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onsemi FDT86106LZ N溝道MOSFET:高性能與可靠性的完美結(jié)合

我快閉嘴 ? 2026-04-20 15:00 ? 次閱讀
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onsemi FDT86106LZ N溝道MOSFET:高性能與可靠性的完美結(jié)合

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率器件,其性能直接影響著整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來(lái)深入了解一下onsemi推出的FDT86106LZ N溝道MOSFET,看看它有哪些獨(dú)特的特性和優(yōu)勢(shì)。

文件下載:FDT86106LZ-D.PDF

產(chǎn)品概述

FDT86106LZ是一款采用onsemi先進(jìn)POWERTRENCH工藝生產(chǎn)的N溝道邏輯電平MOSFET。該工藝經(jīng)過(guò)特殊優(yōu)化,能夠在有效降低導(dǎo)通電阻的同時(shí),保持出色的開(kāi)關(guān)性能。此外,該器件還增加了G - S齊納二極管,進(jìn)一步提高了ESD電壓保護(hù)水平。

主要特性

低導(dǎo)通電阻

  • 在$V{GS}=10 V$,$I{D}=3.2 A$的條件下,最大$r{DS(on)}$僅為108 mΩ;在$V{GS}=4.5 V$,$I{D}=2.7 A$時(shí),最大$r{DS(on)}$為153 mΩ。這種極低的導(dǎo)通電阻有助于降低功率損耗,提高電路效率。

    高性能溝槽技術(shù)

    采用高性能溝槽技術(shù),使得該MOSFET具有極低的$r_{DS(on)}$,同時(shí)具備高功率和高電流處理能力。它采用廣泛使用的表面貼裝封裝,方便在各種電路板上進(jìn)行安裝。

    ESD保護(hù)與可靠性

  • HBM ESD保護(hù)水平典型值大于3 kV,為器件提供了可靠的靜電防護(hù)。
  • 經(jīng)過(guò)100% UIL測(cè)試,確保了產(chǎn)品的可靠性和一致性。

    環(huán)保特性

    該器件符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),無(wú)鉛、無(wú)鹵,滿足環(huán)保要求。

應(yīng)用領(lǐng)域

FDT86106LZ適用于DC - DC轉(zhuǎn)換電路,能夠在各種電源轉(zhuǎn)換應(yīng)用中發(fā)揮出色的性能。在設(shè)計(jì)DC - DC轉(zhuǎn)換器時(shí),其低導(dǎo)通電阻和高開(kāi)關(guān)性能可以有效提高轉(zhuǎn)換效率,減少發(fā)熱,延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。

電氣特性

最大額定值

符號(hào) 參數(shù) 額定值 單位
$V_{DS}$ 漏源電壓 100 V
$V_{GS}$ 柵源電壓 ± 20 V
$I_{D}$ 漏極電流(連續(xù),$T_{A}=25 °C$) 3.2 A
$I_{D}$ 漏極電流(脈沖) 12 A
$E_{AS}$ 單脈沖雪崩能量 12 mJ
$P_{D}$ 功率耗散($T_{A}=25 °C$,1 in2 2 oz銅焊盤(pán)) 2.2 W
$P_{D}$ 功率耗散($T_{A}=25 °C$,最小2 oz銅焊盤(pán)) 1.0 W
$T{J}, T{STG}$ 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 -55 to +150 °C

電氣參數(shù)

  • 關(guān)斷特性:如$B{VDS}$(漏源擊穿電壓)在$I{D}=250 μA$,$V_{GS}=0 V$時(shí)為100 V。
  • 導(dǎo)通特性:$V{GS(th)}$(柵源閾值電壓)在$V{GS}=V{DS}$,$I{D}=250 μA$時(shí),典型值為1.5 V。
  • 動(dòng)態(tài)特性:包括輸入電容$C{iss}$、輸出電容$C{oss}$、反向傳輸電容$C_{rss}$等,這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估器件的開(kāi)關(guān)速度和響應(yīng)特性非常重要。
  • 開(kāi)關(guān)特性:如導(dǎo)通延遲時(shí)間$t{d(on)}$、上升時(shí)間$t{r}$、關(guān)斷延遲時(shí)間$t{d(off)}$和下降時(shí)間$t{f}$等,這些參數(shù)決定了器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中的性能。

熱特性

熱阻$R_{JA}$(結(jié)到環(huán)境熱阻)為55 °C/W(在1 in2 2 oz銅焊盤(pán)上),這一參數(shù)對(duì)于評(píng)估器件在工作過(guò)程中的散熱情況至關(guān)重要。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,我們需要根據(jù)具體的應(yīng)用場(chǎng)景和散熱要求,合理設(shè)計(jì)散熱方案,以確保器件在安全的溫度范圍內(nèi)工作。

封裝與引腳信息

FDT86106LZ采用SOT - 223封裝(CASE 318H),這種封裝具有良好的散熱性能和機(jī)械穩(wěn)定性。其引腳排列清晰,方便進(jìn)行電路連接。同時(shí),產(chǎn)品采用帶盤(pán)包裝,每盤(pán)4000個(gè),便于自動(dòng)化生產(chǎn)。

典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線可以幫助我們更好地了解器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn),從而在設(shè)計(jì)中做出更合理的選擇。

總結(jié)

onsemi的FDT86106LZ N溝道MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、高性能溝槽技術(shù)、出色的ESD保護(hù)和環(huán)保特性,成為DC - DC轉(zhuǎn)換等應(yīng)用的理想選擇。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,我們可以根據(jù)其電氣特性和熱特性,合理選擇工作條件和散熱方案,以充分發(fā)揮該器件的性能優(yōu)勢(shì)。你在使用類似MOSFET器件時(shí),有沒(méi)有遇到過(guò)什么問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)?zāi)??歡迎在評(píng)論區(qū)分享。

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