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標(biāo)簽 > 晶圓

晶圓

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晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。

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晶圓技術(shù)

晶圓劃切過程中怎么測(cè)高?

晶圓劃切過程中怎么測(cè)高?

01為什么要測(cè)高晶圓劃片機(jī)是半導(dǎo)體封裝加工技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)重要的加工設(shè)備,目前市場(chǎng)上使用較多的是金剛石刀片劃片機(jī),劃片機(jī)上高速旋轉(zhuǎn)的金剛石劃片刀在使用過程中會(huì)...

2025-06-11 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體封裝劃片機(jī) 1.4k 0

激光干涉法在碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量中的精度提升策略

激光干涉法在碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量中的精度提升策略

摘要 本文針對(duì)激光干涉法在碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量中存在的精度問題,深入分析影響測(cè)量精度的因素,從設(shè)備優(yōu)化、環(huán)境控制、數(shù)據(jù)處理等多個(gè)維度提出精度提升...

2025-08-12 標(biāo)簽:晶圓測(cè)量碳化硅 1.4k 0

晶圓接受測(cè)試的具體內(nèi)容與重要作用

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在智能手機(jī)、電腦和自動(dòng)駕駛汽車等高科技產(chǎn)品的背后,隱藏著一項(xiàng)至關(guān)重要的半導(dǎo)體制造技術(shù)——晶圓接受測(cè)試(Wafer Acceptance Test, WA...

2025-12-10 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶圓晶體管 1.4k 0

在晶圓襯底上生長外延層的必要性

本文從多個(gè)角度分析了在晶圓襯底上生長外延層的必要性。

2025-04-17 標(biāo)簽:CMOS晶圓工藝 1.4k 0

***重要的光學(xué)元件設(shè)計(jì)要點(diǎn)

光刻機(jī)中的投影物鏡一般由凸透鏡、凹透鏡和棱鏡等一系列透鏡組成,其作用是將光源發(fā)出的光束進(jìn)行聚焦和投射。在光刻機(jī)中,投影物鏡將掩模版上的電路圖案縮小到一定...

2023-11-01 標(biāo)簽:晶圓光源光刻機(jī) 1.4k 0

倒裝芯片,挑戰(zhàn)越來越大

倒裝芯片,挑戰(zhàn)越來越大

正在開發(fā)新的凸點(diǎn)(bump)結(jié)構(gòu)以在倒裝芯片封裝中實(shí)現(xiàn)更高的互連密度,但它們復(fù)雜、昂貴且越來越難以制造。

2023-05-23 標(biāo)簽:晶圓封裝內(nèi)存 1.4k 0

倒裝芯片封裝技術(shù)有哪些 倒裝芯片封裝的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)

倒裝芯片封裝技術(shù)有哪些 倒裝芯片封裝的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)

底部填充膠被填充在芯片與基板之間的間隙,來降低芯片與基板熱膨脹系數(shù)不匹配產(chǎn)生的應(yīng)力,提高封裝的穩(wěn)定性。

2023-07-31 標(biāo)簽:晶圓封裝技術(shù)芯片封裝 1.4k 0

晶圓清洗設(shè)備概述

晶圓經(jīng)切割后,表面常附著大量由聚合物、光致抗蝕劑及蝕刻雜質(zhì)等組成的顆粒物,這些物質(zhì)會(huì)對(duì)后續(xù)工序中芯片的幾何特征與電性能產(chǎn)生不良影響。顆粒物與晶圓表面的粘...

2025-06-13 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體晶圓 1.4k 0

晶圓制造過程中的摻雜技術(shù)

晶圓制造過程中的摻雜技術(shù)

在超高純度晶圓制造過程中,盡管晶圓本身需達(dá)到11個(gè)9(99.999999999%)以上的純度標(biāo)準(zhǔn)以維持基礎(chǔ)半導(dǎo)體特性,但為實(shí)現(xiàn)集成電路的功能化構(gòu)建,必須...

2025-10-29 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶圓工藝 1.4k 0

高效太陽能電池器件的清洗技術(shù)

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許多晶圓清洗技術(shù)都在競(jìng)爭高效太陽能電池處理的使用。有些是從集成電路制造中借鑒而來的,在本工作中,對(duì)上述技術(shù)進(jìn)行了定性比較,并在清潔效率和作為預(yù)擴(kuò)散清潔的...

2022-04-21 標(biāo)簽:太陽能晶圓電池 1.3k 0

從晶圓到芯片:劃片機(jī)在 IC 領(lǐng)域的應(yīng)用

從晶圓到芯片:劃片機(jī)在 IC 領(lǐng)域的應(yīng)用

在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,IC芯片的生產(chǎn)是一個(gè)極其復(fù)雜且精密的過程,劃片機(jī)作為其中關(guān)鍵的一環(huán),發(fā)揮著不可或缺的作用。從工藝流程來看,在芯片制造的后端工序中,劃片...

2025-01-14 標(biāo)簽:芯片IC晶圓 1.3k 0

CPU為什么是方形而不是圓形的?

對(duì)硬件有所了解的朋友們幾乎都會(huì)知道,CPU的外形是一塊正方形的金屬厚片,當(dāng)然也有長方形的版本。上表面平整光滑,下表面則有著金屬觸點(diǎn)或針腳。

2023-08-23 標(biāo)簽:芯片cpu晶圓 1.3k 0

智能刻蝕帶來突破性的生產(chǎn)力提升

智能刻蝕帶來突破性的生產(chǎn)力提升

增加電路密度而不必移動(dòng)到新技術(shù)節(jié)點(diǎn)的優(yōu)勢(shì)使得垂直擴(kuò)展成為半導(dǎo)體行業(yè)的強(qiáng)大驅(qū)動(dòng)力。但它也有一系列挑戰(zhàn),其中關(guān)鍵的挑戰(zhàn)便是刻蝕能力。

2022-01-24 標(biāo)簽:NAND晶圓泛林集團(tuán) 1.3k 0

冗余電路保險(xiǎn)措施的導(dǎo)入—備用記憶體的機(jī)制

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在半導(dǎo)體記憶體中,例如一個(gè)1G的DRAM,代表一個(gè)半導(dǎo)體晶片上擁有10億個(gè)能夠記憶1 bit的資訊單位。

2024-04-22 標(biāo)簽:半導(dǎo)體DRAM晶圓 1.3k 0

全面的SiC功率器件行業(yè)概覽

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SiC功率器件市場(chǎng)正處于快速增長階段,特別是在汽車電動(dòng)化趨勢(shì)的推動(dòng)下,其市場(chǎng)規(guī)模預(yù)計(jì)將持續(xù)擴(kuò)大。 根據(jù)Yole Group的報(bào)告,汽車行業(yè)對(duì)SiC功...

2024-04-07 標(biāo)簽:新能源汽車晶圓功率器件 1.3k 0

碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量方法的優(yōu)劣勢(shì)對(duì)比評(píng)測(cè)

碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量方法的優(yōu)劣勢(shì)對(duì)比評(píng)測(cè)

摘要 本文對(duì)碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量的多種方法進(jìn)行系統(tǒng)性研究,深入對(duì)比分析原子力顯微鏡測(cè)量法、光學(xué)測(cè)量法、X 射線衍射測(cè)量法等在測(cè)量精度、效率、成本...

2025-08-09 標(biāo)簽:晶圓測(cè)量碳化硅 1.3k 0

碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測(cè)量的特殊采樣策略

碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測(cè)量的特殊采樣策略

摘要 本文聚焦碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測(cè)量需求,分析常規(guī)采樣策略的局限性,從不均勻性特征分析、采樣點(diǎn)布局優(yōu)化、采樣頻率確定等方面提出特殊采樣策略...

2025-08-27 標(biāo)簽:晶圓測(cè)量碳化硅 1.3k 0

紫外熒光在晶圓表面清潔分析中的應(yīng)用

紫外熒光在晶圓表面清潔分析中的應(yīng)用

引言 紫外熒光(UVF)是一種新穎而通用的檢測(cè)硅片表面金屬雜質(zhì)污染的方法。我們證明了UVF在硅片加工中污染控制的有效性。實(shí)驗(yàn)顯示了室溫下鐵、銅、鎳、鈉等...

2021-12-28 標(biāo)簽:晶圓納米晶片 1.3k 0

封裝設(shè)計(jì)人員需要裝配級(jí)LVS進(jìn)行HDAP驗(yàn)證

封裝設(shè)計(jì)人員需要裝配級(jí)LVS進(jìn)行HDAP驗(yàn)證

領(lǐng)先的晶圓代工廠組裝和封測(cè)代工廠 (OSAT) 已經(jīng)在為其客戶提供高密度先進(jìn)封裝(HDAP) 服務(wù)了。晶圓代工廠/OSAT 目前提供的常見方法包括 2....

2023-07-11 標(biāo)簽:晶圓IC設(shè)計(jì)封裝 1.3k 0

簡儀科技解決方案助力實(shí)現(xiàn)晶圓缺陷的精準(zhǔn)定位

簡儀科技解決方案助力實(shí)現(xiàn)晶圓缺陷的精準(zhǔn)定位

在半導(dǎo)體制造過程中,晶圓的質(zhì)量控制至關(guān)重要。晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵工具之一。該系統(tǒng)主要利用非接觸式激光傳感器對(duì)晶圓進(jìn)行缺陷測(cè)試,通過同步位...

2024-08-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 1.3k 0

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模數(shù)轉(zhuǎn)換器 數(shù)模轉(zhuǎn)換器 數(shù)字電位器 觸摸屏控制器 AFE ADC DAC 電源管理
線性穩(wěn)壓器 LDO 開關(guān)穩(wěn)壓器 DC/DC 降壓轉(zhuǎn)換器 電源模塊 MOSFET IGBT
振蕩器 諧振器 濾波器 電容器 電感器 電阻器 二極管 晶體管
變送器 傳感器 解析器 編碼器 陀螺儀 加速計(jì) 溫度傳感器 壓力傳感器
電機(jī)驅(qū)動(dòng)器 步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器 TWS BLDC 無刷直流驅(qū)動(dòng)器 濕度傳感器 光學(xué)傳感器 圖像傳感器
數(shù)字隔離器 ESD 保護(hù) 收發(fā)器 橋接器 多路復(fù)用器 氮化鎵 PFC 數(shù)字電源
開關(guān)電源 步進(jìn)電機(jī) 無線充電 LabVIEW EMC PLC OLED 單片機(jī)
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Type-C USB 以太網(wǎng) 仿真器 RISC RAM 寄存器 GPU
語音識(shí)別 萬用表 CPLD 耦合 電路仿真 電容濾波 保護(hù)電路 看門狗
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