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onsemi碳化硅MOSFET NTBG020N120SC1:高性能解決方案

lhl545545 ? 2026-05-08 16:30 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET NTBG020N120SC1:高性能解決方案

在現(xiàn)代電力電子應(yīng)用中,碳化硅(SiC)MOSFET憑借其卓越的性能逐漸成為工程師們的首選。今天,我們就來詳細(xì)探討一下安森美(onsemi)的一款碳化硅MOSFET——NTBG020N120SC1。

文件下載:NTBG020N120SC1-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTBG020N120SC1屬于EliteSiC系列,采用D2PAK - 7L封裝。它具備諸多出色的特性,適用于多種典型應(yīng)用場(chǎng)景。

產(chǎn)品特性

  • 低導(dǎo)通電阻:典型的 (R_{DS(on)}) 為 20 mΩ,能有效降低導(dǎo)通損耗,提高系統(tǒng)效率。
  • 超低柵極電荷:(Q_{G(tot)} = 220 nC),有助于實(shí)現(xiàn)高速開關(guān),減少開關(guān)損耗。
  • 電容高速開關(guān):(C_{oss} = 258 pF),使開關(guān)速度更快,同時(shí)降低開關(guān)過程中的能量損耗。
  • 雪崩測(cè)試:經(jīng)過 100% 雪崩測(cè)試,保證了產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性。
  • 寬溫度范圍:工作結(jié)溫 (T_{J}) 可達(dá) 175°C,能適應(yīng)較為嚴(yán)苛的工作環(huán)境。
  • 環(huán)保特性:該器件為無鹵產(chǎn)品,符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),且二級(jí)互連采用無鉛 2LI 工藝。

典型應(yīng)用

  • 不間斷電源(UPS):在 UPS 系統(tǒng)中,NTBG020N120SC1 的低損耗和高速開關(guān)特性有助于提高電源的轉(zhuǎn)換效率和響應(yīng)速度。
  • DC - DC 轉(zhuǎn)換器:能有效提升轉(zhuǎn)換器的性能,減少能量損耗。
  • 升壓逆變器:為升壓逆變器提供高效、可靠的功率轉(zhuǎn)換解決方案。

產(chǎn)品參數(shù)

最大額定值

在 (T_{J} = 25^{circ}C) 條件下,該器件的各項(xiàng)最大額定值如下: 參數(shù) 符號(hào) 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 1200 V
柵源電壓 (V_{GS}) -15/+25 V
推薦柵源電壓((T_{C} < 175^{circ}C)) (V_{GSop}) -5/+20 V
穩(wěn)態(tài)連續(xù)漏極電流((T_{C} = 25^{circ}C)) (I_{D}) 98 A
功率耗散((T_{C} = 25^{circ}C)) (P_{D}) 468 W
穩(wěn)態(tài)連續(xù)漏極電流((T_{A} = 25^{circ}C)) (I_{D}) 8.6 A
功率耗散((T_{A} = 25^{circ}C)) (P_{D}) 3.7 W
脈沖漏極電流((T_{A} = 25^{circ}C)) (I_{DM}) 392 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 (T{J}, T{stg}) -55 至 +175 °C
源極電流(體二極管 (I_{S}) 46 A
單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 23 A, L = 1 mH)) (E_{AS}) 264 mJ
焊接最大引腳溫度(距外殼 1/8″ 處,5 s) (T_{L}) 300 °C

需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號(hào) 最大值 單位
結(jié)到殼穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{θJC}) 0.32 °C/W
結(jié)到環(huán)境穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{θJA}) 41 °C/W

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(I{D} = 1 mA) 時(shí)為 1200 V,溫度系數(shù) (V{(BR)DSS}/T_{J}) 為 0.5 V/°C。
  • 零柵壓漏極電流:(I{DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(T{J} = 25^{circ}C),(V{DS} = 1200 V) 時(shí)為 100 μA;在 (T_{J} = 175^{circ}C) 時(shí)為 1 mA。
  • 柵源泄漏電流:(I{GSS}) 在 (V{GS} = +25 / -15 V),(V_{DS} = 0 V) 時(shí)為 ±1 μA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:在 (V{GS} = V{DS}),(I_{D} = 20 mA) 時(shí),范圍為 1.8 - 4.3 V。
  • 推薦柵極電壓:-5 至 +20 V。
  • 漏源導(dǎo)通電阻:在 (V{GS} = 20 V),(I{D} = 60 A),(T{J} = 25^{circ}C) 時(shí),典型值為 20 mΩ,最大值為 28 mΩ;在 (T{J} = 175^{circ}C) 時(shí),典型值為 35 mΩ,最大值為 50 mΩ。
  • 正向跨導(dǎo):在 (V{DS} = 20 V),(I{D} = 60 A) 時(shí),典型值為 34 S。

電荷、電容及柵極電阻

參數(shù) 符號(hào) 測(cè)試條件 典型值 單位
輸入電容 (C_{iss}) (V{GS} = 0 V),(f = 1 MHz),(V{DS} = 800 V) 2943 pF
輸出電容 (C_{oss}) - 258 pF
反向傳輸電容 (C_{rss}) - 24 pF
總柵極電荷 (Q_{G(TOT)}) (V{GS} = -5 / 20 V),(V{DS} = 600 V),(I_{D} = 80 A) 220 nC
閾值柵極電荷 (Q_{G(TH)}) - 33 nC
柵源電荷 (Q_{GS}) - 66 nC
柵漏電荷 (Q_{GD}) - 63 nC
柵極電阻 (R_{G}) (f = 1 MHz) 1.6 - 2 Ω

開關(guān)特性

參數(shù) 符號(hào) 測(cè)試條件 典型值 單位
導(dǎo)通延遲時(shí)間 (t_{d(ON)}) (V_{GS} = -5 / 20 V) 22 - 35 ns
上升時(shí)間 (t_{r}) (V{DS} = 800 V),(I{D} = 80 A),(R_{G} = 2 Ω) 電感負(fù)載 20 - 32 ns
關(guān)斷延遲時(shí)間 (t_{d(OFF)}) (V{GS} = -5 / 20 V),(V{DS} = 800 V),(I{D} = 80 A),(R{G} = 2 Ω) 電感負(fù)載 42 - 67 ns
下降時(shí)間 (t_{f}) (V{GS} = -5 / 20 V),(V{DS} = 800 V),(I{D} = 80 A),(R{G} = 2 Ω) 電感負(fù)載 9 - 18 ns
導(dǎo)通開關(guān)損耗 (E_{ON}) - 461 μJ
關(guān)斷開關(guān)損耗 (E_{OFF}) - 400 μJ
總開關(guān)損耗 (E_{tot}) - 861 μJ

漏源二極管特性

  • 脈沖漏源二極管正向電流:(I_{SDM}) 最大值為 392 A。
  • 漏源二極管正向電壓:(V_{SD}) 典型值為 3.7 V。

典型特性曲線

文檔中還給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、傳輸特性、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、柵源電壓與總電荷的關(guān)系、電容與漏源電壓的關(guān)系、無鉗位電感開關(guān)能力、最大連續(xù)漏極電流與殼溫的關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散以及結(jié)到殼瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線能幫助工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn),從而進(jìn)行更合理的設(shè)計(jì)。

機(jī)械尺寸與封裝信息

該器件采用 D2PAK - 7L(TO - 263 - 7L HV)封裝,文檔詳細(xì)給出了封裝的尺寸信息,包括各部分的最小、最大尺寸。同時(shí),還提供了通用標(biāo)記圖和推薦的焊盤圖案。訂購(gòu)信息顯示,NTBG020N120SC1 以 800 個(gè)/卷帶盤的形式發(fā)貨。

總結(jié)

安森美(onsemi)的 NTBG020N120SC1 碳化硅 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷、低電容高速開關(guān)等出色特性,為 UPS、DC - DC 轉(zhuǎn)換器和升壓逆變器等應(yīng)用提供了高性能的解決方案。工程師在設(shè)計(jì)相關(guān)電路時(shí),可以充分利用其各項(xiàng)參數(shù)和典型特性曲線,優(yōu)化電路性能。不過,在實(shí)際應(yīng)用中,還需要根據(jù)具體的工作條件對(duì)器件的性能進(jìn)行驗(yàn)證,以確保系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。大家在使用這款器件時(shí),有沒有遇到過什么特別的問題或者有什么獨(dú)特的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)?zāi)兀繗g迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

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