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標(biāo)簽 > ic測(cè)試
IC測(cè)試就是用相關(guān)的電子儀器(如萬(wàn)用表、示波器、直流電源,ATE 等)將IC所具備的電路功能、電氣性能參數(shù)測(cè)試出來(lái)。測(cè)試的項(xiàng)目一般有:直流參數(shù)(電壓、電流)、交流參數(shù)(頻率)、功能測(cè)試等。
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芯片燒錄與芯片測(cè)試的關(guān)聯(lián)性:為什么封裝后必須進(jìn)行IC測(cè)試?
燒錄良率 97%、測(cè)試良率僅 82%,根源在于二者工序本質(zhì)不同:燒錄只驗(yàn)證程序?qū)懭胧欠癯晒?,測(cè)試則校驗(yàn)芯片電氣與功能是否合格。封裝過(guò)程易引入微裂紋、ES...
IC測(cè)試座定制指南:如何設(shè)計(jì)高兼容性的芯片測(cè)試治具?
IC測(cè)試座并非簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)化連接件,其設(shè)計(jì)優(yōu)劣直接影響測(cè)試信號(hào)完整性、效率與成本。高兼容性測(cè)試治具設(shè)計(jì)需立足“系統(tǒng)匹配”:先明確芯片封裝、電氣等核心約束;再...
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