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onsemi碳化硅MOSFET(NTBG020N090SC1)技術(shù)剖析

lhl545545 ? 2026-05-08 16:25 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET(NTBG020N090SC1)技術(shù)剖析

在電子工程領(lǐng)域,功率器件的性能對整個系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性起著關(guān)鍵作用。今天,我們來深入探討 onsemi 推出的碳化硅(SiC)MOSFET——NTBG020N090SC1,看看它有哪些獨特之處。

文件下載:NTBG020N090SC1-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTBG020N090SC1 是一款 EliteSiC 系列的碳化硅 MOSFET,采用 D2PAK - 7L 封裝,具備 900V 的耐壓能力,典型導(dǎo)通電阻低至 20mΩ((V{GS}=15V)),當 (V{GS}=18V) 時,典型導(dǎo)通電阻更是可低至 16mΩ。這種低導(dǎo)通電阻特性使得該器件在功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中能夠有效降低功耗,提高系統(tǒng)效率。

產(chǎn)品特性

低導(dǎo)通電阻

前面提到,該 MOSFET 在不同 (V_{GS}) 下具有低導(dǎo)通電阻,這有助于減少導(dǎo)通損耗,提高能源轉(zhuǎn)換效率。在實際應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻可以降低發(fā)熱,延長器件使用壽命,同時也能提升整個系統(tǒng)的可靠性。

超低柵極電荷

其柵極總電荷 (Q_{G(tot)} = 200nC),超低的柵極電荷意味著在開關(guān)過程中所需的驅(qū)動能量較少,從而可以降低驅(qū)動電路的功耗,提高開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗。

低有效輸出電容

有效輸出電容 (C_{oss}=295pF),低輸出電容能夠減少開關(guān)過程中的充放電時間,降低開關(guān)損耗,提高開關(guān)頻率,使系統(tǒng)能夠在更高的頻率下穩(wěn)定運行。

雪崩測試

該器件經(jīng)過 100% 雪崩測試,這表明它在承受雪崩能量時具有良好的可靠性,能夠在惡劣的工作條件下保持穩(wěn)定性能。

環(huán)保特性

此器件是無鹵的,并且符合 RoHS 標準(豁免 7a),二級互連采用無鉛工藝(2LI),符合環(huán)保要求。

典型應(yīng)用

該 MOSFET 適用于多種應(yīng)用場景,如不間斷電源(UPS)、DC - DC 轉(zhuǎn)換器、升壓逆變器等。在這些應(yīng)用中,其高性能特性能夠充分發(fā)揮作用,提高系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。

最大額定值

參數(shù) 條件
漏源電壓 (V_{DSS}) - 900V
柵源電壓 (V_{GS}) (T_{C}<175^{circ}C) +22 / - 8V
連續(xù)漏極電流 (I_{D}) (T_{C}=25^{circ}C),RoJC(注 2) -
連續(xù)漏極電流 (I_{D}) (T_{C}=25^{circ}C),RUC(注 2) -
脈沖漏極電流 (I_{DM}) (T_{A}=25^{circ}C) 448A
結(jié)溫 (T{J})、儲存溫度 (T{stg}) - -
雪崩能量 (E_{AS}) (I{L}=23A{pk}),(L = 1mH)(注 4) 264mJ

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱特性

參數(shù) 符號 最大值 單位
結(jié)到殼熱阻 (R_{θJC}) - 0.31 (^{circ}C/W)
結(jié)到環(huán)境熱阻 (R_{θJA}) - 41 (^{circ}C/W)

熱特性對于功率器件的性能和可靠性至關(guān)重要。合理的熱阻設(shè)計能夠確保器件在工作過程中產(chǎn)生的熱量及時散發(fā)出去,避免因過熱而損壞。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (V{(BR)DSS}):在 (V{GS}=0V),(I_{D}=1mA) 時,最小值為 900V。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù) (V{(BR)DSS}/T{J}):在 (I_{D}=1mA) 時,為 440mV/°C。
  • 零柵壓漏極電流 (I{DSS}):在 (V{GS}=0V),(V{DS}=900V),(T{J}=25^{circ}C) 時為 100μA;(T_{J}=175^{circ}C) 時為 250μA。
  • 柵源泄漏電流 (I{GSS}):在 (V{GS}= + 22 / - 8V),(V_{DS}=0V) 時為 ±1μA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:典型值為 2.6V。
  • 推薦柵極電壓:為 - 5V。
  • 導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):典型值為 20mΩ,最大值為 28mΩ。
  • 正向跨導(dǎo) (g{Fs}):在 (V{DS}=20V),(I_{D}=60A) 時,典型值為 49S。

電荷、電容及柵極電阻特性

  • 輸入電容 (C_{iss}):典型值為 4415pF。
  • 輸出電容 (C{oss}):在 (V{DS}=450V) 時為 295pF。
  • 柵極總電荷 (Q{G}):在 (V{GS}=-5/15V),(V_{DS}=720V) 時為 200nC。

開關(guān)特性

  • 開通延遲時間:在 (V{GS}=-5/15V),(V{DS}=720V),(I{D}=60A),(R{G}=2.5Ω),感性負載條件下,典型值為 - (文檔未明確給出)。
  • 關(guān)斷延遲時間:典型值為 58ns。
  • 開通開關(guān)損耗 (E_{ON}):典型值為 1551μJ。
  • 關(guān)斷開關(guān)損耗 (E_{OFF}):典型值為 179μJ。

漏源二極管特性

  • 連續(xù)漏源二極管正向電流 (I{SD}):在 (V{GS}=-5V),(T_{J}=25^{circ}C) 時為 148A。
  • 脈沖漏源二極管正向電流 (I{SDM}):在 (V{GS}=-5V),(T_{J}=25^{circ}C) 時為 448A。
  • 正向二極管電壓 (V{SD}):在 (V{GS}=-5V),(I{SD}=30A),(T{J}=25^{circ}C) 時為 3.7V。

典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度和柵源電壓的變化、轉(zhuǎn)移特性、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、柵源電壓與總電荷的關(guān)系、電容與漏源電壓的關(guān)系、無鉗位電感開關(guān)能力、最大連續(xù)漏極電流與殼溫的關(guān)系、安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散以及結(jié)到環(huán)境的瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解器件的性能和工作特性,從而進行合理的設(shè)計和應(yīng)用。

機械尺寸

該器件采用 D2PAK - 7L 封裝,文檔詳細給出了其機械尺寸,包括各引腳和封裝的最小、最大尺寸等信息,這對于 PCB 設(shè)計和布局非常重要。

訂購信息

器件型號 封裝 包裝數(shù)量及方式
NTBG020N090SC1 D2PAK - 7L 800 個/卷帶包裝

對于需要使用該器件的工程師來說,了解訂購信息可以方便采購。

總的來說,onsemi 的 NTBG020N090SC1 碳化硅 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷、低有效輸出電容等特性,在功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。但在實際設(shè)計中,工程師還需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合其各項特性和參數(shù)進行合理的選擇和設(shè)計。大家在使用這款器件的過程中,有沒有遇到過什么問題或者有什么獨特的應(yīng)用經(jīng)驗?zāi)??歡迎在評論區(qū)分享。

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