1200V CoolSiC? MOSFET評估平臺深度解析
在電子工程領(lǐng)域,對于功率半導(dǎo)體器件的評估和測試是產(chǎn)品研發(fā)過程中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。今天,我們就來深入探討一下英飛凌(Infineon)推出的1200V CoolSiC? MOSFET評估平臺(Evaluation platform 1200V CoolSiC? MOSFET in TO247 3-pin / 4-pin Rev. 2.0),它為我們研究MOSFET、IGBT及其驅(qū)動的開關(guān)行為提供了強大的工具。
一、文檔重要信息提示
適用范圍與目標(biāo)讀者
這份用戶指南主要介紹了用于提取TO247 3引腳和4引腳封裝分立器件開關(guān)損耗的雙脈沖評估平臺,以及適配該電路板的子卡。目標(biāo)讀者為評估板的所有者和使用者,并且強調(diào)只有經(jīng)過培訓(xùn)的人員才能操作該評估板。
重要注意事項
評估板和參考板僅用于演示和評估目的,并非商業(yè)化產(chǎn)品,不能用于可靠性測試或生產(chǎn)。其設(shè)計雖考慮了環(huán)境條件,但未針對安全要求、全工作溫度范圍或壽命進行全面測試,也可能不符合CE等標(biāo)準(zhǔn)。用戶需確保評估板的使用符合所在國家的相關(guān)要求和標(biāo)準(zhǔn),同時要自行評估其對預(yù)期應(yīng)用的適用性。英飛凌對評估板和文檔信息不提供任何明示或暗示的保證,也不對使用過程中產(chǎn)生的損害負責(zé)。
安全預(yù)防措施
使用該評估板時,有諸多安全注意事項需要我們嚴格遵守。例如,評估板的直流母線電位高達800VDC,使用示波器測量電壓波形時必須使用高壓差分探頭;評估板中的直流母線電容在移除主電源后需要時間放電,不能僅依據(jù)顯示LED變暗來判斷電容是否放電至安全電壓;測試過程中,評估板的散熱器和器件表面可能會變熱,操作時需采取必要的防護措施;只有熟悉電力電子和相關(guān)機械的人員才能進行系統(tǒng)的規(guī)劃、安裝、調(diào)試和維護;評估板包含對靜電放電(ESD)敏感的部件,安裝、測試、維修時需采取靜電控制措施;安裝前要移除評估板附帶的包裝材料,以免導(dǎo)致過熱或異常運行。
二、評估平臺概覽
平臺改進亮點
該評估平臺是現(xiàn)有雙脈沖平臺的改進版本,主要改進包括:采用通孔插座代替測試器件(DUT)的焊點,方便重復(fù)測量時更換DUT,同時建議將引腳長度減至最短以降低引線電感;并聯(lián)表面貼裝分流電阻和同軸分流器,用戶可自由選擇用于電流測量;改進了驅(qū)動器負電源電壓的調(diào)節(jié);增加了連接器X101作為驅(qū)動器與微控制器的接口;設(shè)置了固定的電壓探頭支架,用于測量低側(cè)開關(guān)的VGS和VDS;增加了測試點。此外,為研究溫度對開關(guān)行為的影響,還可在板上安裝帶加熱元件的散熱器。
交付內(nèi)容
| 供應(yīng)范圍包括裝在盒子里的EVAL - SiC - DP - V2主板,以及兩塊驅(qū)動卡REF - 1EDC20I12MHDPV2和REF - 1EDC60H12AHDPV2。具體產(chǎn)品信息如下表所示: | 產(chǎn)品描述名稱 | CoolSiC? MOSFET 1200 V評估平臺V2 | CoolSiC? MOSFET 1200 V評估平臺米勒鉗位功能板 | CoolSiC? MOSFET 1200 V評估平臺雙極性電源功能板 |
|---|---|---|---|---|
| 銷售產(chǎn)品名稱 | EVAL - PS - DB - MAIN | REF - 1EDC20I12MHDPV2 | REF - 1EDC60H12AHDPV2 | |
| OPN | EVALPSDPMAINTOBO1 | REF1EDC20I12MHDPV2TOBO1 | REF1EDC60H12AHDPV2TOBO1 | |
| SP編號 | SP005572487 | SP005613663 | SP005613665 | |
| 內(nèi)容 | ? 主板(CoolSiC? MOSFET 1200 V評估板) – 1塊 ? 子板(米勒鉗位和雙極性電源板) – 各1塊(共2塊) |
? 子板(米勒鉗位功能板) – 1塊 | ? 子板(雙極性電源功能板) – 1塊 |
平臺主要特性
- 開關(guān)損耗計算:能夠準(zhǔn)確計算開關(guān)損耗,為器件性能評估提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
- 便捷更換:方便更換DUT和子板,提高測試效率。
- 固定探頭支架:便于進行低側(cè)、柵源和漏源電壓測量。
- 高電壓測試:直流母線經(jīng)過高達800V的測試,確保在高電壓環(huán)境下的穩(wěn)定性。
主板參數(shù)與技術(shù)數(shù)據(jù)
| 參數(shù) | 條件 | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 高壓輸入 | - | 800 | V |
| 輔助電源電壓 | - | 12 | V |
| 最大脈沖電流 | - | 130 | A |
| 機械尺寸 | - | 180 | mm |
| - | 100 | mm |
三、系統(tǒng)與功能描述
調(diào)試過程
將直流電源連接到+VDC和GND - Sec,根據(jù)測試需求將電感器插入中點并連接到+VDC或GND - Sec。不同的連接方式適用于不同的測試場景,如左側(cè)連接方式適用于高側(cè)DUT或低側(cè)二極管測試,右側(cè)則相反。
功能模塊描述
主板分為初級和次級部分,初級部分包含輔助和邏輯部分,次級部分為“功率”部分。+12V連接器為輔助電源,平均消耗100mA電流,通過設(shè)置X120上的跳線來連接驅(qū)動器卡,有兩種連接方式可供選擇。X106和X108用于設(shè)置子卡上的驅(qū)動電壓,范圍從+20V到 - 5V,可通過藍色電位器R102、105、107和108進行調(diào)節(jié)。PWM信號可以來自同軸連接器X103、104,也可以通過X101來自微控制器。
3引腳測量
對于3引腳器件,需要通過電源連接器上的焊橋?qū)⒃礃O和檢測引腳短路。
四、系統(tǒng)設(shè)計與性能
系統(tǒng)設(shè)計
完整的設(shè)計包可在英飛凌官網(wǎng)的下載部分獲取,但需要登錄才能下載。文檔中還展示了電源電路原理圖和主板輔助電源圖。
系統(tǒng)性能
雙脈沖原理在相關(guān)文獻中有詳細描述,在為評估板供電前,需要計算分流器值是否足以承受DUT的電流。同時,要選擇合適的電壓探頭額定值,并盡量減小接地環(huán)路。測試點包括X111(半橋中點 - 高壓)、X112(低側(cè)柵極)、X113(測量接地)、X114(高側(cè)柵極,需高壓差分探頭)、X115(高側(cè)接地次級,需高壓差分探頭)、X116(低側(cè)接地次級)。
啟動與關(guān)閉流程
啟動時,首先將驅(qū)動卡安裝在主板上并設(shè)置跳線到所需的電源電壓;將DUT插入連接器Q150、151;連接電源(VDC最高800V)、輔助電源12V和函數(shù)發(fā)生器(用于雙脈沖),建議設(shè)置電流限制;連接負載電感器;插入所需的探頭(電壓、電流);按順序開啟電源:先施加12V和雙脈沖,再逐漸施加高壓至所需水平,最后進行測量。關(guān)閉時,先關(guān)閉高壓源,再關(guān)閉輔助電源和函數(shù)發(fā)生器。
五、參考與附錄
縮寫與定義
文檔中對一些常用縮寫進行了定義,如DUT(被測器件)、PWM(脈沖寬度調(diào)制)、UL(保險商實驗室)。
參考文獻
提供了相關(guān)的參考文獻,包括英飛凌的技術(shù)文檔和關(guān)于雙脈沖測試的專業(yè)文章,為進一步研究提供了參考依據(jù)。
附加信息
隔離柵極驅(qū)動器子卡EVAL - 1ED020I12F2 - DB可與該主板配合使用,并且可以單獨訂購。
通過對這個評估平臺的詳細了解,我們可以更好地利用它來研究功率半導(dǎo)體器件的開關(guān)特性,為電子工程設(shè)計提供有力支持。你在使用類似評估平臺時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。
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