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onsemi NTNS3164NZ:小封裝大能量的N溝道MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-19 16:15 ? 次閱讀
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onsemi NTNS3164NZ:小封裝大能量的N溝道MOSFET

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,對于高性能、小尺寸的MOSFET需求日益增長。今天,我們就來深入了解一下安森美(onsemi)推出的NTNS3164NZ N溝道MOSFET,看看它在各種應(yīng)用中能帶來怎樣的驚喜。

文件下載:NTNS3164NZ-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTNS3164NZ是一款單N溝道小信號MOSFET,采用了超小尺寸的SOT - 883(XDFN3)封裝,尺寸僅為1.0 x 0.6 x 0.4 mm,非常適合對空間要求極高的便攜式電子設(shè)備等超薄環(huán)境。它具有低導(dǎo)通電阻($R_{DS(on)}$)的特點(diǎn),并且只需1.5 V的柵極驅(qū)動(dòng)電壓,同時(shí)該器件符合無鉛、無鹵素/BFR以及RoHS標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品特性

封裝優(yōu)勢

超小尺寸的SOT - 883(XDFN3)封裝使得NTNS3164NZ能夠在極其有限的空間內(nèi)發(fā)揮作用,為便攜式電子設(shè)備的設(shè)計(jì)提供了更多的可能性。這種超薄封裝可以滿足現(xiàn)代電子產(chǎn)品對輕薄化的追求。

低導(dǎo)通電阻

在超小的1.0 x 0.6 mm封裝內(nèi)實(shí)現(xiàn)了低$R_{DS(on)}$,不同柵極電壓下的導(dǎo)通電阻表現(xiàn)如下:

  • 在$V{GS} = 4.5 V$,$I{D} = 200 mA$時(shí),$R_{DS(on)}$最大為0.7Ω;
  • $V{GS} = 2.5 V$,$I{D} = 100 mA$時(shí),$R_{DS(on)}$最大為1.0Ω;
  • $V{GS} = 1.8 V$,$I{D} = 50 mA$時(shí),$R_{DS(on)}$最大為2.0Ω;
  • $V{GS} = 1.5 V$,$I{D} = 10 mA$時(shí),$R_{DS(on)}$最大為4.0Ω。

低導(dǎo)通電阻有助于降低功耗,提高電路效率,這在電池供電的便攜式設(shè)備中尤為重要。

低柵極驅(qū)動(dòng)電壓

僅需1.5 V的柵極驅(qū)動(dòng)電壓,使得該MOSFET在低電壓系統(tǒng)中也能輕松工作,進(jìn)一步拓展了其應(yīng)用范圍。

應(yīng)用領(lǐng)域

高端開關(guān)

可用于高端開關(guān)電路,實(shí)現(xiàn)對負(fù)載的有效控制,憑借其低導(dǎo)通電阻和小尺寸的優(yōu)勢,能夠提高開關(guān)電路的性能和可靠性。

高速接口

在高速接口電路中,NTNS3164NZ可以實(shí)現(xiàn)電平轉(zhuǎn)換和信號傳輸,確保信號的高速、穩(wěn)定傳輸。

電源管理

對于超便攜式解決方案的電源管理,該MOSFET進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)。它能夠在有限的空間內(nèi)高效地管理電源,延長設(shè)備的電池續(xù)航時(shí)間。

電氣特性

最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 20 V
柵源電壓 $V_{GS}$ ±8 V
連續(xù)漏極電流($T_{A}=25^{circ} C$穩(wěn)態(tài)) $I_{D}$ 361 mA
連續(xù)漏極電流($T_{A}=85^{circ} C$穩(wěn)態(tài)) $I_{D}$ 260 mA
脈沖漏極電流($t_{p} = 10 mu s$) $I_{DM}$ 1082 mA
功耗($T_{A}=25^{circ} C$穩(wěn)態(tài)) $P_{D}$ 155 mW
工作結(jié)溫和存儲溫度 $T{J}, T{STG}$ -55 to 150 °C

電氣參數(shù)

  • 關(guān)態(tài)特性:漏源擊穿電壓$V{(BR)DSS}$在$V{GS}=0 V$,$I{D}=250 mu A$時(shí)為20 V;零柵壓漏極電流$I{DSS}$在$V{GS}=0 V$,$V{DS}=20 V$,$T_{J}=25^{circ} C$時(shí)最大為1 μA。
  • 開態(tài)特性:柵極閾值電壓$V{GS(TH)}$在$V{GS} = V{DS}$,$I{D} = 250 μA$時(shí),最小值為0.4 V,最大值為1.0 V;不同柵極電壓下的導(dǎo)通電阻如前文所述。

電容和電荷特性

  • 輸入電容$C{ISS}$在$V{GS} = 0 V$,頻率為1 MHz,$V_{DS} = 10 V$時(shí)為24 pF;
  • 輸出電容$C_{OSS}$為5.0 pF;
  • 反向傳輸電容$C_{RSS}$為3.4 pF;
  • 總柵極電荷$Q{G(TOT)}$在$V{GS} = 4.5 V$,$V{DS} = 10 V$,$I{D} = 200 mA$時(shí)為0.8 nC。

開關(guān)特性

在$V{GS} = 4.5 V$的條件下,開啟延遲時(shí)間$t{d(ON)}$為10 ns,上升時(shí)間$t{r}$為11 ns,關(guān)斷延遲時(shí)間$t{d(OFF)}$為67 ns,下降時(shí)間$t_{f}$為31 ns。這些開關(guān)特性表明該MOSFET能夠?qū)崿F(xiàn)快速的開關(guān)動(dòng)作,可以應(yīng)用于對開關(guān)速度要求較高的電路中。

熱阻特性

  • 結(jié)到環(huán)境的穩(wěn)態(tài)熱阻$R_{theta JA}$最大為806 °C/W;
  • 在$t≤5 s$時(shí),結(jié)到環(huán)境的熱阻$R_{theta UA}$為575 °C/W。

熱阻特性對于評估MOSFET在工作過程中的散熱情況非常重要,合理的熱阻設(shè)計(jì)可以保證器件在正常溫度范圍內(nèi)工作,提高其可靠性和穩(wěn)定性。

總結(jié)

onsemi的NTNS3164NZ N溝道MOSFET以其超小尺寸、低導(dǎo)通電阻、低柵極驅(qū)動(dòng)電壓等優(yōu)勢,在便攜式電子設(shè)備、高速接口和電源管理等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。電子工程師們在設(shè)計(jì)相關(guān)電路時(shí),可以充分考慮該器件的特性,以實(shí)現(xiàn)更高效、更緊湊的電路設(shè)計(jì)。大家在實(shí)際應(yīng)用中有沒有遇到過類似小尺寸高性能MOSFET的應(yīng)用案例呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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