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標(biāo)簽 > 白光干涉儀

白光干涉儀

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干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。

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白光干涉儀資訊

白光干涉儀與激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析

在精密測(cè)量領(lǐng)域,干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)的儀器,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場(chǎng)景。其中,白光干涉儀與激光干涉儀是兩類具有代表性的設(shè)備...

2025-09-20 標(biāo)簽:激光干涉儀白光干涉儀 1.8k 0

OLI 光纖微裂紋檢測(cè)儀介紹

OLI 光纖微裂紋檢測(cè)儀介紹

今天小編來跟大家探討下我司推出的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀。首先理解下OLI的原理,OLI其原理基于白光干涉,可以簡(jiǎn)單理解為,設(shè)備出光光源為白光,該光源分為...

2023-09-15 標(biāo)簽:光纖檢測(cè)儀白光干涉儀 1.7k 0

白光干涉儀可以看顯微形貌嗎?

白光干涉儀可以看顯微形貌嗎?

白光干涉儀是一種常見的測(cè)量設(shè)備,它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察和測(cè)量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過分束鏡分成兩束光線,這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這...

2023-08-23 標(biāo)簽:測(cè)量顯微干涉儀 1.6k 0

白光干涉儀測(cè)二維形貌怎么測(cè)

白光干涉儀測(cè)二維形貌怎么測(cè)

白光干涉儀利用白光干涉原理,通過測(cè)量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業(yè)制造、科學(xué)研究等領(lǐng)域,被廣泛用于測(cè)量精密器件的形貌、表面缺陷檢測(cè)等方面。...

2023-07-21 標(biāo)簽:測(cè)量干涉儀白光干涉儀 1.6k 0

光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀在光刻圖形的測(cè)量

光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀在光刻圖形的測(cè)量

引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域,光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料,其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質(zhì)量。同時(shí),精準(zhǔn)測(cè)量光刻圖形對(duì)把控工藝質(zhì)...

2025-05-29 標(biāo)簽:光刻光刻膠白光干涉儀 1.6k 0

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力紅外探測(cè)行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測(cè)

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力紅外探測(cè)行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測(cè)

晶圓襯底的質(zhì)量對(duì)紅外探測(cè)器芯片性能至關(guān)重要,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀可以高精度測(cè)量晶圓襯底的亞納米級(jí)粗糙度、納米級(jí)臺(tái)階、整體平面度、微觀三維形貌等。

2024-08-30 標(biāo)簽:晶圓紅外線傳感平面度檢測(cè) 1.5k 0

白光干涉儀如何選擇鏡頭丨科普篇

白光干涉儀如何選擇鏡頭丨科普篇

figure class=imageimg src=https://file.elecfans.com/web2/M00/9D/A5/pYYBAGQuo...

2023-04-07 標(biāo)簽:干涉儀白光干涉儀 1.5k 0

與白光干涉儀相關(guān)的精度概念都有哪些

與白光干涉儀相關(guān)的精度概念都有哪些

文章介紹了白光干涉儀的Z軸垂直精度和XY橫向精度的相關(guān)概念,包括垂直分辨率、RMS重復(fù)性、臺(tái)階重復(fù)性等,以及影響精度的因素,并強(qiáng)調(diào)使用環(huán)境的穩(wěn)定性對(duì)精度...

2024-08-13 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器精密儀器白光干涉儀 1.5k 0

白光干涉儀在晶圓濕法刻蝕工藝后的 3D 輪廓測(cè)量

白光干涉儀在晶圓濕法刻蝕工藝后的 3D 輪廓測(cè)量

引言 晶圓濕法刻蝕工藝通過化學(xué)溶液對(duì)材料進(jìn)行各向同性或選擇性腐蝕,廣泛應(yīng)用于硅襯底減薄、氧化層開窗、淺溝槽隔離等工藝,其刻蝕深度均勻性、表面平整度、側(cè)向...

2025-09-26 標(biāo)簽:晶圓刻蝕白光干涉儀 1.4k 0

白光干涉儀的拼接測(cè)量功能怎么用?

白光干涉儀的拼接測(cè)量功能怎么用?

SuperViewW1白光干涉儀的拼接測(cè)量功能,能夠針對(duì)樣品的同一區(qū)域進(jìn)行不同模式的檢測(cè)。3軸光柵閉環(huán)反饋,在樣品表面抽取多個(gè)區(qū)域測(cè)量,可以快速實(shí)現(xiàn)大區(qū)...

2023-03-01 標(biāo)簽:測(cè)量白光干涉儀 1.4k 0

提高競(jìng)爭(zhēng)力!創(chuàng)新助力新質(zhì)生產(chǎn)力!中圖儀器補(bǔ)齊國(guó)產(chǎn)精密測(cè)量短板

提高競(jìng)爭(zhēng)力!創(chuàng)新助力新質(zhì)生產(chǎn)力!中圖儀器補(bǔ)齊國(guó)產(chǎn)精密測(cè)量短板

新質(zhì)生產(chǎn)力是科技進(jìn)步和生產(chǎn)方式變革下的新型生產(chǎn)力形態(tài),強(qiáng)調(diào)智能化、靈活化、個(gè)性化和高質(zhì)量化。中圖儀器通過自主研發(fā)高精度測(cè)量?jī)x器和激光跟蹤儀,推動(dòng)制造業(yè)生...

2024-03-25 標(biāo)簽:測(cè)量儀器儀表白光干涉儀 1.4k 0

SuperView W1白光干涉儀——微觀形貌測(cè)量利器

SuperView W1白光干涉儀——微觀形貌測(cè)量利器

中圖儀器SuperView W1白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

2022-03-08 標(biāo)簽:白光干涉儀 1.4k 0

納米級(jí)形貌快速測(cè)量,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

納米級(jí)形貌快速測(cè)量,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

研究摩擦學(xué),能帶來什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?

2025-04-21 標(biāo)簽:測(cè)量表面粗糙度白光干涉儀 1.4k 0

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用

手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計(jì)、粗糙度等。...

2024-11-19 標(biāo)簽:干涉儀表面粗糙度白光干涉儀 1.4k 0

白光干涉儀測(cè)量臺(tái)階高度有哪些優(yōu)勢(shì)

白光干涉儀測(cè)量臺(tái)階高度有哪些優(yōu)勢(shì)

上兩期介紹了粗糙度的概念、設(shè)備,也著重說明了白光干涉原理在粗糙度的應(yīng)用優(yōu)勢(shì),而目前半導(dǎo)體、3C制造、材料、精密加工等領(lǐng)域,除了粗糙度,還會(huì)涉及到臺(tái)階高度...

2023-04-07 標(biāo)簽:測(cè)量干涉儀白光干涉儀 1.4k 0

入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

近年來,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...

2025-02-24 標(biāo)簽:測(cè)量表面粗糙度白光干涉儀 1.4k 0

白光干涉儀拼接功能怎么用?

白光干涉儀拼接功能怎么用?

SuperViewW1白光干涉儀XY載物臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,可以測(cè)到12mm,也可以測(cè)到更小的尺寸,局部位移精度可達(dá)亞微米級(jí)別,可以測(cè)量非常...

2023-03-01 標(biāo)簽:光學(xué)儀器干涉儀白光干涉儀 1.4k 0

白光干涉儀AM系列助力3D打印技術(shù)的科研發(fā)展

白光干涉儀AM系列助力3D打印技術(shù)的科研發(fā)展

自品牌開創(chuàng)以來,優(yōu)可測(cè)一直秉承著“用心檢測(cè)”的理念,樂于協(xié)助高校、研究院以及實(shí)驗(yàn)室的學(xué)子、老師進(jìn)行學(xué)術(shù)研究,助力3D打印技術(shù)發(fā)展以及行業(yè)創(chuàng)新,推動(dòng)中國(guó)科...

2024-02-23 標(biāo)簽:透鏡干涉儀表面粗糙度 1.4k 0

白光干涉儀與原子力顯微鏡測(cè)試粗糙度的區(qū)別解析

表面粗糙度作為衡量材料表面微觀形貌的關(guān)鍵指標(biāo),其精準(zhǔn)測(cè)量在精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有重要意義。白光干涉儀與原子力顯微鏡(AFM)是兩類常用的粗糙度測(cè)試...

2025-09-20 標(biāo)簽:顯微鏡白光干涉儀 1.3k 0

一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平,測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平,測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

測(cè)量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布

2025-03-27 標(biāo)簽:測(cè)量白光干涉儀 1.3k 0

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    802.11ac
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