測(cè)試平臺(tái)的建立方法

（1）DUT模型的建立 ?① 164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL語(yǔ)言［5］，建立164245模型。164245是一個(gè)雙8...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC模型 1.6k 0

零基礎(chǔ)教程！TSMaster的圖形數(shù)據(jù)導(dǎo)出CSV功能

在車(chē)輛性能測(cè)試中，測(cè)試過(guò)程產(chǎn)生的數(shù)據(jù)可能涉及到速度、加速度、油耗、溫度、壓力、振動(dòng)等各類(lèi)傳感器數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)通常以圖表或曲線(xiàn)圖形式展示，導(dǎo)出為CSV格式...

2024-12-20 標(biāo)簽：測(cè)試MASTER車(chē)輛測(cè)試 1.6k 0

綜合布線(xiàn)連接硬件RJ45連接器測(cè)試方案

AEM公司的?8端口網(wǎng)分測(cè)試單元——MMVNA,?可單機(jī)/?雙機(jī)/多機(jī)協(xié)同運(yùn)行，測(cè)試端口擴(kuò)展無(wú)上限。僅需?2臺(tái) MMVNA?即可構(gòu)成?16端口矢量網(wǎng)分測(cè)...

2024-09-30 標(biāo)簽：測(cè)試連接器RJ45 1.6k 0

恒溫恒濕試驗(yàn)箱的安全關(guān)閉流程與日常維護(hù)

關(guān)閉恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一個(gè)相對(duì)簡(jiǎn)單的過(guò)程，但為了確保設(shè)備的安全和維護(hù)效果，用戶(hù)需要按照一定的步驟進(jìn)行操作。以下是一般情況下的關(guān)閉步驟： 　　1. 停止實(shí)...

2024-09-28 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 1.6k 0

熱重分析儀測(cè)試熱分析溫度的方法

熱重分析儀（TGA）主要用于對(duì)樣品在熱力學(xué)變化過(guò)程中產(chǎn)生的熱失重、熱分解過(guò)程進(jìn)行記錄和分析。因此熱重分析儀被廣泛應(yīng)用在塑料、橡膠、化學(xué)、醫(yī)藥生物、建筑、...

2025-03-04 標(biāo)簽：測(cè)試分析儀 1.5k 0

LOTO示波器統(tǒng)計(jì)曲線(xiàn)和故障分析pass/fail測(cè)試

虛擬示波器可以應(yīng)用在工業(yè)自動(dòng)化檢測(cè)中，除了常規(guī)的檢測(cè)波形和測(cè)量值參數(shù)以外，由多個(gè)行業(yè)客戶(hù)定制和驗(yàn)證的統(tǒng)計(jì)曲線(xiàn)和故障分析（pass/fail）功能也為工業(yè)...

2024-08-30 標(biāo)簽：測(cè)試示波器工業(yè)自動(dòng)化 1.5k 0

數(shù)控機(jī)床刀具阻尼性能測(cè)試解決方案

本測(cè)試方案旨在利用振動(dòng)分析技術(shù)，結(jié)合高精度數(shù)采設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)控機(jī)床刀具質(zhì)量的快速評(píng)估。該方法通過(guò)監(jiān)測(cè)刀具在敲擊激勵(lì)下的振動(dòng)響應(yīng)，利用振動(dòng)信號(hào)的特征參數(shù)來(lái)...

2025-08-07 標(biāo)簽：測(cè)試數(shù)控機(jī)床精密加工 1.5k 0

恒溫恒濕試驗(yàn)箱濕布更換時(shí)機(jī)揭秘

首先，我們要明確濕布的作用。在恒溫恒濕試驗(yàn)箱中，濕布主要用于維持恒定的濕度環(huán)境。隨著時(shí)間的推移，濕布會(huì)逐漸失去水分，變得干燥，進(jìn)而影響試驗(yàn)箱內(nèi)的濕度控制...

2024-04-27 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)箱產(chǎn)品測(cè)試 1.5k 0

半導(dǎo)體快速溫變測(cè)試的溫度循環(huán)控制標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體材料簡(jiǎn)介半導(dǎo)體材料是一類(lèi)具有介于導(dǎo)體和絕緣體之間的導(dǎo)電能力（電阻率在1mΩ·cm到1GΩ·cm之間）的材料，廣泛應(yīng)用于制造半導(dǎo)體器件和集成電路。根...

2024-11-27 標(biāo)簽：測(cè)試半導(dǎo)體IPC 1.5k 0

軟件代碼結(jié)構(gòu)化覆蓋測(cè)試-分支覆蓋

本篇我們介紹分支覆蓋，從測(cè)試技術(shù)對(duì)代碼的測(cè)試程度上來(lái)說(shuō)，在復(fù)雜代碼中，分支覆蓋比語(yǔ)句覆蓋效果要好。

2023-09-01 標(biāo)簽：測(cè)試代碼 1.5k 0

鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱的檢定流程分為幾步

鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱是一種用于模擬和加速材料或產(chǎn)品在特定環(huán)境下的腐蝕過(guò)程的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于金屬和非金屬材料及其制品的耐腐蝕性能測(cè)試。檢定流程是對(duì)鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱...

2024-06-17 標(biāo)簽：測(cè)試設(shè)備試驗(yàn)箱 1.5k 0

示波器的觸發(fā)功能（上）

示波器的觸發(fā)功能在正確的信號(hào)點(diǎn)同步水平掃描，這對(duì)清楚地檢定信號(hào)至關(guān)重要。觸發(fā)控制功能可以穩(wěn)定重復(fù)的波形，捕獲單次波形。通過(guò)重復(fù)顯示輸入信號(hào)的同一部分觸發(fā)...

2024-12-05 標(biāo)簽：測(cè)試示波器顯示屏 1.5k 0

吉時(shí)利源表在電子薄膜材料表面電阻測(cè)試的解決方案

某一維線(xiàn)性尺度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于它的其他二維尺度的材料成為薄膜材料，理論上薄膜材料厚度介于單原子到幾毫米，但由于厚度小于100nm的薄膜已經(jīng)被稱(chēng)為二維材料，因此薄...

2020-11-01 標(biāo)簽：電阻測(cè)試半導(dǎo)體 1.5k 0

晶振溫度特性測(cè)試通常會(huì)進(jìn)行高達(dá)150℃的測(cè)試

晶振溫度特性測(cè)試通常會(huì)進(jìn)行高達(dá)150℃的測(cè)試主要是因?yàn)橐韵聨讉€(gè)原因：1極端條件測(cè)試：在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和測(cè)試中，常常需要對(duì)元件在極端條件下的性能進(jìn)行測(cè)試，...

2024-04-29 標(biāo)簽：測(cè)試晶振 1.5k 0