可靠性分析
測試測量行業(yè)的可靠性分析，內(nèi)容包含有電力系統(tǒng)可靠性分析，可靠性分析軟件講解，可靠性分析SPSS及分析方法和相關(guān)的分析報告標準等內(nèi)容。
一種高可靠性軟件測試方案
這篇文章結(jié)合某航天項目地面應用系統(tǒng)模型(本文命名為CraftGS)，重點討論如何從軟件測試的角度保證此類產(chǎn)品的軟件質(zhì)量。 ...
一種高可靠性的頻率測量系統(tǒng)
提出并研制了一種高可靠性、高精度、使用簡單且便于維護的頻率測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于電力電子測量領(lǐng)域。其硬件系統(tǒng)以嵌入式PC104計算機為測控平臺，軟件系統(tǒng)以LabWindows/CVI為開發(fā)平...
2012-04-24 標簽：頻率測量 2699
RS485總線通信系統(tǒng)的可靠性措施
在工業(yè)控制及測量領(lǐng)域較為常用的網(wǎng)絡(luò)之一就是物理層采用RS-485通信接口所組成的工控設(shè)備網(wǎng)絡(luò)...
2012-04-20 標簽：通信系統(tǒng)可靠性RS485總線 5789
同步異步復位與亞穩(wěn)態(tài)可靠性設(shè)計
異步復位相比同步復位： 1. 通常情況下(已知復位信號與時鐘的關(guān)系)，最大的缺點在于異步復位導致設(shè)計變成了異步時序電路，如果復位信號出現(xiàn)毛刺，將會導致觸發(fā)器的誤動作，影響...
2012-04-20 標簽：可靠性設(shè)計亞穩(wěn)態(tài)同步復位異步復位 4356
穩(wěn)健設(shè)計采用Saber仿真器提高系統(tǒng)可靠性
“穩(wěn)健設(shè)計(Robust Design)”是一種通用的、并經(jīng)過實踐驗證的開發(fā)理念，致力于提高流程或產(chǎn)品的可靠性。...
無線抄表系統(tǒng)可靠性設(shè)計
無線抄表系統(tǒng)對無線通訊數(shù)據(jù)的傳輸和保存有著很高的要求,即數(shù)據(jù)可靠性要求很高。...
2012-04-20 標簽：可靠性設(shè)計無線抄表系統(tǒng) 1186
高精度測量系統(tǒng)中多電源可靠性設(shè)計
介紹了一種高精度測量系統(tǒng)中數(shù)字電路部分的電源設(shè)計。系統(tǒng)各個電源轉(zhuǎn)換芯片統(tǒng)一由蓄電池供電。...
2012-04-20 標簽：測量系統(tǒng)可靠性設(shè)計多電源 2546
測試挑戰(zhàn):測試技術(shù)的分析
隨著閱讀器與標簽價格的降低和全球市場的擴大，射頻標識RFID(以下簡稱RFID)的應用與日俱增。標簽既可由閱讀器供電(無源標簽)，也可以由標簽的板上電源供電(半有源標簽和有源標簽...
運算放大器的簡易測量
運算放大器是差分輸入、單端輸出的極高增益放大器，常用于高精度模擬電路，因此必須精確測量其性能。但在開環(huán)測量中，其開環(huán)增益可能高達107或更高，而拾取、雜散電流或塞...
晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟
摘要 隨著器件尺寸的持續(xù)減小，以及在器件的制造中不斷使用新材料，對晶圓級可靠性測試的要求越來越高。在器件研發(fā)過程中這些發(fā)展也對可靠性測試和建模也提出了新的要求。為了...
使用時間可控發(fā)射方法來進行模擬電路的失效分析
時間可控發(fā)射方法（TRE）是一種常用的非入侵式波形測量方法，它能從芯片的背面探測芯片內(nèi)部節(jié)點的時序波形。完美的TRE系統(tǒng)能提供很高的帶寬 （》5GHz）， 很好的探測尺寸精度 （...
多層陶瓷外殼的失效分析和可靠性設(shè)計
多次陶瓷外殼以其優(yōu)良的性能被廣泛應應用于航天、航空、軍事電子裝備及民用投資類電子產(chǎn)品的集成電路和電子元器件的封裝，常用的陶瓷外殼有集成電路陶瓷外殼。...
2012-03-27 標簽：可靠性設(shè)計失效分析 5962
大功率半導體激光器陣列熱特性分析
大功率半導體激光器具有高轉(zhuǎn)換效率、高可靠性及較長的使用壽命，在泵浦固體激光器、打印、材料加工、通信等方面都有著廣泛的應用。...
熱膨脹系數(shù)不匹配導致的塑封器件失效
塑封器件是指用塑料等樹脂類聚合物材料封裝的半導體器件。由于樹脂類材料固有的特點，限制了塑封器件在衛(wèi)星、軍事等一些高可靠性場合的使用［1］。雖然自20世紀70年代以來，封裝...
評定封裝可靠性水平的MSL試驗
摘要：隨著塑料封裝集成電路在眾多領(lǐng)域中的廣泛應用，封裝的質(zhì)量和可靠性水平越來越受到廣大用戶的關(guān)注。作為評定和考核封裝可靠性水平的重要特征參數(shù)，除通常采用的環(huán)境...
更快地對高速存儲故障深入調(diào)試三大步驟
間歇性內(nèi)存故障處理起來可能會非常復雜。這些故障的根源可能是一種原因或多種不同原因的組合，包括BIOS錯誤、協(xié)議錯誤、信號完整性問題、硬件問題、內(nèi)存或其它子系統(tǒng)問題。盡管...
無鉛焊點可靠性問題分析及測試方法
隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的日新月異，微細間距器件發(fā)展起來，組裝密度越來越高，誕生了新型SMT、MCM技術(shù)，微電子器件中的焊點也越來越小，而其所承載的力學、電學和熱力學負荷卻越來越...
IC靜電放電的測試方法
靜電放電（ESD，electrostatic discharge）是電子工業(yè)最花代價的損壞原因之一，它會影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及公司的可獲利潤。隨著IC產(chǎn)品的制造工藝不斷微小化...
專家談安全設(shè)計：溫州動車事故6個關(guān)鍵環(huán)節(jié)的可靠性設(shè)計教訓
2011年7月23日19時30分，雷擊溫州南站沿線鐵路牽引供電接觸網(wǎng)“或”附近大地，通過大地的阻性耦合“或”空間感性耦合在信號電纜上產(chǎn)生浪涌電壓，在多次雷擊浪涌電壓和直流電流共同...
2012-03-16 標簽：可靠性設(shè)計安全設(shè)計可靠性設(shè)計安全設(shè)計溫州動車事故 6320
工程師必知產(chǎn)品可靠性曲線
在開關(guān)機時或電網(wǎng)波動的應用場合，設(shè)備的故障率偏高。這里面涉及到了一個技術(shù)思維方法論的關(guān)鍵性概念—過渡過程。...
LED燈具可靠性測試詳解
作為光源中的新興力量， led 的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導體PN節(jié)中的電子與空穴的復合來發(fā)光。發(fā)光方式的不同決定了LED與傳統(tǒng)光源有著本質(zhì)的區(qū)別，也決定了它有自...
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