深入解析 onsemi FDMC6679AZ P 溝道 MOSFET
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET 作為重要的功率控制元件,其性能直接影響到整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來深入探討 onsemi 公司的 FDMC6679AZ P 溝道 MOSFET,看看它在負(fù)載開關(guān)應(yīng)用中能帶來怎樣的表現(xiàn)。
文件下載:FDMC6679AZ-D.PDF
產(chǎn)品概述
FDMC6679AZ 專為降低負(fù)載開關(guān)應(yīng)用中的損耗而設(shè)計(jì)。它結(jié)合了先進(jìn)的硅技術(shù)和封裝技術(shù),實(shí)現(xiàn)了極低的導(dǎo)通電阻 (r_{DS}(on)),并具備 ESD 保護(hù)功能。這使得它在筆記本電腦、服務(wù)器等設(shè)備的負(fù)載開關(guān)以及筆記本電池組電源管理等應(yīng)用中表現(xiàn)出色。
關(guān)鍵特性
低導(dǎo)通電阻
- 在 (V{GS} = -10 V),(I{D} = -11.5 A) 時(shí),最大 (r{DS}(on)) 僅為 10 mΩ;在 (V{GS} = -4.5 V),(I{D} = -8.5 A) 時(shí),最大 (r{DS}(on)) 為 18 mΩ。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗更小,從而提高了整個(gè)電路的效率。
ESD 保護(hù)
具備 8 kV 典型的 HBM ESD 保護(hù)等級,能有效防止靜電對器件造成損壞,提高了產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。
寬 VGSS 范圍
擴(kuò)展的 (V_{GSS}) 范圍(-25 V)適用于電池應(yīng)用,為設(shè)計(jì)提供了更大的靈活性。
高性能溝槽技術(shù)
采用高性能溝槽技術(shù),實(shí)現(xiàn)了極低的 (r_{DS}(on)),同時(shí)具備高功率和高電流處理能力。
環(huán)保設(shè)計(jì)
該器件無鉛且無鹵化物,符合環(huán)保要求。
電氣特性
最大額定值
- 電壓方面:漏源電壓 (V{DS}) 最大為 -30 V,柵源電壓 (V{GS}) 為 ±25 V。
- 電流方面:在 (T{C} = 25°C) 時(shí),連續(xù)漏極電流 (I{D}) 為 -20 A;在 (T_{A} = 25°C) 時(shí),連續(xù)漏極電流為 -11.5 A,脈沖電流可達(dá) -32 A。
- 功率方面:在 (T{C} = 25°C) 時(shí),功率耗散 (P{D}) 為 41 W;在 (T_{A} = 25°C) 時(shí),功率耗散為 2.3 W。
- 溫度范圍:工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍為 -55 至 +150 °C。需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
電氣參數(shù)
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓 (B{V D S S}) 在 (I{D} = -250 μA),(V_{GS} = 0 V) 時(shí)為 -30 V,其擊穿電壓溫度系數(shù)為 29 mV/°C。
- 零柵壓漏極電流 (I{D S S}) 在 (V{D S} = -24 V),(V{G S} = 0 V) 時(shí)為 -1 μA,在 (T{J} = 125°C) 時(shí)為 -100 μA。
- 柵源泄漏電流 (I{G S S}) 在 (V{G S} = ±25 V),(V_{D S} = 0 V) 時(shí)為 ±10 μA。
導(dǎo)通特性
- 柵源閾值電壓 (|V{GS(th)}|) 在 (V{G S}=V{D S}),(I{D}=-250 μA) 時(shí),最小值為 -1.0 V,典型值為 -1.8 V,其溫度系數(shù)為 -7 mV/°C。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容 (C{iss}) 在 (V{D S} = -15 V),(V_{G S} = 0 V),(f = 1 MHz) 時(shí),最小值為 2985 pF,典型值為 3970 pF。
- 輸出電容 (C_{oss}) 最小值為 570 pF,典型值為 755 pF。
- 反向傳輸電容 (C_{rss}) 最小值為 500 pF,典型值為 750 pF。
開關(guān)特性
包括上升時(shí)間、關(guān)斷延遲時(shí)間、下降時(shí)間等參數(shù),這些參數(shù)對于評估 MOSFET 的開關(guān)速度和性能至關(guān)重要。
漏源二極管特性
- 源漏二極管正向電壓 (V{SD}) 在 (V{G S}=0 V),(I_{S}=-1.6 A) 時(shí),最小值為 0.71 V,典型值為 1.20 V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間為 31 - 49 ns,反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}) 為 16 - 28 nC。
熱特性
- 結(jié)到殼的熱阻 (R{JC}) 為 3.0 °C/W,結(jié)到環(huán)境的熱阻 (R{JA}) 在特定條件下(如安裝在 1 (in^2) 2 oz 銅墊上)為 53 °C/W。熱特性對于保證器件在工作過程中的溫度穩(wěn)定性至關(guān)重要,工程師在設(shè)計(jì)時(shí)需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場景合理考慮散熱問題。
封裝與訂購信息
- 封裝:采用 WDFN8 3.3x3.3, 0.65P 封裝(CASE 511DH),這種封裝具有良好的散熱性能和較小的體積,適合高密度電路板設(shè)計(jì)。
- 訂購:每盤 3000 個(gè),采用帶盤包裝。關(guān)于帶盤規(guī)格的詳細(xì)信息,可參考相關(guān)的包裝規(guī)格手冊。
典型特性曲線
文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線有助于工程師在不同的工作條件下準(zhǔn)確評估 FDMC6679AZ 的性能,從而優(yōu)化電路設(shè)計(jì)。
總結(jié)
FDMC6679AZ P 溝道 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、ESD 保護(hù)、寬 VGSS 范圍等特性,在負(fù)載開關(guān)和電池管理等應(yīng)用中具有顯著優(yōu)勢。電子工程師在進(jìn)行相關(guān)設(shè)計(jì)時(shí),可以充分利用其特點(diǎn),提高電路的效率和可靠性。同時(shí),在使用過程中,要嚴(yán)格遵守最大額定值和相關(guān)的電氣參數(shù)要求,確保器件的正常工作。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似 MOSFET 的性能優(yōu)化問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
-
負(fù)載開關(guān)
+關(guān)注
關(guān)注
2文章
352瀏覽量
21314
發(fā)布評論請先 登錄
深入解析 onsemi FDMC6679AZ P 溝道 MOSFET
評論