探索GeneSiC雙脈沖測(cè)試板：高效測(cè)試SiC結(jié)型晶體管的利器

在電子工程領(lǐng)域，對(duì)于功率器件的測(cè)試至關(guān)重要，尤其是在高壓、大電流的應(yīng)用場(chǎng)景中。今天，我們就來深入了解一下GeneSiC的雙脈沖測(cè)試板GA100SBJT12 - FR4，看看它是如何助力工程師進(jìn)行高效測(cè)試的。

文件下載：GA100SBJT12-FR4.pdf

一、產(chǎn)品概述

GeneSiC雙脈沖測(cè)試板主要用于對(duì)GeneSiC SiC結(jié)型晶體管（SJT）以及其他三端開關(guān)晶體管進(jìn)行雙脈沖開關(guān)測(cè)試。它采用低ESL電容器和PCB走線設(shè)計(jì)，擁有低寄生串聯(lián)電感（LS）電流路徑。這一設(shè)計(jì)對(duì)于記錄最能代表被測(cè)器件（DUT）的數(shù)據(jù)、減少測(cè)試電路失真非常關(guān)鍵。該測(cè)試板能夠達(dá)到最高1200 V和100 A的測(cè)試條件，適用于高功率器件的測(cè)試。

二、產(chǎn)品特性

1. 高電壓大電流測(cè)試能力

該測(cè)試板具備1200 V、100 A的測(cè)試能力，能夠滿足大多數(shù)高功率器件的測(cè)試需求。這意味著工程師可以在這個(gè)測(cè)試板上對(duì)不同規(guī)格的功率器件進(jìn)行全面的性能評(píng)估。

2. 低串聯(lián)電感設(shè)計(jì)

低串聯(lián)電感設(shè)計(jì)是該測(cè)試板的一大亮點(diǎn)。通過使用低ESL電容器和厚6 oz.銅走線，有效降低了寄生電感，減少了電路干擾，使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。

3. 多種封裝兼容性

它兼容多種封裝的SJTs，包括TO - 247封裝的商用SJTs、TO - 257、TO - 258和TO - 46封裝的高溫SJTs。這為工程師提供了更多的選擇，方便對(duì)不同封裝的器件進(jìn)行測(cè)試。

4. 便捷的門極驅(qū)動(dòng)連接

測(cè)試板的門極驅(qū)動(dòng)連接設(shè)計(jì)十分貼心。它可以連接GeneSiC門極驅(qū)動(dòng)板，支持從外部電源接收門極驅(qū)動(dòng)板電壓輸入以及數(shù)字門極控制信號(hào)，并通過低寄生電感連接將信號(hào)傳遞到DUT門極引腳。而且，門極驅(qū)動(dòng)連接是可選的，用戶可以根據(jù)自己的需求和偏好進(jìn)行定制。

三、電氣特性

這些電氣特性為工程師在使用測(cè)試板時(shí)提供了明確的參數(shù)參考，有助于準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)試和分析。

四、關(guān)鍵部分設(shè)計(jì)

1. 高壓連接

測(cè)試板通過MHV同軸連接提供高達(dá)1200 V的測(cè)試高壓，電壓可由用戶選擇的高壓電源產(chǎn)生。這種連接方式確保了高壓傳輸?shù)姆€(wěn)定性和安全性。

2. 電容組

電容組由20個(gè)1 μF、630 V的電容器組成，能夠存儲(chǔ)高達(dá)3.6 J的能量，為DUT供電。其中包含10個(gè)低有效串聯(lián)電感（ESL）的表面貼裝陶瓷電容器，可使DUT漏極電流在上升和下降過程中受到的電路干擾最小化。同時(shí)，測(cè)試板上的厚6 oz.銅走線進(jìn)一步降低了寄生電感，將電容組與測(cè)試電路連接起來。

3. 電壓平衡網(wǎng)絡(luò)

電壓平衡網(wǎng)絡(luò)由兩個(gè)1 MΩ、2 W的SMD電阻和兩個(gè)阻塞整流器組成。電阻用于確保測(cè)試板上串聯(lián)電容器兩端的電位相等，而阻塞整流器則用于保護(hù)儲(chǔ)能電容器免受極端過電壓的影響。

4. 外部負(fù)載電感連接

外部負(fù)載電感（需用戶自行提供）直接焊接到測(cè)試板上的HV和漏極節(jié)點(diǎn)的連接墊上。在選擇負(fù)載電感時(shí)，要注意其電壓額定值，避免超過限制。同時(shí)，建議選擇電感值 (L{bog} ≤1.0 mH)，以免電容組在電感未完全充電到所需測(cè)試電流 (I{D}) 水平時(shí)就耗盡能量。

5. 被測(cè)器件（DUT）和續(xù)流二極管（FWD）

DUT和FWD應(yīng)焊接到連接端子上，盡量減少?gòu)陌迳仙斐龅囊_長(zhǎng)度，多余的引腳應(yīng)修剪掉，以減少超快速、高壓開關(guān)過程中可能產(chǎn)生的電噪聲，避免影響測(cè)量結(jié)果。此外，為了準(zhǔn)確測(cè)量和減少測(cè)試引起的電壓和電流振鈴，建議盡可能靠近器件探測(cè)任何器件電壓（如 (V{GS}) 、 (V{DS}) ）。

6. 漏極電流傳感器連接

通過漏極電流傳感器連接和“J”形的Pearson Electronics電流監(jiān)測(cè)器（需用戶自行提供），可以實(shí)現(xiàn)對(duì)DUT漏極電流的低電感測(cè)量。連接時(shí)，使用寬金屬導(dǎo)體從GND節(jié)點(diǎn)延伸，部分包裹電流監(jiān)測(cè)器，并通過電流監(jiān)測(cè)器的眼孔延伸到源節(jié)點(diǎn)下方。源節(jié)點(diǎn)和GND節(jié)點(diǎn)必須連接，以確保測(cè)試板正常工作。如果不按上述方式在漏極電流傳感器連接處感測(cè)漏極電流，則必須使用寬跳線電纜將兩個(gè)節(jié)點(diǎn)短接。

五、總結(jié)

GeneSiC雙脈沖測(cè)試板GA100SBJT12 - FR4以其出色的設(shè)計(jì)和性能，為電子工程師提供了一個(gè)可靠的測(cè)試平臺(tái)。它的低串聯(lián)電感設(shè)計(jì)、多種封裝兼容性以及便捷的連接方式，使得對(duì)SiC結(jié)型晶體管和其他三端開關(guān)晶體管的測(cè)試更加準(zhǔn)確、高效。在實(shí)際應(yīng)用中，工程師可以根據(jù)測(cè)試需求合理選擇外部負(fù)載電感、DUT和FWD等元件，充分發(fā)揮測(cè)試板的優(yōu)勢(shì)。大家在使用這款測(cè)試板的過程中，有沒有遇到過什么有趣的問題或者獨(dú)特的經(jīng)驗(yàn)?zāi)?？歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。