采用源程序級(jí)和算法級(jí)對(duì)μC／OS-II進(jìn)行源碼級(jí)的功耗優(yōu)化

軟件設(shè)計(jì)中，代碼優(yōu)化是一件非常有意義的事情。優(yōu)化的本質(zhì)是對(duì)代碼進(jìn)行等價(jià)變換，使變換前后的代碼運(yùn)行結(jié)果相同，但變換后的代碼比變換前的代碼具有更多優(yōu)越性能。...

2020-09-09 標(biāo)簽：測(cè)試嵌入式納米 2.7k 0

射頻功率放大器的設(shè)計(jì)介紹

射頻功率放大器（RFPA）是一種在無(wú)線電通信系統(tǒng)中廣泛使用的電子器件，其主要功能是將輸入的射頻信號(hào)放大到所需的輸出功率。射頻功率放大器的設(shè)計(jì)需要考慮許多...

2024-01-03 標(biāo)簽：放大器測(cè)試晶體管 2.7k 0

直流電機(jī)出廠測(cè)試一般都測(cè)試哪些項(xiàng)目

直流電機(jī)出廠測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)電機(jī)出廠前性能測(cè)試的設(shè)備

2023-06-10 標(biāo)簽：測(cè)試直流電機(jī) 2.7k 0

Windows實(shí)時(shí)運(yùn)動(dòng)控制軟核(七):LOCAL高速接口測(cè)試之Labview

Windows下運(yùn)動(dòng)控制實(shí)時(shí)內(nèi)核MotionRT的安裝和使用以及Labview上位機(jī)軟件的開(kāi)發(fā)。

2023-03-16 標(biāo)簽：測(cè)試labview運(yùn)動(dòng)控制器 2.7k 0

課程8：簡(jiǎn)單的Testbench設(shè)計(jì)

描述測(cè)試信號(hào)的變化和測(cè)試過(guò)程的模塊叫做測(cè)試平臺(tái)（Testbench），它可以對(duì)電路模塊進(jìn)行動(dòng)態(tài)的測(cè)試。通過(guò)觀測(cè)被測(cè)試模塊的輸出信號(hào)是否符合要求，可以調(diào)試...

2019-12-24 標(biāo)簽：fpga測(cè)試調(diào)試 2.7k 0

什么是高低溫濕熱試驗(yàn)（THB）？

濕熱試驗(yàn)概述濕熱試驗(yàn)是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測(cè)試方法，通過(guò)在控制的高溫和高濕環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行暴露，以評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中對(duì)潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這...

2024-12-02 標(biāo)簽：測(cè)試恒定濕熱試驗(yàn)濕熱試驗(yàn) 2.6k 0

在使用電磁屏蔽箱測(cè)試中遇到諧振怎么辦？

在什么是電磁屏蔽箱諧振？這篇文章中我們講了電磁屏蔽箱諧振的產(chǎn)生的原因和原理，現(xiàn)在我們來(lái)講講在使用OI-ESA/OI-ESS/OI-ES系列電磁屏蔽箱測(cè)試...

2026-02-27 標(biāo)簽：測(cè)試電磁諧振 2.6k 0

怎樣接地才符合EMC

怎樣接地才符合EMC【現(xiàn)象描述】某產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)如圖2.58所示。在進(jìn)行電源端口±2kV、信號(hào)端口±1kV的電快速瞬變脈沖群（EFT/B）測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)，當(dāng)P1...

2024-09-15 標(biāo)簽：測(cè)試信號(hào)干擾emc 2.6k 0

一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程，通過(guò)模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài)，對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)...

2025-02-21 標(biāo)簽：芯片測(cè)試可靠性試驗(yàn) 2.6k 0

音視頻SoC測(cè)試要求幾應(yīng)用

　隨著大批量消費(fèi)類行業(yè)中SoC與SIP日趨復(fù)雜化，低成本與高器件壽命周期這兩個(gè)基本要求的矛盾更加突出。消費(fèi)者要求在相同或更低成本基礎(chǔ)上提高性能，同時(shí)還常...

2011-09-24 標(biāo)簽：測(cè)試SoC音視頻 2.6k 0

恒溫恒濕試驗(yàn)箱濕度異常?教你如何排查與預(yù)防

　　一、恒溫恒濕試驗(yàn)箱濕度過(guò)高的原因 　　濕度過(guò)高可能是多種原因?qū)е碌模斫膺@些原因是有效解決問(wèn)題的關(guān)鍵。以下是幾種常見(jiàn)的原因分析： 　　1. 濕度...

2024-09-28 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 2.6k 0

磁盤(pán)eCryptfs加密測(cè)試用例

eCryptfs詳解 本章節(jié)我們先用簡(jiǎn)單用例驗(yàn)證eCryptfs加密效果特點(diǎn)，使大家對(duì)方案有個(gè)整體感性認(rèn)識(shí)，同時(shí)也會(huì)提供一個(gè)C版本用例作參考。其次對(duì)測(cè)試...

2023-11-29 標(biāo)簽：測(cè)試Linux磁盤(pán) 2.6k 0

負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)----增強(qiáng)環(huán)路穩(wěn)定性測(cè)試

驗(yàn)證開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器的穩(wěn)定性對(duì)于電源設(shè)計(jì)非常重要，頻率環(huán)路響應(yīng)和負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)被經(jīng)常用于確保開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器的穩(wěn)定性。雖然頻率環(huán)路響應(yīng)在設(shè)計(jì)驗(yàn)證中的地位日益凸顯，但負(fù)...

2024-04-13 標(biāo)簽：測(cè)試轉(zhuǎn)換器電壓 2.6k 0

10個(gè)晶振不起振的原因分析

晶振不起振是電路設(shè)計(jì)和維護(hù)中常見(jiàn)的問(wèn)題之一。當(dāng)晶振無(wú)法起振時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)電路無(wú)法正常工作，因此必須找到問(wèn)題出現(xiàn)的原因并及時(shí)解決。以下是一些可能導(dǎo)致晶...

2024-06-13 標(biāo)簽：電路測(cè)試晶振 2.6k 0

濕法蝕刻MEMS硅腔的工藝控制

硅的各向異性蝕刻是指定向依賴的蝕刻，通常通過(guò)堿性蝕刻劑如水溶液氫氧化鉀，TMAH和其他羥化物如氫氧化鈉。由于蝕刻速率對(duì)晶體取向、蝕刻劑濃度和溫度的強(qiáng)烈依...

2022-03-08 標(biāo)簽：測(cè)試蝕刻晶片 2.6k 0

旁路二極管測(cè)試及熱失控原理

隨著太陽(yáng)能發(fā)電的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，人們對(duì)光伏組件長(zhǎng)期耐久性的要求越來(lái)越高，其中的旁路二極管在光伏組件的性能中扮演著重要角色。為了確保光伏系統(tǒng)的高效運(yùn)行，必...

2024-03-05 標(biāo)簽：二極管測(cè)試太陽(yáng)能 2.6k 0

?新能源涉網(wǎng)試驗(yàn)全解（三）|| 簡(jiǎn)述光伏電站涉網(wǎng)試驗(yàn)

在上一期《新能源電站為什么要做涉網(wǎng)試驗(yàn)》中，我們從“為什么一定要做”這個(gè)問(wèn)題出發(fā)，重點(diǎn)回答了業(yè)主最關(guān)心的幾個(gè)現(xiàn)實(shí)疑問(wèn)：設(shè)備合格≠并網(wǎng)合格能發(fā)電≠能長(zhǎng)期穩(wěn)...

2026-01-29 標(biāo)簽：測(cè)試光伏電站 2.6k 0