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標(biāo)簽 > 封裝
封裝,Package,是把集成電路裝配為芯片最終產(chǎn)品的過(guò)程,簡(jiǎn)單地說(shuō),就是把Foundry生產(chǎn)出來(lái)的集成電路裸片(Die)放在一塊起到承載作用的基板上,把管腳引出來(lái),然后固定包裝成為一個(gè)整體。作為動(dòng)詞,“封裝”強(qiáng)調(diào)的是安放、固定、密封、引線的過(guò)程和動(dòng)作;
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集成電路封裝失效機(jī)理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機(jī)械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過(guò)程。根據(jù)應(yīng)力條件的不同,可將失效...
微電子及集成電路技術(shù)發(fā)展日新月異,離不開EDA電子電路仿真軟件的支持。每天不知有多少電路設(shè)計(jì)及驗(yàn)證者,使用著各種電路仿真軟件工具。俗話說(shuō),工欲善其事必先...
環(huán)氧塑封是IC主要封裝形式,環(huán)氧塑封器件開封方法有化學(xué)方法、機(jī)械方法和等離子體刻蝕法,化學(xué)方法是最廣泛使用的方法,又分手動(dòng)開封和機(jī)械開封兩種。
在設(shè)計(jì)電路板時(shí),一個(gè)漂亮的Logo絲印往往會(huì)給電路板增色不少(雖然對(duì)電路板的性能并沒有實(shí)質(zhì)性的影響)。對(duì)于Allegro PCB Editor,網(wǎng)上有一...
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過(guò)程(失效機(jī)理),為集成電路封裝糾正...
先進(jìn)封裝中銅-銅低溫鍵合技術(shù)研究進(jìn)展
Cu-Cu 低溫鍵合技術(shù)是先進(jìn)封裝的核心技術(shù),相較于目前主流應(yīng)用的 Sn 基軟釬焊工藝,其互連節(jié)距更窄、導(dǎo) 電導(dǎo)熱能力更強(qiáng)、可靠性更優(yōu). 文中對(duì)應(yīng)用于先...
用于LED封裝的高折射率單組分低溫快速固化環(huán)氧體系
光學(xué)透明封裝劑是LED、CMOS傳感器和光學(xué)器件封裝的關(guān)鍵材料,為L(zhǎng)ED die和其他光學(xué)芯片的封裝提供了所需的物理和機(jī)械保護(hù),對(duì)于提高光提取效率同樣重...
先進(jìn)封裝之面板芯片級(jí)封裝(PLCSP)簡(jiǎn)介
今天我們來(lái)介紹PLCSP(Panel Level Chip Scale Packaging)。同理,PLCSP是一種將面板級(jí)封裝(PLP)和芯片尺寸封裝...
HS3069采用OTP工藝制造,高性能、低功耗紅外發(fā)射電路,T-KEY三角矩陣鍵盤,最多可組成25個(gè)按鍵。除了能實(shí)現(xiàn)50多種常用基本碼型外,還可實(shí)現(xiàn)一些...
集成電路封裝可拿性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
集成電路封裝可拿性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)是指用于指導(dǎo)和規(guī)范集成電路封裝可靠性評(píng)估、驗(yàn)證試驗(yàn)過(guò)程的一系列規(guī)范性文件,其中包括通用規(guī)范、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、手冊(cè)指南等多種形式的標(biāo)準(zhǔn)...
引言:電流檢測(cè)電阻有多種形狀和尺寸可供選擇,使用極低值電阻(幾mΩ或以下)時(shí),焊錫的電阻將在檢測(cè)元件電阻中占據(jù)很大比例,結(jié)果大幅增加測(cè)量誤差。高精度應(yīng)用...
關(guān)于QE位與IO功能復(fù)用關(guān)聯(lián)設(shè)計(jì)
大家好,我是痞子衡,是正經(jīng)搞技術(shù)的痞子。今天痞子衡給大家講的是 幾家主流QuadSPI NOR Flash廠商關(guān)于QE位與IO功能復(fù)用關(guān)聯(lián)設(shè)計(jì) 。 痞子...
AN-772: 引腳架構(gòu)芯片級(jí)封裝(LFCSP)設(shè)計(jì)與制造指南
外圍輸入/輸出焊盤位于封裝的外沿。與印刷電路板(PCB)的電氣接觸是通過(guò)將外圍焊盤和封裝底面上的裸露焊盤焊接到PCB上實(shí)現(xiàn)的。將裸露散熱焊盤(見圖1)焊...
集成電路封裝可拿性試驗(yàn)是指對(duì)集成電路進(jìn)行封裝可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段,即對(duì)封裝或材料施加一定的應(yīng)力(如電應(yīng)力、熱應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力或其綜合),檢查其...
2023-06-16 標(biāo)簽:集成電路封裝可靠性試驗(yàn) 2.7k 0
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