功率芯片的最大漏極電流可達(dá)35A。單脈沖雪崩能量 (E{AS}) 是基于起始結(jié)溫 (T{J}=25^{circ}C)、電感 (L = 1mH)、雪崩電流 (I{AS}=16.7A)、電源電壓 (V{DD}=100V) 和柵源電壓 (V_{GS}=18V) 計算得出的。

熱特性

熱阻 (R_{theta JA})(結(jié)到環(huán)境)為40,需要注意的是,整個應(yīng)用環(huán)境會影響熱阻值,它不是一個常數(shù),僅在特定條件下有效。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (V{(BR)DSS}):在 (V{GS}=0V),(I{D}=1mA),(T{J}=25^{circ}C) 時的具體值未給出。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta V_{(BR)DSS}/Delta T):為90mV/°C。
  • 漏電流 (I{DSS}):在 (V{DS}=650V),(T{J}=25^{circ}C) 時未給出,在 (V{DS}=650V),(T_{J}=175^{circ}C) 時最大為500μA。
  • 柵源漏電流 (I{GSS}):在 (V{GS}=-8/+22V),(V_{DS}=0V) 時最大為±1.0。

導(dǎo)通特性

  • 導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}):在 (V{GS}=18V) 時典型值為32mΩ,最大值為44mΩ;在 (V{GS}=15V),(I{D}=15A),(T{J}=25^{circ}C) 時為41mΩ;在 (V{GS}=15V),(I{D}=15A),(T{J}=175^{circ}C) 時為49mΩ。
  • 柵極閾值電壓 (V_{TH}):在2 - 4V之間。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):典型值為9.9。

電荷、電容與柵極電阻

  • 輸入電容 (C_{iss}):為1410pF。
  • 輸出電容 (C_{oss}):為114pF。
  • 反向傳輸電容 (C_{rss}):為9.2pF。
  • 總柵極電荷 (Q{G}):在 (V{DD}=400V),(I_{D}=15A) 時為55nC。
  • 柵源電荷 (Q{GS}) 和柵漏電荷 (Q{GD}) 未給出具體值。
  • 柵極電阻 (R_{G}):在 (f = 1MHz) 時未給出具體值。

開關(guān)特性

在 (V{GS}=-3/18V),(V{DD}=400V),(I{D}=15A),(R{G}=4.7Omega),(T_{J}=25^{circ}C) 條件下:

  • 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}) 為31ns。
  • 上升時間 (t_{r}) 為12ns。
  • 下降時間 (t_{f}) 未給出。
  • 開通開關(guān)損耗 (E_{ON}) 為33μJ。
  • 關(guān)斷開關(guān)損耗 (E_{OFF}) 未給出。
  • 總開關(guān)損耗 (E_{TOT}) 為49μJ。

在 (T{J}=175^{circ}C) 時,開通延遲時間 (t{d(on)}) 為7.8ns,上升時間 (t{r}) 為12ns,下降時間 (t{f}) 為11ns,開通開關(guān)損耗 (E{ON}) 為31μJ,關(guān)斷開關(guān)損耗 (E{OFF}) 為25μJ,總開關(guān)損耗未給出。

源漏二極管特性

  • 正向二極管電壓 (V{SD}):在 (I{SD}=15A),(V{GS}=-3V),(T{J}=25^{circ}C) 時未給出具體值。
  • 反向恢復(fù)時間 (t{rr}):在 (V{GS}=-3V),(I{S}=15A),(dl/dt = 1000A/μs),(V{DS}=400V),(T_{J}=25^{circ}C) 時為15.5ns。
  • 充電時間 (t_{a}) 為8.9ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 (Q_{RR}) 為72nC。
  • 反向恢復(fù)能量 (E_{REC}) 為4.6μJ。
  • 峰值反向恢復(fù)電流 (I_{RRM}) 為9.3A。

典型特性

文檔中還給出了一系列典型特性曲線,包括輸出特性、轉(zhuǎn)移特性、導(dǎo)通電阻與柵極電壓、漏極電流、結(jié)溫的關(guān)系,電容特性、柵極電荷特性、反向?qū)ㄌ匦?、安全工作區(qū)、雪崩電流與脈沖時間的關(guān)系、最大功耗與殼溫的關(guān)系、電感開關(guān)損耗與漏極電流、漏極電壓、柵極電阻的關(guān)系以及熱響應(yīng)特性等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解器件在不同條件下的性能,為電路設(shè)計提供參考。

封裝尺寸

該器件采用TO - 247 - 4L封裝,文檔中詳細(xì)給出了封裝的尺寸信息,包括各個尺寸的最小值、標(biāo)稱值和最大值。在進(jìn)行PCB設(shè)計時,工程師需要根據(jù)這些尺寸信息合理布局,確保器件的安裝和散熱。

總結(jié)

總的來說,安森美(onsemi)的NVH4L032N065M3S碳化硅MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷、高速開關(guān)和高可靠性等特性,在汽車車載充電器和DC - DC轉(zhuǎn)換器等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。電子工程師設(shè)計相關(guān)電路時,可以充分利用這些特性,提高系統(tǒng)的性能和效率。同時,在使用過程中,要嚴(yán)格遵守器件的最大額定值和工作條件,確保器件的正常工作。你在實際應(yīng)用中是否使用過類似的碳化硅MOSFET呢?遇到過哪些問題?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗。

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