onsemi碳化硅MOSFET NVBG020N120SC1:高性能解決方案
在電子工程師的日常設(shè)計中,選擇合適的功率器件至關(guān)重要。今天,我們來深入了解一下安森美(onsemi)的碳化硅(SiC)MOSFET——NVBG020N120SC1,看看它能為我們的設(shè)計帶來哪些優(yōu)勢。
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關(guān)鍵參數(shù)與特性
基本參數(shù)
NVBG020N120SC1具有出色的電氣性能。其漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)高達1200V,最大漏源導通電阻(RDS(ON) MAX)在20V時為28mΩ,典型值為20mΩ,最大連續(xù)漏極電流(ID MAX)可達98A。這些參數(shù)使得該MOSFET能夠在高電壓、大電流的應用場景中穩(wěn)定工作。
特性亮點
- 超低柵極電荷:典型的總柵極電荷(QG(tot))僅為220nC,這意味著在開關(guān)過程中能夠減少柵極驅(qū)動損耗,提高開關(guān)速度。
- 低有效輸出電容:典型的輸出電容(Coss)為258pF,有助于降低開關(guān)損耗,提高效率。
- 100%雪崩測試:經(jīng)過嚴格的雪崩測試,保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性和穩(wěn)定性。
- AEC - Q101認證:符合汽車級標準,適用于汽車電子等對可靠性要求極高的應用場景。
- 無鹵且符合RoHS標準:環(huán)保特性使得該器件在綠色電子設(shè)計中具有優(yōu)勢。
典型應用場景
汽車車載充電器
在汽車車載充電器的設(shè)計中,需要高效、可靠的功率器件來實現(xiàn)電能的轉(zhuǎn)換。NVBG020N120SC1的高電壓、低導通電阻和低開關(guān)損耗特性,能夠有效提高充電器的效率和功率密度,減少發(fā)熱,延長充電器的使用壽命。
電動汽車/混合動力汽車的DC - DC轉(zhuǎn)換器
對于電動汽車和混合動力汽車的DC - DC轉(zhuǎn)換器,需要能夠承受高電壓和大電流的器件。該MOSFET的高耐壓和大電流能力,以及出色的開關(guān)性能,能夠滿足DC - DC轉(zhuǎn)換器的設(shè)計要求,為汽車的電氣系統(tǒng)提供穩(wěn)定的電源。
最大額定值與熱阻
最大額定值
該器件的最大額定值涵蓋了多個方面,包括電壓、電流、功率和溫度等。例如,漏源電壓(VDSS)最大為1200V,柵源電壓(VGS)的范圍為 - 15V至 + 25V,推薦的柵源電壓(VGSop)在Tc < 175°C時為 - 5V至 + 20V。連續(xù)漏極電流(ID)在不同條件下有不同的值,在Tc = 25°C的穩(wěn)態(tài)下為98A,在Ta = 25°C時為8.6A。功率耗散(PD)在不同條件下也有所不同,這些參數(shù)為工程師在設(shè)計電路時提供了重要的參考。
熱阻
熱阻是衡量器件散熱性能的重要指標。該MOSFET的結(jié)到殼的穩(wěn)態(tài)熱阻(ReUC)為0.32°C/W,結(jié)到環(huán)境的穩(wěn)態(tài)熱阻(RUA)為41°C/W。了解熱阻特性有助于工程師合理設(shè)計散熱方案,確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)運行。
電氣特性
關(guān)斷特性
在關(guān)斷狀態(tài)下,漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)在VGS = 0V、ID = 1mA時為1200V,其溫度系數(shù)(V(BR)DSS/TJ)為0.5V/°C。零柵壓漏極電流(IDSS)在TJ = 25°C、VDS = 1200V時為100μA,在TJ = 175°C時為1mA。柵源泄漏電流(IGSS)在VGS = + 25/ - 15V、VDS = 0V時為±1μA。
導通特性
柵極閾值電壓(VGS(th))在VGS = VDS、ID = 20mA時為1.8V至4.3V,推薦的柵極電壓為 - 5V至 + 20V。漏源導通電阻(RDS(ON))在VGS = 20V、ID = 60A、TJ = 25°C時典型值為20mΩ,最大值為28mΩ;在TJ = 175°C時,典型值為35mΩ,最大值為50mΩ。正向跨導(gfs)在VDS = 20V、ID = 60A時典型值為34S。
電荷、電容與柵極電阻
輸入電容(Ciss)在VGS = 0V、f = 1MHz、VDS = 800V時為2943pF,輸出電容(Coss)為258pF,反向傳輸電容(CRSS)為24pF??倴艠O電荷(QG(TOT))在VGS = - 5/20V、VDS = 600V、ID = 80A時為220nC,閾值柵極電荷(QG(TH))為33nC,柵源電荷(QGS)為66nC,柵漏電荷(QGD)為63nC。柵極電阻(RG)在f = 1MHz時為1.6Ω至2Ω。
開關(guān)特性
該MOSFET的開關(guān)特性表現(xiàn)出色。開啟延遲時間(td(ON))為22ns至35ns,上升時間(tr)為20ns至32ns,關(guān)斷延遲時間(td(OFF))為42ns至67ns,下降時間(tf)為9ns至18ns。開啟開關(guān)損耗(EON)為461μJ,關(guān)斷開關(guān)損耗(EOFF)為400μJ,總開關(guān)損耗(Etot)為861μJ。
漏源二極管特性
連續(xù)漏源二極管正向電流(ISD)在VGS = - 5V、TJ = 25°C時為46A,脈沖漏源二極管正向電流(ISDM)為392A。正向二極管電壓(VSD)在VGS = - 5V、ISD = 30A、TJ = 25°C時為3.7V,反向恢復時間(trr)為31ns,反向恢復電荷(Qrr)為228nC。
封裝與訂購信息
NVBG020N120SC1采用D2PAK - 7L封裝,這種封裝具有良好的散熱性能和機械穩(wěn)定性。訂購時,每盤800個,采用帶盤包裝。如果需要了解帶盤規(guī)格的詳細信息,可以參考安森美的Tape and Reel Packaging Specifications Brochure,BRD8011/D。
總結(jié)
安森美(onsemi)的碳化硅MOSFET NVBG020N120SC1憑借其出色的電氣性能、豐富的特性和廣泛的應用場景,為電子工程師在設(shè)計高電壓、大電流的電路時提供了一個優(yōu)秀的選擇。在實際應用中,工程師需要根據(jù)具體的設(shè)計要求,合理選擇器件,并結(jié)合其最大額定值、熱阻和電氣特性等參數(shù),進行優(yōu)化設(shè)計,以確保電路的性能和可靠性。你在設(shè)計中是否使用過類似的碳化硅MOSFET呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。
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