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集成電路新思路:三維集成技術將使超越摩爾定律成為可能

姚小熊27 ? 來源:武漢新芯 ? 作者:武漢新芯 ? 2020-06-16 13:59 ? 次閱讀
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最近一系列事件再次表明,制約中國芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展的主要因素已集中到制造能力。如何快速提升制造能力,推動芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展?只有不斷地研發(fā)和創(chuàng)新。

在芯片界,摩爾定律一直占據(jù)統(tǒng)治地位。

摩爾定律接下來是終結(jié)還是延續(xù),已成為過去十年芯片界熱議的話題。

摩爾定律自1965年發(fā)明以來,一直引領著世界半導體產(chǎn)業(yè)向?qū)崿F(xiàn)更低的成本、更強的性能、更高的經(jīng)濟效益的目標前進。然而,隨著半導體技術逐漸逼近硅工藝尺寸極限,原摩爾定律導出的“IC的集成度約每隔18個月翻一倍,而性能也將提升一倍”的規(guī)律將受到挑戰(zhàn)。

為此, ITRS組織針對半導體產(chǎn)業(yè)中遠期發(fā)展的挑戰(zhàn),在技術路線制定上,提出選擇兩種發(fā)展方式(如圖1):一是繼續(xù)沿著摩爾定律按比例縮小的方向前進,專注于硅基CMOS技術;二是按“后摩爾定律”的多重技術創(chuàng)新應用向前發(fā)展,即在產(chǎn)品多功能化(功耗、帶寬等)需求下,將硅基CMOS和非硅基等技術相結(jié)合,以提供完整的解決方案來應對和滿足層出不窮的新市場發(fā)展。

· 繼續(xù)使用先進節(jié)點,邁向5納米及以下

使用先進節(jié)點的好處很多,晶體管密度更大、占用空間更少、性能更高、功率更低,但挑戰(zhàn)也越來越難以克服。

極小尺寸下,芯片物理瓶頸越來越難以克服。尤其在近幾年,先進節(jié)點走向10nm、7nm、5nm,問題就不再只是物理障礙了,節(jié)點越進化,微縮成本越高,能擔負巨額研發(fā)費用并實現(xiàn)盈利的設計公司越來越少。

根據(jù)公開報道,28nm節(jié)點設計成本約為5000萬美元,而到5nm節(jié)點,設計總成本已經(jīng)飆高到逾5億美元,相當于逾35億人民幣。先進工藝如果只能提升性能,無法有效降低甚至守住成本,選擇最先進工藝的客戶將變得越來越有限。

· 以“三維集成”延續(xù)摩爾定律

幸運的是,每當摩爾定律被唱衰將走到盡頭,總會激發(fā)出科學家和工程師們創(chuàng)新構想,提出力挽狂瀾的突破性技術,將看似走向終結(jié)的摩爾定律以“后摩爾定律”的形式延續(xù)下去。

“后摩爾定律”的實質(zhì)是,它除了會延續(xù)摩爾定律對集成度、性能的追求外,還會利用更多的技術,例如模擬/射頻高壓功率電源、MEMS傳感器、生物芯片技術及系統(tǒng)級封裝(SiP)等三維集成技術,以提供具有更高附加值的系統(tǒng)。

ITRS指出,在“后摩爾定律”范疇,隨著新興應用不斷出現(xiàn),智能化微系統(tǒng)芯片將會進入三維集成時代。

三維集成技術概覽和兩條主要的工藝路線

三維集成電路又稱立體集成電路,是集成電路從傳統(tǒng)平面集成方式向垂直方向立體集成方式延伸的產(chǎn)物。三維集成電路的優(yōu)勢在于:多層器件重疊結(jié)構使芯片集成度成倍提高;TSV和混合鍵合工藝使芯片間互連長度大幅度縮短,提高傳輸速度并降低了功耗;多種工藝混合集成,使集成電路功能多樣化;減少封裝尺寸,降低設計和制造成本。

三維集成技術可將多層集成電路芯片或晶圓堆疊鍵合,通過三維互連實現(xiàn)多層之間的電信號連接。三維集成技術能實現(xiàn)異質(zhì)芯片互連結(jié)合,發(fā)揮出最高系統(tǒng)性能水平,是其獨特的最大優(yōu)勢。

經(jīng)過十來年的發(fā)展,三維集成技術逐漸形成兩條主要的工藝路線:晶圓間三維堆疊和封裝廠主導的芯片間三維互連。

· 晶圓間三維堆疊技術

通過鍵合堆疊和連通孔工藝的持續(xù)改進滿足芯片對更大帶寬、更小功耗的要求。其工藝目前主要用于圖像傳感器的生產(chǎn),近些年,隨著物聯(lián)網(wǎng)、人工智能5G對更大帶寬、更小功耗和更低延時等特性產(chǎn)品的要求,晶圓級三維集成開始應用于大容量存儲、存算一體、高性能計算等領域。代表廠家有Intel、TSMC、Samsung、SONY等。

· 多顆芯片間三維互連技術

芯片級三維集成,主要追求芯片間凸點(Bump)連接小型化,來提高集成度和芯片性能。其技術特點依托于封裝打線(Wire bond)和凸點(bump)為基礎,把不同功能的芯片通過毫米級的封裝工藝連接。代表廠家主要為半導體制造領域的后端封裝廠,如Amkor、SPIL、ASE、長電、華進等。

二者互有優(yōu)劣,晶圓間堆疊工藝精度高、互聯(lián)密度大;但相較芯片間互連,其良率相對較低、對芯片尺寸匹配度要求高。

國內(nèi)晶圓級三維集成技術平臺代表:武漢新芯

從2012年起,紫光集團旗下的武漢新芯就開始研發(fā)第一代晶圓級三維集成制造工藝,并于2013年成功實現(xiàn)背照式影像傳感器的量產(chǎn),并同步開始第二代晶圓級三維集成技術的研發(fā),2014年硅通孔堆疊技術實現(xiàn)量產(chǎn)。

經(jīng)過多年的發(fā)展和積累,武漢新芯的三維集成制造工藝水平與業(yè)界第一梯隊公司TSMC,索尼,三星等相當,產(chǎn)品已打入國際知名手機品牌以及國內(nèi)知名品牌終端。在上兩代技術的基礎上,武漢新芯于2016年完成第三代三維集成技術的研發(fā),成功研制出晶圓級混合鍵合技術,并成功應用于長江存儲64層3D NAND產(chǎn)品上,其技術能力已達到世界頂尖水平。

2018年,武漢新芯啟動第四代三維集成技術—多晶圓堆疊技術研發(fā),并于2018年底完成工藝驗證,成功邁入多晶圓垂直整合領域。未來還將深耕三維集成領域,開發(fā)異質(zhì)集成技術,目標成為國內(nèi)一流的12寸三維集成技術工藝生產(chǎn)平臺。

通過自身半導體三維集成技術研發(fā)和產(chǎn)品拓展,武漢新芯將帶動上下游企業(yè)共同發(fā)展。在目前工藝條件下,提供更小的芯片面積,以及更高的集成度,力主獲得具有自主知識產(chǎn)權的核心技術體系和成套工藝解決方案,并將之應用于芯片的開發(fā)和生產(chǎn),實現(xiàn)我國集成電路產(chǎn)業(yè)的局部突破和升級,使我國集成電路產(chǎn)業(yè)在三維集成技術這一領域,縮小與世界先進水平的差距。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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