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橢偏儀常見技術(shù)問題解答(一)2025-09-26 18:04
橢偏儀是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,通過探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化,獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征,廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)等領(lǐng)域。1橢偏儀測(cè)量什么?flexfilm橢偏儀利用偏振光來表征薄膜和塊體材料。當(dāng)光與樣品結(jié)構(gòu)相互作用時(shí),其偏振狀態(tài)會(huì)發(fā)生變化。測(cè)量結(jié) -
汽車玻璃可見光透射率VLT標(biāo)準(zhǔn)70%:關(guān)乎道路安全的關(guān)鍵指標(biāo)2025-09-24 18:02
在國(guó)際窗膜協(xié)會(huì)澳大利亞分會(huì)(IWFAA)的持續(xù)游說下,澳大利亞多地已允許將汽車前側(cè)窗的可見光透射率(VLT)標(biāo)準(zhǔn)從70%降至35%,以期實(shí)現(xiàn)全國(guó)規(guī)范統(tǒng)一。然而,這一提議引發(fā)了重要的道路安全隱患:前側(cè)窗作為駕駛員觀察側(cè)向交通、識(shí)別行人及騎行者的關(guān)鍵視覺通道,其透光率的大幅降低將直接削弱在夜間、低光照或復(fù)雜路況下的視覺識(shí)別能力。Flexfilm汽車玻璃透過率檢測(cè) -
從數(shù)據(jù)到模型:臺(tái)階儀如何實(shí)現(xiàn)高精度微結(jié)構(gòu)測(cè)量2025-09-22 18:05
為解決臺(tái)階儀在微結(jié)構(gòu)測(cè)量中的點(diǎn)云配準(zhǔn)精度不足、系統(tǒng)誤差難補(bǔ)償及傳統(tǒng)校準(zhǔn)離散、導(dǎo)軌誤差大等問題,費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案,F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量,精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階高度與膜厚,為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效率提升提供數(shù)據(jù)支撐。本研究提出融合增強(qiáng)型ICP與SIL的表面匹配方法,輔以多 -
基于光譜橢偏術(shù)的多層結(jié)構(gòu)介質(zhì)衍射光柵表征研究2025-09-19 18:03
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衍射光學(xué)元件DOE:臺(tái)階高度與位置誤差的測(cè)量2025-09-17 18:03
衍射光學(xué)元件(DOE)因其在波前調(diào)制和色差校正方面的優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于紅外光學(xué)系統(tǒng)等領(lǐng)域。然而,其非連續(xù)面形結(jié)構(gòu)(如相位突變點(diǎn)和臺(tái)階高度)使得傳統(tǒng)檢測(cè)方法難以滿足精度要求。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案,F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量,精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階高度與膜厚,為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效 -
橢偏儀選型指南 | 橢圓偏振法與反射法的優(yōu)劣對(duì)比2025-09-15 18:02
橢圓偏振法和反射法是用于表面分析和薄膜表征的光學(xué)測(cè)量技術(shù)。這兩種方法都依賴于光反射:橢圓偏振法分析反射光偏振狀態(tài)的變化,反射法則測(cè)量其強(qiáng)度。橢圓偏振法和反射法之間的選擇取決于測(cè)量原理、靈敏度和數(shù)據(jù)解釋要求。每種技術(shù)在材料科學(xué)和表面分析中都有特定的作用。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征,廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué) -
汽車玻璃透光率≥70%的吸水防霧微米膜層的制備2025-09-12 18:10
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臺(tái)階儀在大面積硬質(zhì)涂層的應(yīng)用:精準(zhǔn)表征形貌與蝕刻 / 沉積結(jié)構(gòu)參數(shù)2025-09-10 18:04
PVD硬質(zhì)涂層的表面形貌直接影響其摩擦學(xué)、潤(rùn)濕性等功能性能,而精準(zhǔn)表征形貌特征是優(yōu)化涂層工藝的關(guān)鍵。臺(tái)階儀因可實(shí)現(xiàn)大掃描面積的三維形貌成像與粗糙度量化,成為研究PVD涂層形貌的核心工具。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案,F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量,精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階高度與膜厚,為材料 -
橢偏儀在半導(dǎo)體薄膜厚度測(cè)量中的應(yīng)用:基于光譜干涉橢偏法研究2025-09-08 18:02
薄膜厚度的測(cè)量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。橢偏法具備高測(cè)量精度的優(yōu)點(diǎn),利用寬譜測(cè)量方式可得到全光譜的橢偏參數(shù),實(shí)現(xiàn)納米級(jí)薄膜的厚度測(cè)量。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征,廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)等領(lǐng)域。為解決半導(dǎo)體領(lǐng)域常見的透明硅基底上薄膜厚度測(cè)量的問題并消除硅層的疊加信號(hào),本文提出基于光譜干 -
臺(tái)階儀精準(zhǔn)測(cè)量薄膜工藝中的膜厚:制備薄膜理想臺(tái)階提高膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性2025-09-05 18:03
固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視,其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù),準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)真空鍍膜工藝控制意義重大,臺(tái)階儀法因其能同時(shí)測(cè)量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應(yīng)用于航空航天、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案,F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以精確多種薄膜樣品的薄膜厚度。臺(tái)階儀法需在薄膜表面制備臺(tái)階,通過測(cè)量臺(tái)階高度反推膜厚。然