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標(biāo)簽 > 自動(dòng)化測(cè)試
一般是指軟件測(cè)試的自動(dòng)化，軟件測(cè)試就是在預(yù)設(shè)條件下運(yùn)行系統(tǒng)或應(yīng)用程序，評(píng)估運(yùn)行結(jié)果，預(yù)先條件應(yīng)包括正常條件和異常條件。
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數(shù)字變電站的遠(yuǎn)程自動(dòng)化測(cè)試：新時(shí)代的電力安全策略
隨著工業(yè)和關(guān)鍵系統(tǒng)對(duì)網(wǎng)絡(luò)安全的要求越來(lái)越高，采用多層方法來(lái)應(yīng)對(duì)各種安全威脅變得至關(guān)重要。本篇文章將重點(diǎn)介紹RELY-TEST如何運(yùn)用于數(shù)字變電站網(wǎng)絡(luò)安全...
2023-12-21 標(biāo)簽：變電站自動(dòng)化測(cè)試電力 836 0
相約2023 MWS China，預(yù)見(jiàn)MEMS產(chǎn)業(yè)未來(lái)挑戰(zhàn)與機(jī)遇
12月1日，2023MWSChina將在上海嘉定喜來(lái)登酒店召開(kāi)。本次峰會(huì)吸引了數(shù)百位來(lái)全球的半導(dǎo)體領(lǐng)先廠商及產(chǎn)業(yè)鏈領(lǐng)袖代表參與，他們將分享MEMS行業(yè)的...
2023-11-30 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試MEMMWS 1.1k 0
開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試方案的流程是什么？開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試？
開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試而開(kāi)發(fā)的一種智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，打破傳統(tǒng)測(cè)試程序與缺陷，滿(mǎn)足客戶(hù)新的測(cè)試需求，助力客戶(hù)解決測(cè)試難點(diǎn)，順利完成開(kāi)關(guān)電源測(cè)...
2023-11-22 標(biāo)簽：開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試測(cè)試系統(tǒng) 2.6k 1
提速30%！HarmonyOS NEXT自動(dòng)化測(cè)試開(kāi)發(fā)效率提升
軟件測(cè)試作為軟件生命周期中不可缺少的組成部分，對(duì)提高軟件質(zhì)量起著重要作用。當(dāng)一款全新的應(yīng)用在到達(dá)用戶(hù)之前，將會(huì)根據(jù)不同的時(shí)機(jī)開(kāi)展單元測(cè)試、集成測(cè)試、專(zhuān)項(xiàng)...
2023-11-08 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試HarmonyOS 1.7k 0
基于軟件性質(zhì)的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)
在軟件開(kāi)發(fā)的生命周期中，測(cè)試是至關(guān)重要的一環(huán)。為了確保軟件產(chǎn)品的質(zhì)量，開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)需要進(jìn)行全面的測(cè)試，以發(fā)現(xiàn)和修復(fù)軟件中潛在的缺陷和問(wèn)題。傳統(tǒng)的人工測(cè)試雖然...
2023-10-09 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試 1.6k 0
芯片自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片過(guò)壓保護(hù)和過(guò)流保護(hù)測(cè)試
過(guò)壓保護(hù)和過(guò)流保護(hù)是為了防止電路中電壓/電流過(guò)大從而損壞產(chǎn)品，所以一般的電子器件的內(nèi)部都會(huì)有保護(hù)電路，保障器件在電壓/電流過(guò)大時(shí)可以自動(dòng)斷開(kāi)輸出，因此過(guò)...
2023-09-26 標(biāo)簽：芯片自動(dòng)化測(cè)試電源芯片 4k 0
DC-DC電源測(cè)試系統(tǒng)軟件之負(fù)載調(diào)整率自動(dòng)化測(cè)試
電源模塊的負(fù)載調(diào)整率測(cè)試是屬于功能測(cè)試中的一種，它是電源模塊中非常重要的一項(xiàng)指標(biāo)，可以直觀的反應(yīng)當(dāng)負(fù)載電流變化時(shí)，電源模塊的輸出電壓的變化情況。而電源模...
2023-09-20 標(biāo)簽：電源自動(dòng)化測(cè)試DC-DC 2.2k 0
如何用芯片自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備測(cè)試芯片上電和下電功能？
芯片上電與下電功能測(cè)試是集成電路生產(chǎn)和研發(fā)過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，它可以幫助企業(yè)確保產(chǎn)品的可靠性、整合性和兼容性，同時(shí)提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。
2023-09-19 標(biāo)簽：芯片自動(dòng)化測(cè)試 2.9k 0
為什么要實(shí)現(xiàn)芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試？ATECLOUD如何解決痛點(diǎn)？
射頻芯片主要應(yīng)用于無(wú)線通信和雷達(dá)系統(tǒng)等領(lǐng)域，其性能直接影響到通信系統(tǒng)的質(zhì)量。而ATECLOUD-IC會(huì)針對(duì)芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試提供一站式軟硬件解決方案，實(shí)...
2023-09-12 標(biāo)簽：芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試 1.4k 0
SEGGER推出了測(cè)試場(chǎng)電源適配器，結(jié)合市場(chǎng)領(lǐng)先的J-Link PRO，可以輕松建立節(jié)能的大型測(cè)試場(chǎng)。
2023-07-28 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試電源適配器SEGGER 1.4k 0
羅德與施瓦茨推出全新ZNrun自動(dòng)化測(cè)試解決方案
羅德與施瓦茨公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)"R&S公司"）開(kāi)發(fā)了全新的R&S ZNrun自動(dòng)化測(cè)試。對(duì)于完全自動(dòng)化驗(yàn)證PCIe x8...
2023-07-11 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試PCIe線纜 1.6k 0
自動(dòng)測(cè)試技術(shù)趨勢(shì)和挑戰(zhàn)
行業(yè)調(diào)研數(shù)據(jù)顯示，芯片行業(yè)的產(chǎn)值和營(yíng)收一直在不斷提高，同時(shí)其地位受到大眾的關(guān)注。光刻機(jī)在芯片領(lǐng)域當(dāng)然獨(dú)占鰲頭，但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分，測(cè)試對(duì)...
2023-07-14 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試存儲(chǔ)器光刻機(jī) 1.1k 0
【解決方案】DMS駕駛員監(jiān)測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試方案
什么是DMS?DMS是英文DriverMonitorSystem的縮寫(xiě)，即駕駛員監(jiān)控系統(tǒng)。主要是實(shí)現(xiàn)對(duì)駕駛員的身份識(shí)別、駕駛員疲勞駕駛以及危險(xiǎn)行為的檢測(cè)...
2023-06-08 標(biāo)簽：測(cè)試自動(dòng)化測(cè)試DMS 4.3k 0
實(shí)車(chē)自動(dòng)化測(cè)試解決方案
figure class=imageimg src=https://file.elecfans.com/web2/M00/8E/91/pYYBAGPcr...
2023-02-03 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)化智能座艙 1.3k 0
OTA全稱(chēng)“Over-The-Air”，是一種空中下載技術(shù)，早期被廣泛應(yīng)用于手機(jī)行業(yè)中，終結(jié)了手機(jī)升級(jí)需要連接電腦下載軟件，再安裝更新的繁復(fù)操作。近年來(lái)...
2023-01-06 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試OTA智能座艙 1.4k 0
淺談 | 高低溫環(huán)境下的車(chē)載屏幕功能耐久與觸屏精度自動(dòng)化測(cè)試
隨著汽車(chē)科技的發(fā)展，汽車(chē)電子產(chǎn)品的智能化程度在不斷提升，車(chē)載屏幕等交互終端的應(yīng)用性能越來(lái)越受用戶(hù)關(guān)注。由于汽車(chē)常年所處的環(huán)境多變，惡劣氣候會(huì)影響汽車(chē)電子...
2022-12-02 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試智能座艙 2.1k 0
隨著5G等無(wú)線通信技術(shù)的快速發(fā)展，汽車(chē)行業(yè)與無(wú)線通信技術(shù)進(jìn)一步融合，正快速推動(dòng)著汽車(chē)智能化的發(fā)展進(jìn)程，而OTA技術(shù)則是汽車(chē)智能化的標(biāo)志之一，OTA升級(jí)持...
2022-11-29 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試OTA 3.3k 0
ATECLOUD:中國(guó)自主研發(fā)的CPU芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)
隨著中國(guó)科技產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，國(guó)產(chǎn)CPU芯片的研發(fā)和生產(chǎn)已經(jīng)成為國(guó)家科技創(chuàng)新的重要方向。而在CPU芯片的研發(fā)過(guò)程中，測(cè)試系統(tǒng)的建設(shè)和優(yōu)化是至關(guān)重要的一環(huán)。...
2023-05-30 標(biāo)簽：芯片自動(dòng)化測(cè)試cpu 2.3k 0
人工智能時(shí)代背景下，如何發(fā)展與應(yīng)用自動(dòng)化測(cè)試？
人工智能時(shí)代為自動(dòng)化測(cè)試提供了機(jī)會(huì)和挑戰(zhàn)。在發(fā)展自動(dòng)化測(cè)試方面，是人工智能領(lǐng)域下的一個(gè)應(yīng)用方向，和無(wú)人駕駛、機(jī)器人等一樣，都是AI技術(shù)的應(yīng)用場(chǎng)景。從技術(shù)...
2023-04-25 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試AI人工智能 1.2k 1
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