探索NID5001N:具備溫度與電流限制的自保護(hù)FET
在電子設(shè)計領(lǐng)域,功率MOSFET是至關(guān)重要的元件,而ON Semiconductor的NID5001N自保護(hù)FET憑借其先進(jìn)的技術(shù)和豐富的特性,成為眾多工程師的理想選擇。下面,我們就來深入了解一下這款產(chǎn)品。
文件下載:NID5001N-D.PDF
產(chǎn)品概述
NID5001N屬于HDPlus系列功率MOSFET,它采用了ON Semiconductor最新的MOSFET技術(shù)工藝,在實現(xiàn)每硅面積最低導(dǎo)通電阻的同時,還集成了智能特性。其集成的熱限和電流限制功能協(xié)同工作,可提供短路保護(hù)。此外,該器件還具備集成的漏極 - 柵極鉗位,使其能夠在雪崩模式下承受高能量,同時為意外電壓瞬變提供額外的安全裕度。而集成的柵極 - 源極鉗位則提供了靜電放電(ESD)保護(hù)。
產(chǎn)品特性
低導(dǎo)通電阻
NID5001N具有低(R{DS(on)})特性,這有助于降低功率損耗,提高系統(tǒng)效率。在(V{GS}=10V)時,典型的(R_{DS(on)})為23mΩ。
電流限制與熱保護(hù)
- 電流限制:能夠有效限制電流,避免因過流對器件造成損壞。
- 熱關(guān)斷與自動重啟:當(dāng)溫度過高時,器件會自動進(jìn)入熱關(guān)斷狀態(tài),待溫度降低后又能自動重啟,確保系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。
短路保護(hù)
集成的短路保護(hù)功能可以在短路發(fā)生時迅速做出響應(yīng),保護(hù)器件和整個電路系統(tǒng)。
雪崩能量規(guī)格
該器件明確規(guī)定了雪崩能量,能夠在雪崩模式下承受1215mJ的能量,這對于應(yīng)對突發(fā)的高能量沖擊非常重要。
低噪聲開關(guān)
通過 slew rate控制,實現(xiàn)低噪聲開關(guān),減少對周圍電路的干擾。
過壓鉗位保護(hù)
集成的過壓鉗位保護(hù)功能可以有效防止過壓對器件造成損壞。
環(huán)保封裝
提供無鉛封裝選項,符合環(huán)保要求。
最大額定值
| 在(T_{J}=25^{circ}C)(除非另有說明)的條件下,NID5001N的最大額定值如下: | 額定值 | 符號 | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 內(nèi)部鉗位的漏源電壓 | (V_{DSS}) | 42 | Vdc | |
| 內(nèi)部鉗位的漏柵電壓((R_{GS}=1.0MΩ)) | (V_{DGR}) | 42 | Vdc | |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | - | Vdc | |
| 連續(xù)漏極電流 | (I_{D}) | - | A | |
| 功率耗散((T{A}=25^{circ}C),注1)((T{A}=25^{circ}C),注1)((T_{A}=25^{circ}C),注2) | (P_{D}) | 64、1.0、1.56 | W | |
| 熱阻,結(jié)到殼 結(jié)到環(huán)境(注2) | (R{θJC})、(R{θJA})、(R_{θBA}) | 1.95、120、80 | °C/W | |
| 單脈沖漏源雪崩能量((V{DD}=25Vdc),(V{GS}=5.0Vdc)) | (E_{AS}) | 1215 | mJ | |
| 工作和儲存溫度范圍 | - | -55 to 150 | °C |
需要注意的是,超過最大額定值的應(yīng)力可能會損壞器件,最大額定值僅為應(yīng)力額定值,并不意味著在推薦工作條件之上可以正常工作。長時間暴露在推薦工作條件之上的應(yīng)力下可能會影響器件的可靠性。
電氣特性
| 在(T_{J}=25^{circ}C)(除非另有說明)的條件下,NID5001N的電氣特性如下: | 測試條件 | 符號 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ((V{GS}=0Vdc),(I{D}=250mu Adc)) ((V{GS}=0Vdc),(I{D}=250mu Adc),(T_{J}=150^{circ}C)) | (V_{(BR)DSS}) | - | - | 50 | V | |
| ((V{DS}=32Vdc),(V{GS}=0Vdc)) | - | - | - | 5.0 | - | |
| ((V{GS}=5.0Vdc),(V{DS}=0Vdc)) | - | - | - | 100 | - | |
| ((V{GS}=10Vdc),(I{D}=5.0Adc),(T_{J}@150^{circ}C)) | (R_{DS(on)}) | - | - | 29.55 | mΩ | |
| ((V{GS}=5.0Vdc),(I{D}=5.0Adc),(T_{J}@150^{circ}C)) | (R_{DS(on)}) | - | - | 34 | mΩ | |
| 源漏正向?qū)妷?/td> | (V_{SD}) | - | 0.80 | - | V | |
| 關(guān)斷時間 | (t_{off}) | 86 | - | 95 | ns | |
| 導(dǎo)通轉(zhuǎn)換速率 | (-dV{DS}/dt{on}) | - | - | - | V/μs | |
| (V_{GS}=5.0Vdc) | (T_{LIM(off)}) | 150 | - | - | °C | |
| (電路復(fù)位) | (T_{LIM(on)}) | - | 160 | - | °C | |
| 溫度限制 | - | 135 | - | - | °C |
典型性能曲線
文檔中還提供了一系列典型性能曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系、二極管正向電壓與電流的關(guān)系以及最大額定正向偏置安全工作區(qū)等。這些曲線可以幫助工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。
封裝信息
| NID5001N采用DPAK封裝,有兩種型號可供選擇: | 器件 | 封裝 | 包裝形式 |
|---|---|---|---|
| NID5001NT4 | DPAK | 2500/卷帶式包裝 | |
| NID5001NT4G | DPAK(無鉛) | 2500/卷帶式包裝 |
同時,文檔還提供了DPAK封裝的機械尺寸和推薦安裝腳印等詳細(xì)信息,方便工程師進(jìn)行設(shè)計和布局。
總結(jié)
NID5001N自保護(hù)FET以其豐富的特性和出色的性能,為電子工程師提供了一個可靠的解決方案。無論是在短路保護(hù)、熱管理還是低導(dǎo)通電阻方面,都表現(xiàn)出色。在實際設(shè)計中,工程師可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合器件的特性和參數(shù),合理選擇和使用NID5001N,以實現(xiàn)高效、穩(wěn)定的電路設(shè)計。大家在使用這款器件的過程中,有沒有遇到過什么特別的問題或者有趣的應(yīng)用案例呢?歡迎在評論區(qū)分享。
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