一顆芯片的測試時間，直接決定了每小時能測多少顆。

測試時間越長，成本越高。到了量產(chǎn)階段，每縮短1秒，乘以年產(chǎn)量，就是一筆可觀的節(jié)省。

但優(yōu)化測試時間不能犧牲測試質(zhì)量。今天聊聊5個既安全又有效的方法。

01 方法一：合并測試項(xiàng)

很多測試程序把相關(guān)參數(shù)拆成多個測試項(xiàng)分開測，每次都要重新配置硬件、重新等待穩(wěn)定。

優(yōu)化思路很簡單，把能在同一個條件下測的參數(shù)合并到一起。

舉個例子，多個輸出引腳的輸出電壓（VOH/VOL）完全可以在同一個循環(huán)里測完，而不是每個引腳單獨(dú)做一個測試項(xiàng)。

這樣做的好處是減少測試項(xiàng)數(shù)量，節(jié)省硬件重配和等待時間。

02 方法二：減少不必要的延時

新手寫程序習(xí)慣加很多等待時間，比如上電后等10ms，寄存器配置后等1ms，測量前等5ms。

這些延時往往是經(jīng)驗(yàn)值，不是精確值。很多可以縮短甚至直接去掉。

那么用示波器實(shí)測，找到最小的穩(wěn)定時間從而進(jìn)行優(yōu)化。比如原來看規(guī)格書寫了10ms，實(shí)測發(fā)現(xiàn)3ms就穩(wěn)定了，那就改成3ms。

這個做法的效果很明顯，尤其是對那些有很多等待的程序，單顆測試時間能大幅縮短。

03 方法三：并行測試

如果你的測試系統(tǒng)支持多站點(diǎn)并行測試，一定要用起來。

2站點(diǎn)并行，理想情況下測試時間減半；4站點(diǎn)并行，減到四分之一。

但有幾個注意事項(xiàng)：并行測試需要每個站點(diǎn)的硬件資源獨(dú)立，不同站點(diǎn)之間的干擾要評估，程序也需要專門適配。

這是最直接的降本手段，不過硬件門檻較高。

04 方法四：優(yōu)化測試順序

測試項(xiàng)的順序安排會影響整體時間。

你可以把容易Fail的測試項(xiàng)放在前面。如果芯片在前面就Fail了，后面的測試項(xiàng)直接跳過，不用浪費(fèi)時間。

另外，把需要相同硬件配置的測試項(xiàng)放在一起，減少來回切換。把耗時的測試項(xiàng)（比如大容量存儲器測試）盡量往后放。

這樣做雖然不減少單顆Pass芯片的測試時間，但能減少Fail芯片的測試時間。在良率不高的階段，效果尤其明顯。

05 方法五：減少通信開銷

測試系統(tǒng)和測試程序之間，每次讀寫寄存器、讀取數(shù)據(jù)都有通信開銷。

你可以試試這幾招：批量讀寫，一次讀取多個寄存器的值而不是一個一個讀；減少日志輸出，調(diào)試模式下可以打印詳細(xì)信息，量產(chǎn)模式下只輸出必要數(shù)據(jù)；使用更高效的通信協(xié)議。

對于通信頻繁的測試項(xiàng)，這個優(yōu)化帶來的提升很明顯。

06 一個真實(shí)例子

某項(xiàng)目，一顆芯片測試時間8.5秒。經(jīng)過優(yōu)化后：

合并了3個相關(guān)的漏電流測試項(xiàng)，節(jié)省0.5秒。

縮短了上電延時，從5ms降到1.5ms，節(jié)省0.3秒。

調(diào)整了測試順序，把容易Fail的項(xiàng)提前，F(xiàn)ail芯片平均節(jié)省2秒。

關(guān)閉了量產(chǎn)模式下的詳細(xì)日志，節(jié)省0.2秒。

最終測試時間降到7.5秒。按年產(chǎn)量100萬顆計算，節(jié)省了100萬秒，約278小時。再按每小時測試成本算，省了十幾萬。

測試時間優(yōu)化，不是把程序改快然后祈禱不出問題。

它需要你理解每個測試項(xiàng)真正需要的時間，用數(shù)據(jù)說話（示波器實(shí)測、統(tǒng)計分析），在質(zhì)量和成本之間找到平衡。

記住，測對了才有意義，測快了才有價值。