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標(biāo)簽 > 制造工藝
制造工藝指制造CPU或GPU的制程,或指晶體管門電路的尺寸,單位為納米(nm)。主流的CPU制程已經(jīng)達(dá)到了7-14納米(AMD三代銳龍已全面采用7nm工藝,intel第9代全面采用14nm),更高的在研發(fā)制程甚至已經(jīng)達(dá)到了4nm或更高,已經(jīng)正式商用的高通855已采用7nm制程。
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據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,近日,由北京理工大學(xué)、佛羅里達(dá)大學(xué)(University of Florida)、南佛羅里達(dá)大學(xué)(University of Sout...
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路正沿著三個(gè)方向發(fā)展:一是集成電路芯片的特征尺寸向不斷縮小的方向發(fā)展;二是大量的不同需求催生多種類型的集成電路芯片;三是為...
在集成電路制造工藝中,氧化工藝也是很關(guān)鍵的一環(huán)。通過(guò)在硅晶圓表面形成二氧化硅(SiO?)薄膜,不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)硅表面的保護(hù)和鈍化,還能為后續(xù)的摻雜、絕緣、...
CMOS超大規(guī)模集成電路制造工藝流程的基礎(chǔ)知識(shí)
本節(jié)將介紹 CMOS 超大規(guī)模集成電路制造工藝流程的基礎(chǔ)知識(shí),重點(diǎn)將放在工藝流程的概要和不同工藝步驟對(duì)器件及電路性能的影響上。
半導(dǎo)體封裝工藝有哪些 半導(dǎo)體封裝類型及其應(yīng)用
圖1為半導(dǎo)體封裝方法的不同分類,大致可以分為兩種:傳統(tǒng)封裝和晶圓級(jí)(Wafer-Level)封裝。傳統(tǒng)封裝首先將晶圓切割成芯片,然后對(duì)芯片進(jìn)行封裝;而晶...
作為自動(dòng)駕駛所需的LiDAR等3D傳感技術(shù)的光源,半導(dǎo)體激光器的市場(chǎng)變得活躍起來(lái)。其中之一是具有小型化、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)的VCSEL(Vertical Cav...
機(jī)床的幾何精度什么和什么時(shí)是有區(qū)別的
機(jī)床的幾何精度是指機(jī)床在加工過(guò)程中,其各部件的幾何形狀和相互位置精度。它直接關(guān)系到機(jī)床的加工精度和加工質(zhì)量。機(jī)床的幾何精度主要包括機(jī)床的直線度、平面度、...
2024-06-07 標(biāo)簽:制造工藝機(jī)床光學(xué)測(cè)量 3k 0
RFID(射頻識(shí)別)天線的制造工藝是RFID技術(shù)中至關(guān)重要的一環(huán),它直接影響到RFID標(biāo)簽的性能、成本和應(yīng)用范圍。目前,RFID天線的主要制造工藝包括蝕...
膜厚測(cè)試在MEMS制造工藝中至關(guān)重要,它不僅關(guān)乎工藝質(zhì)量,更直接影響著最終成品的性能。為了確保每一片MEMS器件的卓越品質(zhì),精確測(cè)量薄膜厚度是不可或缺的一環(huán)。
2024-01-08 標(biāo)簽:mems制造工藝測(cè)量?jī)x器 3k 0
化合物半導(dǎo)體器件以Ⅲ-Ⅴ族、Ⅱ-Ⅵ族元素通過(guò)共價(jià)鍵形成的材料為基礎(chǔ),展現(xiàn)出獨(dú)特的電學(xué)與光學(xué)特性。以砷化鎵(GaAs)為例,其電子遷移率高達(dá)8500cm2...
雖然聽起來(lái)可能沒(méi)有極紫外(EUV)光刻那么性感,但對(duì)于確保成功的前沿節(jié)點(diǎn)、先進(jìn)半導(dǎo)體器件制造,濕法晶片清洗技術(shù)可能比EUV更重要,這是因?yàn)槠骷目煽啃院?..
晶圓背面研磨(Back Grinding)工藝簡(jiǎn)介
經(jīng)過(guò)前端工藝處理并通過(guò)晶圓測(cè)試的晶圓將從背面研磨(Back Grinding)開始后端處理。背面研磨是將晶圓背面磨薄的工序,其目的不僅是為了減少晶圓厚度...
目前,在國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體器件制造工藝中,用等離子去膠工藝代替常規(guī)化學(xué)溶劑去膠及高溫氧氣去膠已獲得顯著效果,越來(lái)越引起半導(dǎo)體器件制造者的重視。由于該工藝操作簡(jiǎn)...
陶瓷基板由于其良好的導(dǎo)熱性、耐熱性、絕緣性、低熱膨脹系數(shù)和成本的不斷降低,在電子封裝特別是功率電子器件如IGBT(絕緣柵雙極晶體管)、LD(激光二極管)...
SMT制造工藝中常見(jiàn)的首件檢測(cè)技術(shù)
企業(yè)在做首件測(cè)試時(shí),通常會(huì)根據(jù)不同的生產(chǎn)需求,選擇不同的測(cè)試方法,其中FAI首件測(cè)試系統(tǒng)和AOI測(cè)試是企業(yè)常用的方法,下面我們來(lái)看看兩者的區(qū)別。
2023-08-06 標(biāo)簽:smt制造工藝檢測(cè)技術(shù) 2.6k 0
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