FDMS6673BZ P - Channel PowerTrench? MOSFET深度解析
一、引言
在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)中,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響著整個(gè)系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。今天我們就來(lái)詳細(xì)探討一下Fairchild(現(xiàn)已并入ON Semiconductor)的FDMS6673BZ P - Channel PowerTrench? MOSFET。
文件下載:FDMS6673BZ-D.pdf
二、產(chǎn)品背景與整合說(shuō)明
Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改,原編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)( - )。大家可通過(guò)ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)核實(shí)更新后的器件編號(hào)。
三、FDMS6673BZ MOSFET的特點(diǎn)
3.1 低導(dǎo)通電阻
- 在(V{GS}=-10 V),(I{D}=-15.2 A)時(shí),最大(r{DS(on)} = 6.8 mΩ);在(V{GS}=-4.5 V),(I{D}=-11.2 A)時(shí),最大(r{DS(on)} = 12.5 mΩ)。先進(jìn)的封裝和硅技術(shù)結(jié)合,有效降低了導(dǎo)通電阻,減少了負(fù)載開關(guān)應(yīng)用中的損耗。
3.2 ESD保護(hù)
HBM ESD保護(hù)等級(jí)典型值為8 kV,能有效防止靜電對(duì)器件造成損害,提高了器件的可靠性。
3.3 穩(wěn)健的封裝設(shè)計(jì)
MSL1級(jí)封裝設(shè)計(jì),具有良好的防潮性能,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),環(huán)保又可靠。
四、應(yīng)用領(lǐng)域
4.1 筆記本和服務(wù)器的負(fù)載開關(guān)
可用于控制筆記本和服務(wù)器中的電源通斷,低導(dǎo)通電阻能減少功率損耗,提高系統(tǒng)效率。
4.2 筆記本電池組電源管理
在電池組的充放電管理中發(fā)揮重要作用,確保電池的安全和穩(wěn)定供電。
五、電氣特性
5.1 最大額定值
| 符號(hào) | 參數(shù) | 條件 | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (V_{DS}) | 漏源電壓 | - | -30 | V |
| (V_{GS}) | 柵源電壓 | - | ±25 | V |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流 | (T_{C}=25^{circ}C) | -82 | A |
| (T_{C}=100^{circ}C) | -52 | A | ||
| 脈沖漏極電流 | - | -422 | A | |
| (P_{D}) | 功率耗散 | (T_{C}=25^{circ}C) | 73 | W |
| (T_{A}=25^{circ}C) | 2.5 | W | ||
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 | - | -55 至 +150 | °C |
5.2 電氣參數(shù)
- 截止特性:如(BVDSS)(漏源擊穿電壓)在(I{D}=-250 A),(V{GS}=0 V)時(shí)為 - 30 V ,其溫度系數(shù)為 - 18 mV/°C 。
- 導(dǎo)通特性:(V{GS(th)})(柵源閾值電壓)在不同條件下有不同取值,靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(r{DS(on)})也隨(V{GS})和(I{D})變化。
- 動(dòng)態(tài)特性:包括輸入電容(Ciss)、輸出電容(Coss)、反向傳輸電容(Crss)等。
- 開關(guān)特性:如開通延遲時(shí)間(td(on))、上升時(shí)間(tr)、關(guān)斷延遲時(shí)間(td(off))和下降時(shí)間(tf)等。
- 漏源二極管特性:源漏二極管正向電壓(VSD)在不同電流下有不同表現(xiàn),反向恢復(fù)時(shí)間(trr)和反向恢復(fù)電荷(Qrr)也是重要參數(shù)。
六、典型特性曲線分析
6.1 導(dǎo)通區(qū)域特性
從“On Region Characteristics”曲線可以看出,不同(V_{GS})下,漏極電流(-ID)隨漏源電壓(-VDS)的變化情況,有助于我們了解器件在不同工作條件下的導(dǎo)通性能。
6.2 歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系
“Normalized On - Resistance vs. Drain Current and Gate Voltage”曲線直觀地展示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化規(guī)律,為工程師在設(shè)計(jì)中選擇合適的工作點(diǎn)提供了參考。
6.3 歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系
“Normalized On Resistance vs. Junction Temperature”曲線表明了導(dǎo)通電阻隨結(jié)溫的變化情況,在高溫環(huán)境下,導(dǎo)通電阻會(huì)有所增加,這在實(shí)際應(yīng)用中需要考慮。
七、封裝與訂購(gòu)信息
FDMS6673BZ采用Power 56封裝,卷盤尺寸為13英寸,膠帶寬度為12 mm,每卷數(shù)量為3000個(gè)。器件標(biāo)記為FDMS6673BZ 。
八、注意事項(xiàng)
- ON Semiconductor保留對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行更改而不另行通知的權(quán)利。
- 產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或類似分類的醫(yī)療設(shè)備以及人體植入設(shè)備。
- 買家需對(duì)使用ON Semiconductor產(chǎn)品的自身產(chǎn)品和應(yīng)用負(fù)責(zé),包括遵守所有法律法規(guī)和安全要求。
作為電子工程師,在使用FDMS6673BZ MOSFET時(shí),我們需要充分了解其各項(xiàng)特性和參數(shù),結(jié)合實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景進(jìn)行合理設(shè)計(jì),以確保系統(tǒng)的性能和可靠性。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過(guò)哪些關(guān)于MOSFET的問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
-
MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
151文章
10834瀏覽量
235080 -
電子設(shè)備
+關(guān)注
關(guān)注
2文章
3279瀏覽量
56254
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
FDMS6673BZ P - Channel PowerTrench? MOSFET深度解析
評(píng)論