FDD86102 N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET深度解析
在電子工程設(shè)計(jì)中,MOSFET器件是構(gòu)建開(kāi)關(guān)電路、電源管理系統(tǒng)等的基礎(chǔ)元件。今天我們就來(lái)深入探討一下Fairchild(現(xiàn)屬ON Semiconductor)的FDD86102 N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET。
文件下載:FDD86102-D.pdf
一、企業(yè)背景與產(chǎn)品編號(hào)變更說(shuō)明
Fairchild現(xiàn)已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要變更。在Fairchild零件編號(hào)中使用的下劃線(_)將更改為破折號(hào)( - ),大家可以在ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)上驗(yàn)證更新后的設(shè)備編號(hào)。遇到系統(tǒng)集成相關(guān)問(wèn)題,可發(fā)送郵件至Fairchild_questions@onsemi.com咨詢(xún)。
二、FDD86102 MOSFET基本信息
1. 產(chǎn)品概述
FDD86102是一款N溝道屏蔽柵PowerTrench? MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor先進(jìn)的PowerTrench?工藝,并結(jié)合了屏蔽柵技術(shù)。該工藝針對(duì)導(dǎo)通電阻(rDS(on))、開(kāi)關(guān)性能和耐用性進(jìn)行了優(yōu)化。
2. 關(guān)鍵參數(shù)
- 電壓與電流:耐壓100V,連續(xù)漏極電流在Tc = 25°C時(shí)為36A,Ta = 25°C時(shí)為8A,脈沖電流可達(dá)75A。
- 導(dǎo)通電阻:在VGS = 10V,ID = 8A時(shí),最大rDS(on)為24mΩ;在VGS = 6V,ID = 6A時(shí),最大rDS(on)為38mΩ。
- 功率:在Tc = 25°C時(shí),功率耗散為62W;Ta = 25°C時(shí)為3.1W。
- 工作溫度范圍:工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍為 - 55°C至 + 150°C。
三、FDD86102的特性亮點(diǎn)
1. 先進(jìn)的屏蔽柵MOSFET技術(shù)
這種技術(shù)使得器件能夠在不同的偏置條件下實(shí)現(xiàn)極低的導(dǎo)通電阻。它最大程度地減少了柵 - 漏電容,從而提高了開(kāi)關(guān)速度和效率。
2. 高性能溝槽技術(shù)
能夠顯著降低導(dǎo)通電阻rDS(on),提升了器件在高功率和大電流下的工作能力。在廣泛使用的表面貼裝封裝中,展現(xiàn)出了出色的功率和電流處理能力。
3. 低柵極電荷
相較于其他競(jìng)爭(zhēng)的溝槽技術(shù),F(xiàn)DD86102具有非常低的Qg和Qgd,這意味著在開(kāi)關(guān)過(guò)程中,對(duì)柵極電容充電和放電所需的電荷量較少,從而減少了開(kāi)關(guān)損耗,提高了開(kāi)關(guān)速度。
4. 全UIL測(cè)試
通過(guò)100%的非鉗位電感負(fù)載(UIL)測(cè)試,確保了器件在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性,能夠承受雪崩能量,降低了因電感負(fù)載引起的失效風(fēng)險(xiǎn)。
5. 環(huán)保合規(guī)
符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),這對(duì)于需要滿足環(huán)保要求的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō)是一個(gè)重要的特性。
四、應(yīng)用領(lǐng)域
FDD86102非常適合用于DC - DC轉(zhuǎn)換電路中。在DC - DC轉(zhuǎn)換器里,它的低導(dǎo)通電阻和快速開(kāi)關(guān)特性有助于提高轉(zhuǎn)換效率,減少功率損耗,降低發(fā)熱。那么大家在設(shè)計(jì)DC - DC轉(zhuǎn)換電路時(shí),會(huì)優(yōu)先考慮哪些因素呢?
五、詳細(xì)參數(shù)分析
1. 最大額定值
| 了解這些參數(shù)能避免器件因超過(guò)額定值而損壞。 | 參數(shù) | 符號(hào) | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDS | 100 | V | |
| 柵源電壓 | VGS | ±20 | V | |
| 連續(xù)漏極電流(Tc = 25°C) | ID | 36 | A | |
| 連續(xù)漏極電流(Ta = 25°C) | ID | 8 | A | |
| 脈沖漏極電流 | ID | 75 | A | |
| 單脈沖雪崩能量 | EAS | 121 | mJ | |
| 功率耗散(Tc = 25°C) | PD | 62 | W | |
| 功率耗散(Ta = 25°C) | PD | 3.1 | W | |
| 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 | TJ, TSTG | - 55 to + 150 | °C |
2. 電氣特性
(1)截止特性
- 漏源擊穿電壓(BVDSS):在ID = 250μA,VGS = 0V時(shí)為100V,其溫度系數(shù)為67mV/°C。
- 零柵壓漏極電流(IDSS):當(dāng)VDS = 80V,VGS = 0V時(shí)為1μA。
- 柵源泄漏電流(IGSS):在VGS = ±20V,VDS = 0V時(shí)為±100nA。
(2)導(dǎo)通特性
- 柵源閾值電壓(VGS(th)):范圍在2V至4V之間,溫度系數(shù)為 - 8.5mV/°C。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(rDS(on)):會(huì)隨VGS和ID以及溫度的變化而變化。例如,在VGS = 10V,ID = 8A,TJ = 25°C時(shí)為19 - 24mΩ;在TJ = 125°C時(shí)為33 - 44mΩ。
(3)動(dòng)態(tài)特性
包括輸入電容(Ciss)、輸出電容(Coss)、反向傳輸電容(Crss)和柵極電阻(Rg)等參數(shù),這些參數(shù)影響著器件的開(kāi)關(guān)速度和響應(yīng)特性。
(4)開(kāi)關(guān)特性
如導(dǎo)通延遲時(shí)間(td(on))、上升時(shí)間(tr)、關(guān)斷延遲時(shí)間(td(off))、下降時(shí)間(tf)和總柵極電荷(Qg)等。總柵極電荷Qg的大小決定了驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)要求和開(kāi)關(guān)損耗的大小。
(5)漏源二極管特性
包括源 - 漏二極管正向電壓(VSD)、反向恢復(fù)時(shí)間(trr)和反向恢復(fù)電荷(Qrr)等。這些參數(shù)在涉及到二極管續(xù)流的應(yīng)用中非常重要。
六、典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,這些曲線展示了器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。
1. 導(dǎo)通區(qū)域特性
展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系??梢钥闯鰱旁措妷涸礁撸谙嗤┰措妷合?,漏極電流越大。
2. 歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系
體現(xiàn)了導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化規(guī)律。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,我們可以根據(jù)這個(gè)曲線來(lái)選擇合適的柵極電壓和漏極電流,以獲得較低的導(dǎo)通電阻。
3. 歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系
隨著結(jié)溫的升高,導(dǎo)通電阻會(huì)增大。這就提醒我們?cè)谠O(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí),要充分考慮結(jié)溫對(duì)導(dǎo)通電阻的影響,以確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)保持良好的性能。
七、封裝與訂購(gòu)信息
FDD86102采用D - PAK(TO - 252)封裝,卷盤(pán)尺寸為13英寸,膠帶寬度為16mm,每卷數(shù)量為2500個(gè)。在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí),我們需要根據(jù)這個(gè)封裝尺寸來(lái)確定焊盤(pán)布局和間距。
工程師們?cè)谶x擇MOSFET器件時(shí),需要綜合考慮各種因素,如電壓、電流、導(dǎo)通電阻、開(kāi)關(guān)速度、封裝等。FDD86102以其出色的性能和特性,在DC - DC轉(zhuǎn)換等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢(shì)。大家在實(shí)際應(yīng)用中有沒(méi)有遇到過(guò)類(lèi)似MOSFET器件的選型難題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
FDD86102 N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET深度解析
評(píng)論