汽車電子的輻射和傳導(dǎo)測試

想實踐怎么辦？！——島主電磁兼容（EMC）實踐與應(yīng)用基地歡迎您 設(shè)計無憂？... 診斷無憂？... 整改無憂？... 測試無憂？... 學(xué)習(xí)無憂？......

2023-02-15 標(biāo)簽：測試汽車電子emc 1.5k 0

幸狐Omni3576開發(fā)板移植YOLOV10和推理測試

因為Omni3576搭載了RockchipRK3576處理器，該處理器采用先進(jìn)的8nm制程工藝，集成了6TOPS算力的NPU。NPU跟RK3588一致，...

2025-06-24 標(biāo)簽：測試AI開發(fā)板 1.5k 0

解析相位噪聲測試

【相位噪聲定義】頻率不穩(wěn)定性可區(qū)分為長期與短期兩種類型。長期不穩(wěn)定性，亦稱漂移，指的是在較長時間跨度內(nèi)發(fā)生的頻率變化現(xiàn)象。而短期不穩(wěn)定性，通常涉及幾秒鐘...

2025-03-31 標(biāo)簽：測試振蕩器相位噪聲 1.5k 0

汽車密封條彎折試驗：如何測試耐疲勞與彈性衰減

彎折試驗機(jī)通過創(chuàng)設(shè)一個可控、可復(fù)現(xiàn)的加速老化環(huán)境，將汽車密封條在復(fù)雜真實世界中的性能衰減，轉(zhuǎn)化為一系列可量化的科學(xué)數(shù)據(jù)。這不僅為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供了堅實依...

2025-11-27 標(biāo)簽：測試試驗機(jī)汽車 1.5k 0

DIN 75220標(biāo)準(zhǔn)丨太陽光模擬器在汽車材料老化測試的應(yīng)用

在汽車的全生命周期中，零部件長期暴露于太陽輻射、溫濕度變化等嚴(yán)苛環(huán)境，材料老化可能導(dǎo)致褪色、脆化甚至功能失效。為量化評估這些風(fēng)險，德國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會（DIN...

2025-07-24 標(biāo)簽：測試模擬器汽車材料 1.5k 0

離子污染評估：揭秘LED燈具中的離子污染測試

離子污染物的定義與影響附著在產(chǎn)品表層、未經(jīng)過徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當(dāng)這些殘留物暴露于潮濕環(huán)境時，它們會轉(zhuǎn)化為帶電的離子。這些殘留物可能來...

2024-11-05 標(biāo)簽：測試測試儀LED燈具 1.5k 0

功能安全實車測試設(shè)備

隨著智能網(wǎng)聯(lián)汽車技術(shù)快速發(fā)展，功能安全驗證已成為行業(yè)關(guān)注焦點。ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)要求通過故障注入測試驗證系統(tǒng)安全機(jī)制的有效性，但傳統(tǒng)臺架或仿真測試難...

2025-11-04 標(biāo)簽：測試汽車功能安全實車測試 1.5k 0

軟件代碼結(jié)構(gòu)化覆蓋測試-語句覆蓋

本篇將深入到代碼層面，講解單元測試中的一項重要工作-軟件代碼測試。

2023-08-25 標(biāo)簽：測試軟件代碼 1.5k 0

測試案例分享——OFDR測試大插損器件長度的方法與技巧

隨著通信技術(shù)的不斷發(fā)展，光學(xué)器件與系統(tǒng)內(nèi)部集成的組件數(shù)量顯著增加，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜。大量功能各異的光學(xué)組件不可避免地引入更高的插入損耗，從而在復(fù)雜光路中...

2025-12-12 標(biāo)簽：測試光學(xué) 1.5k 0

半導(dǎo)體需要做哪些測試

設(shè)計芯片：半導(dǎo)體制造的起點半導(dǎo)體產(chǎn)品的制造始于芯片設(shè)計。設(shè)計階段是整個制造過程的第一步，工程師們根據(jù)產(chǎn)品所需的功能來設(shè)計芯片。芯片設(shè)計完成后，下一步是將...

2025-01-06 標(biāo)簽：測試半導(dǎo)體芯片設(shè)計 1.5k 0

IT7900高壓電網(wǎng)模擬器單機(jī)輕松完成并網(wǎng)逆變器高壓穿越測試

光伏逆變器是光伏電站的核心設(shè)備，其性能直接影響到光伏電站的運(yùn)行效率和安全性。新能源發(fā)電系統(tǒng)在進(jìn)行并網(wǎng)性能檢測時，需要完成故障穿越，孤島保護(hù)等法規(guī)項目。故...

2024-01-03 標(biāo)簽：測試模擬器高壓電網(wǎng) 1.5k 0

TLT507-EVM-評估板測試手冊

TLT507-EVM-評估板測試手冊

2024-01-26 標(biāo)簽：測試評估板EVM 1.5k 0

斷連塊應(yīng)用于飛控測試環(huán)境斷線測試箱

斷連塊概述Overviewofdisconnectedblocks斷連塊是一種用于電路中斷連接的連接器，廣泛應(yīng)用于電子測試設(shè)備和通信系統(tǒng)中。它能夠在特定...

2024-10-09 標(biāo)簽：測試連接器飛控 1.5k 0

為什么正壓氣密性檢測儀的測試結(jié)果很少為0

氣密性檢測在產(chǎn)品制造中很重要，能確保產(chǎn)品在使用時發(fā)揮應(yīng)有性能和安全性。但人們常疑惑，為什么正壓氣密性檢測儀得到的結(jié)果很少為0呢？這個問題值得我們深入探究...

2024-04-12 標(biāo)簽：測試檢測儀 1.5k 0

選對探頭事半功倍：1G有源探頭vs1G無源探頭實測分析

在高速信號測試和測量領(lǐng)域，選擇合適探頭對獲取準(zhǔn)確的測量結(jié)果至關(guān)重要。本文深入解析1GHz有源探頭和無源探頭的核心差異、應(yīng)用場景及實測性能對比，詳解面對高...

2025-05-16 標(biāo)簽：測試測量無源探頭 1.5k 0

新能源車產(chǎn)線必備！汽車電子組裝測試線憑啥讓產(chǎn)能翻倍？

新能源車市場滲透率狂飆到35%，但有個“致命傷”讓車企頭疼：電子部件檢測效率太低！ 某造車新勢力高管曾吐槽：“沒有這條‘超級產(chǎn)線’，我們的交付周期至少拖...

2025-04-08 標(biāo)簽：測試汽車電子新能源車 1.5k 0

半導(dǎo)體測試的種類與技巧

芯片研發(fā)：半導(dǎo)體生產(chǎn)的起點站 半導(dǎo)體產(chǎn)品的旅程始于芯片的精心設(shè)計。在這一初始階段，工程師們依據(jù)產(chǎn)品的預(yù)期功能，精心繪制芯片的藍(lán)圖。設(shè)計定稿后，這些藍(lán)圖將...

2025-01-28 標(biāo)簽：芯片測試半導(dǎo)體 1.5k 0

探秘半導(dǎo)體防震基座剛性測試：守護(hù)芯片制造的堅固防線

在半導(dǎo)體制造的精密世界里，每一個細(xì)微環(huán)節(jié)都關(guān)乎芯片的性能與質(zhì)量。其中，半導(dǎo)體防震基座作為支撐核心設(shè)備的關(guān)鍵部件，其剛性表現(xiàn)起著舉足輕重的作用。一、剛性為...

2025-02-17 標(biāo)簽：測試半導(dǎo)體芯片制造 1.5k 0

參考曲線狀態(tài)評估指南

在使用OSI系列設(shè)備進(jìn)行應(yīng)變或溫度傳感測試時，取參考是尤為重要的一個步驟。參考曲線能為我們提供諸如光纖樣品鏈路狀態(tài)、長度等關(guān)鍵信息。因此，準(zhǔn)確理解參考曲...

2024-11-23 標(biāo)簽：測試光纖溫度傳感 1.5k 0

【五】Purple Pi OH開發(fā)板帶你7天入門OpenHarmony

在完成了PurplePiOH大部分的接口測試之后，緊接著就是一個充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)——利用SDK來編譯生成我們自己的鏡像文件。通過這一過程，不僅能夠讓你獲得...

2024-03-07 標(biāo)簽：測試開發(fā)板OpenHarmony 1.5k 0