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標(biāo)簽 > eda
EDA是電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(Electronics Design Automation)的縮寫(xiě),在20世紀(jì)60年代中期從計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)、計(jì)算機(jī)輔助制造(CAM)、計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試(CAT)和計(jì)算機(jī)輔助工程(CAE)的概念發(fā)展而來(lái)的。
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主要的障礙在于n型和p型器件之間需要很大的空間余量,這使得有效納米片寬度在按比例的單元高度中變得困難,空間被功函數(shù)金屬的圖形化步驟所消耗。
***被圍堵?國(guó)內(nèi)EDA產(chǎn)業(yè)尚未形成規(guī)模
沒(méi)有半導(dǎo)體設(shè)備的支持,芯片制造的任何一個(gè)環(huán)節(jié)都難以完成芯片的交付,但目前國(guó)產(chǎn)化率在全球市場(chǎng)中所占的比例很低。
2023-03-21 標(biāo)簽:eda光刻機(jī)半導(dǎo)體設(shè)備 904 0
FPGA入門(mén)之FPGA 開(kāi)發(fā)流程
FPGA 的設(shè)計(jì)流程就是利用 EDA 開(kāi)發(fā)軟件和編程工具對(duì) FPGA 芯片進(jìn)行開(kāi)發(fā)的過(guò)程。原理圖和HDL(Hardware description la...
高效實(shí)現(xiàn)PCB自動(dòng)布線的設(shè)計(jì)技巧(下)
對(duì)關(guān)鍵信號(hào)的布線需要考慮在布線時(shí)考慮一些電參數(shù),比如減小分布電感和EMC等,對(duì)于其他信號(hào)的布線也累死,所有EDA廠商會(huì)提供一種方法來(lái)控制這些參數(shù),在了解...
高效實(shí)現(xiàn)PCB自動(dòng)布線的設(shè)計(jì)技巧(上)
不可否認(rèn)的是,盡管現(xiàn)在的EDA工具很強(qiáng)大,但隨著PCB尺寸要求越來(lái)越高,器件密度大幅上漲,直接決定了PCB設(shè)計(jì)難度不低,很多工程師不可避免面對(duì)同樣的問(wèn)題...
目前主流的實(shí)現(xiàn)方式是使用絕緣體上硅(Silicon on Insulator)技術(shù)。使用等離子體浸沒(méi)注入或者晶圓鍵合技術(shù)制造SOI Wafer,在硅下面...
High K材料與金屬柵實(shí)際上是兩項(xiàng)技術(shù)改進(jìn),但是由于他們往往聯(lián)袂出現(xiàn),所以經(jīng)常稱為HKMG。
EDA探索之MOSFET收縮,Happy Scaling Era
一般而言,每一代集成電路工藝在尺寸上縮減至上一代的0.7倍(即S因子1.428),表現(xiàn)在面積上,就是0.7的平方,0.49倍。即面積比原來(lái)小一半,密度比...
在高速PCB中,為實(shí)現(xiàn)差分信號(hào)等長(zhǎng),且差分對(duì)每條線阻抗連續(xù),有時(shí)候我們需要對(duì)單差分對(duì)做特殊調(diào)整。 對(duì)它的繞線進(jìn)行補(bǔ)償,但是這種補(bǔ)償,需要依據(jù)仿真分析結(jié)果...
算法是對(duì)芯片系統(tǒng)進(jìn)行的整體戰(zhàn)略規(guī)劃,決定了芯片各個(gè)模塊功能定義及實(shí)現(xiàn)方式,指引著整個(gè)芯片設(shè)計(jì)的目標(biāo)和方向。可謂,牽一發(fā)而動(dòng)全身。
2023-03-01 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)算法無(wú)線通信 1.5k 0
EDA技術(shù)探索之窄溝道效應(yīng)與反窄溝道效應(yīng)
其中柵極方向與有源區(qū)方向呈垂直交錯(cuò),中間白色的區(qū)域就是隔離區(qū),或稱為場(chǎng)區(qū)。我們最常見(jiàn)的照片是沿著有源區(qū)方向做截面的,如果沿著柵極方向做截面,則可以看到完...
2023-02-24 標(biāo)簽:電路設(shè)計(jì)eda 5.5k 0
整個(gè) EDA 的市場(chǎng)規(guī)模在整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)中占比很小,和以互聯(lián)網(wǎng)為代表的信息技術(shù)服務(wù)產(chǎn)業(yè)相比更是九牛一毛。但是EDA產(chǎn)業(yè)是電子設(shè)計(jì)產(chǎn)業(yè)的最上游,也是整個(gè)...
EDA和IP市場(chǎng)出現(xiàn)的三大技術(shù)趨勢(shì)分析
在云端部署云原生EDA工具和預(yù)先針對(duì)IC設(shè)計(jì)而優(yōu)化的硬件平臺(tái),以及靈活的EDA使用授權(quán)模式,讓云端EDA成為很有吸引力的選擇。云計(jì)算部署模式有三種形式:...
芯片設(shè)計(jì)之模擬IC設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)全流程分析圖
射頻芯片作為模擬電路王冠上的明珠,一直被認(rèn)為是芯片設(shè)計(jì)中的“華山之巔”。 一方面因?yàn)樯漕l電路的物理形狀和周圍介質(zhì)分布會(huì)對(duì)射頻信號(hào)的傳輸造成很大影響。
如何降低Formal assertion的復(fù)雜性呢?
分解一個(gè)復(fù)雜端到端斷言屬性的一種方法是基于模塊化分級(jí)斷言證明
2023-02-12 標(biāo)簽:edaEDA仿真技術(shù) 1.1k 0
精確控制集成電路中MOSFET的閾值電壓對(duì)電路的可靠性至關(guān)重要。通常情況下,閾值電壓是通過(guò)向溝道區(qū)的離子注入來(lái)調(diào)整的。
以NMOS為例在源漏穿通發(fā)生之后,對(duì)于載流子而言存在一個(gè)N-D-N的通道。源極的部分電子進(jìn)入耗盡區(qū)后,有一定可能被電場(chǎng)直接掃進(jìn)漏極,進(jìn)而被漏極收集,從而...
Formal Verification:形式驗(yàn)證的分類、發(fā)展、適用場(chǎng)景
形式驗(yàn)證分為兩大分支:Equivalence Checking 等價(jià)檢查 和 Property Checking 屬性檢查 形式驗(yàn)證初次被EDA工具采用...
一般來(lái)講,我們認(rèn)為器件在線性區(qū)漏極電壓很小,沒(méi)有GIDL現(xiàn)象 。從上圖明顯可以看到在0V時(shí)Idsat曲線比Idlin曲線的電流高了兩個(gè)數(shù)量級(jí)。在反方向繼...
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