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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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BGA焊點(diǎn)失效分析——冷焊與葡萄球效應(yīng)
BGA(Ball Grid Array)是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù),它將芯片的引腳用焊球代替,并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部,通過回流焊與印刷電路板(P...
2023-12-27 標(biāo)簽:BGA焊點(diǎn)失效分析 3k 0
▼關(guān)注公眾號(hào):工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會(huì)帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn)...
2023-12-20 標(biāo)簽:芯片電路設(shè)計(jì)失效分析 6.8k 0
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效,初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況,對失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手...
有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后,儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了,甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察,可以發(fā)...
在PCBA生產(chǎn)過程中,錫膏和助焊劑會(huì)產(chǎn)生殘留物質(zhì),殘留物中包含的有機(jī)酸和電離子,前者易腐蝕PCBA,后者會(huì)造成焊盤間短路故障。且近年來,用戶對產(chǎn)品的清潔...
一、案例背景 車門控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象,有持續(xù)發(fā)生的情況,初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開裂。據(jù)此情況,結(jié)合本次失效樣品,對失效件進(jìn)行分...
在集成電路封裝行業(yè)中,引線鍵合工藝的應(yīng)用產(chǎn)品超過90%。引線鍵合是指在一定的環(huán)境下,采用超聲加壓的方式,將引線兩端分別焊接在芯片焊盤上和引線框架上,從而...
先進(jìn)制程芯片分析能力介紹-微區(qū)分析技術(shù)TEM
TEM在半導(dǎo)體領(lǐng)域具有非常廣泛的用途,如晶圓制造工藝分析、芯片失效分析、芯片逆向分析、鍍膜及刻蝕等半導(dǎo)體工藝分析等等,客戶群體遍布晶圓廠、封裝廠、芯片設(shè)...
技術(shù)干貨 | 失效分析:制樣技術(shù)介紹(一):離子研磨(CP)
電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。本文重點(diǎn)介紹切片制樣技術(shù)常用到的先進(jìn)輔助設(shè)備:離子研磨(CP)。
器件一旦壞了,千萬不要敬而遠(yuǎn)之,而應(yīng)該如獲至寶。開車的人都知道,哪里最能練出駕駛水平?高速公路不行,只有鬧市和不良路況才能提高水平。社會(huì)的發(fā)展就是一個(gè)發(fā)...
2021-06-26 標(biāo)簽:失效分析 2.7k 0
“鯤龍”AG600全狀態(tài)新構(gòu)型滅火機(jī)首飛成功 廣電計(jì)量護(hù)航藍(lán)天逐夢
在航空產(chǎn)品質(zhì)量管控領(lǐng)域,廣電計(jì)量具有多年的技術(shù)積累,構(gòu)建了涵蓋計(jì)量校準(zhǔn)、環(huán)境與可靠性試驗(yàn)、電磁兼容檢測、芯片檢測、軟件測評及軟件工程化管理、材料分析等的...
No.1 案例概述 PCBA出現(xiàn)焊接潤濕不良,分析剝離的器件與PCB板,推測虛焊發(fā)生原因與助焊劑(警惕!電子產(chǎn)品的“隱形殺手”——助焊劑殘留)相關(guān)性較大...
芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要,進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下,生產(chǎn)對進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口...
案例背景 車載濾波器組件在可靠性試驗(yàn)后,主板上的插件引腳焊點(diǎn)發(fā)生開裂異常。 分析過程 焊點(diǎn)外觀 說明:插件器件引腳呈現(xiàn)出明顯的焊點(diǎn)開裂狀態(tài)。 X-RAY...
失效分析和可靠性測試:為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備
來源:《半導(dǎo)體芯科技》雜志 掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM,Scanning Acoustic Microscopy)已成為半導(dǎo)體供應(yīng)鏈完整性、在線制造、研發(fā)、...
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